半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN112424919A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201980046982.9

    申请日:2019-07-18

    Abstract: 半导体装置具备半导体元件、导线框、导通部件、树脂组成物、以及封固树脂。上述半导体元件具有在第一方向上彼此分离的元件主面及元件背面。上述导线框搭载上述半导体元件。上述导通部件与上述导线框接合,并使上述半导体元件与上述导线框导通。上述树脂组成物将上述导通部件与上述导线框的接合部分覆盖,并且使上述元件主面的一部分露出。上述封固树脂将上述导线框的一部分、上述半导体元件、以及上述树脂组成物覆盖。上述树脂组成物与上述导线框的接合强度优于上述封固树脂与上述导线框的接合强度,并且上述树脂组成物与上述导通部件的接合强度优于上述封固树脂与上述导通部件的接合强度。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111463279B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202010090424.7

    申请日:2015-05-15

    Abstract: 本发明的半导体装置,包括:第1导电型的SiC层;选择性地形成在所述SiC层上的电极;以及形成在所述SiC层上、达到设定在所述SiC层的端部的切割区域的绝缘物,所述绝缘物包含配置在所述电极的下方的电极下绝缘膜及以覆盖该电极下绝缘膜的方式配置的有机绝缘层,所述有机绝缘层与所述SiC层相接的区间的距离(A)为40μm以上,所述电极下绝缘膜上的所述电极与所述SiC层的横向的距离(B)为40μm以上。

    半导体装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111463278B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202010090401.6

    申请日:2015-05-15

    Abstract: 本发明的半导体装置,包括:第1导电型的SiC层;选择性地形成在所述SiC层上的电极;以及形成在所述SiC层上、达到设定在所述SiC层的端部的切割区域的绝缘物,所述绝缘物包含配置在所述电极的下方的电极下绝缘膜及以覆盖该电极下绝缘膜的方式配置的有机绝缘层,所述有机绝缘层与所述SiC层相接的区间的距离(A)为40μm以上,所述电极下绝缘膜上的所述电极与所述SiC层的横向的距离(B)为40μm以上。

    半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111463279A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010090424.7

    申请日:2015-05-15

    Abstract: 本发明的半导体装置,包括:第1导电型的SiC层;选择性地形成在所述SiC层上的电极;以及形成在所述SiC层上、达到设定在所述SiC层的端部的切割区域的绝缘物,所述绝缘物包含配置在所述电极的下方的电极下绝缘膜及以覆盖该电极下绝缘膜的方式配置的有机绝缘层,所述有机绝缘层与所述SiC层相接的区间的距离(A)为40μm以上,所述电极下绝缘膜上的所述电极与所述SiC层的横向的距离(B)为40μm以上。

    半导体装置及SiC半导体装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117936471A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410128343.X

    申请日:2019-07-18

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置及SiC半导体装置。半导体装置具备半导体元件、导线框、导通部件、树脂组成物、以及封固树脂。上述半导体元件具有在第一方向上彼此分离的元件主面及元件背面。上述导线框搭载上述半导体元件。上述导通部件与上述导线框接合,并使上述半导体元件与上述导线框导通。上述树脂组成物将上述导通部件与上述导线框的接合部分覆盖,并且使上述元件主面的一部分露出。上述封固树脂将上述导线框的一部分、上述半导体元件、以及上述树脂组成物覆盖。上述树脂组成物与上述导线框的接合强度优于上述封固树脂与上述导线框的接合强度,并且上述树脂组成物与上述导通部件的接合强度优于上述封固树脂与上述导通部件的接合强度。

    半导体装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111463278A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010090401.6

    申请日:2015-05-15

    Abstract: 本发明的半导体装置,包括:第1导电型的SiC层;选择性地形成在所述SiC层上的电极;以及形成在所述SiC层上、达到设定在所述SiC层的端部的切割区域的绝缘物,所述绝缘物包含配置在所述电极的下方的电极下绝缘膜及以覆盖该电极下绝缘膜的方式配置的有机绝缘层,所述有机绝缘层与所述SiC层相接的区间的距离(A)为40μm以上,所述电极下绝缘膜上的所述电极与所述SiC层的横向的距离(B)为40μm以上。

    半导体装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106463540A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201580025434.X

    申请日:2015-05-15

    Abstract: 本发明的半导体装置,包括:第1导电型的SiC层;选择性地形成在所述SiC层上的电极;以及形成在所述SiC层上、达到设定在所述SiC层的端部的切割区域的绝缘物,所述绝缘物包含配置在所述电极的下方的电极下绝缘膜及以覆盖该电极下绝缘膜的方式配置的有机绝缘层,所述有机绝缘层与所述SiC层相接的区间的距离(A)为40μm以上,所述电极下绝缘膜上的所述电极与所述SiC层的横向的距离(B)为40μm以上。

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