离子注入方法以及离子注入装置

    公开(公告)号:CN105023822B

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201510148755.0

    申请日:2015-03-31

    Abstract: 本发明提供一种控制离子照射量分布及每单位时间的离子照射量这二者的技术。离子注入装置(10)具备:射束扫描器(26);射束测量部,能够测定晶片位置上的射束扫描方向的离子照射量分布;及控制部(60),将用于往复扫描离子束的控制波形输出到射束扫描器(26)。控制部(60)包括:输出部,将基准控制波形输出到射束扫描器(26);获取部,从射束测量部(50)获取对根据基准控制波形进行往复扫描的离子束而测定出的离子照射量分布;及生成部,利用所获取的离子照射量分布生成补正控制波形。控制部(60)输出被调整为离子照射量分布为目标分布且每单位时间的离子照射量分布为目标值的补正控制波形。

    离子注入装置、射束能量测定装置以及射束能量测定方法

    公开(公告)号:CN104916518B

    公开(公告)日:2018-09-28

    申请号:CN201510104340.3

    申请日:2015-03-10

    Abstract: 本发明提供一种离子注入装置、射束能量测定装置以及射束能量测定方法。在离子注入装置中测定离子束的能量。离子注入装置(100)中的射束能量测定装置(200)具备:平行度测定部(202),在离子注入装置(100)的射束平行化器(36)的下游测定离子束的平行度;及能量运算部(204),由测定出的平行度运算离子束的能量。离子注入装置(100)还可以具备控制部,该控制部根据运算出的离子束的能量控制高能量多段直线加速单元(14),以使离子束具有目标能量。

    离子注入方法以及离子注入装置

    公开(公告)号:CN105023822A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201510148755.0

    申请日:2015-03-31

    Abstract: 本发明提供一种控制离子照射量分布及每单位时间的离子照射量这二者的技术。离子注入装置(10)具备:射束扫描器(26);射束测量部,能够测定晶片位置上的射束扫描方向的离子照射量分布;及控制部(60),将用于往复扫描离子束的控制波形输出到射束扫描器(26)。控制部(60)包括:输出部,将基准控制波形输出到射束扫描器(26);获取部,从射束测量部(50)获取对根据基准控制波形进行往复扫描的离子束而测定出的离子照射量分布;及生成部,利用所获取的离子照射量分布生成补正控制波形。控制部(60)输出被调整为离子照射量分布为目标分布且每单位时间的离子照射量分布为目标值的补正控制波形。

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