半导体激光器装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101939883A

    公开(公告)日:2011-01-05

    申请号:CN200980104197.0

    申请日:2009-10-16

    Inventor: 川口真生

    CPC classification number: H01S5/22 B82Y20/00 H01S5/2201 H01S5/3203 H01S5/34333

    Abstract: 本发明提供一种半导体激光器装置,该半导体激光器装置具有在基板(11)上所形成的且包含活性层(26)的半导体层层叠体(20)。半导体层层叠体(20)具有:将光射出的前端面;在与前端面交叉的方向上所形成的条状的波导部;在与前端面交叉的方向上延伸的第一区域(20A);与第一区域(20A)上表面的高度不同的第二区域(20B);在第一区域(20A)和第二区域(20B)之间所形成的、且与第二区域(20B)相比表面中的周期性的凹凸的变化小的平坦区域(20C)。并且,光波导路在平坦区域(20C)形成。

    氮化物半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1476642A

    公开(公告)日:2004-02-18

    申请号:CN02803189.X

    申请日:2002-08-21

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明公开了一种具有出色特性的氮化物半导体器件以及该氮化物半导体器件的制造方法,该器件具有通过选择性生长生长成三维形状的器件结构。根据本发明的氮化物半导体器件包括一生长为三维形状的晶体层,该晶体层具有一侧面部分(16s)和一上层部分(16t),其中一电极层(21)经一高电阻区形成于该上层部分上,该高电阻区通过一未掺杂氮化镓层(17)等而形成。由于该高电阻区是设置于上层部分(16t)之上,使得电流绕过该上层部分(16t)的该高电阻区流动,从而形成了避过该上层部分(16t)而主要是沿侧面部分(16s)延伸的电流通路,从而抑制了结晶度差的该上层部分(16t)中的电流。

    半导体发光元件的制造方法

    公开(公告)号:CN1277339C

    公开(公告)日:2006-09-27

    申请号:CN02821679.2

    申请日:2002-10-29

    Abstract: 本发明的半导体发光元件的制造方法包括:在基板(21)的主表面上生长第一氮化物系III-V族化合物半导体层(22)的工序;在第一氮化物系III-V族化合物半导体层上以在宽度方向上规定的周期重复的方式形成具有不同宽度的第一幅度部和第二幅度部的条纹状的掩膜(23)的工序;为覆盖在掩膜和第一氮化物系III-V族化合物半导体层的表面的掩膜之间露出的部分而从该露出部分选择性生长第二氮化物系III-V族化合物半导体层(25)的工序;以及在第二氮化物系III-V族化合物半导体层上实质上叠层包括在掩膜的延长方向上延长的有源层的半导体激光器结构(26~33),由此,在掩膜的第一幅度部(条纹1)和第二幅度部(条纹2)的边界上的部位中获得具有对应于第一幅度部和第二幅度部的宽度差的叠层段差(301)的半导体激光器结构的工序。

    氮化物半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1241272C

    公开(公告)日:2006-02-08

    申请号:CN02803189.X

    申请日:2002-08-21

    Applicant: 索尼公司

    Abstract: 本发明公开了一种具有出色特性的氮化物半导体器件以及该氮化物半导体器件的制造方法,该器件具有通过选择性生长生长成三维形状的器件结构。根据本发明的氮化物半导体器件包括一生长为三维形状的晶体层,该晶体层具有一侧面部分(16s)和一上层部分(16t),其中一电极层(21)经一高电阻区形成于该上层部分上,该高电阻区通过一未掺杂氮化镓层(17)等而形成。由于该高电阻区是设置于上层部分(16t)之上,使得电流绕过该上层部分(16t)的该高电阻区流动,从而形成了避过该上层部分(16t)而主要是沿侧面部分(16s)延伸的电流通路,从而抑制了结晶度差的该上层部分(16t)中的电流。

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