PROCEDE DE DETECTION D’UN OBJET PAR UN CAPTEUR TEMPS DE VOL

    公开(公告)号:FR3140951B1

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:FR2210586

    申请日:2022-10-14

    Abstract: Selon un aspect, il est proposé un procédé de détection d’au moins un objet (OBJ) dans une zone de détection (DET), comprenant : - une émission d’un rayonnement optique par des moyens d’émission (ME) d’un capteur temps de vol (CTV), - une réception par des moyens de réception (MR) du capteur temps de vol (CTV) d’une quantité de photons de rayonnement optique réfléchi par ledit au moins un objet (OBJ), - une mesure par des moyens de mesure (MM) du capteur temps de vol (CTV) d’une quantité de photons (SIGN) et d’une distance (DIST) entre ledit capteur temps de vol (CTV) et ledit au moins un objet (OBJ), et - une analyse de la quantité de photons détectés (SIGN) et de la distance (DIST) associée de façon à déterminer la présence d’au moins un objet (OBJ) dans une zone de détection (DET) du capteur temps de vol (CTV). Figure pour l’abrégé : Fig 1

    Mémoire non volatile sécurisée

    公开(公告)号:FR3132365B1

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:FR2200857

    申请日:2022-01-31

    Inventor: BENHAMMADI JAWAD

    Abstract: Mémoire non volatile sécurisée La présente description concerne un procédé comprenant :- le chargement, à partir d’une mémoire non volatile (104) d’un circuit (102) vers un circuit de calcul (130), d’un premier paramètre de sécurité du circuit et d’un premier code correcteur d’erreur stocké en association avec le premier paramètre de sécurité ;- la vérification, par le circuit de calcul (130), du premier paramètre de sécurité et du premier code correcteur d’erreur afin de déterminer si un ou plusieurs des bits du paramètre de sécurité sont erronés ; et- s’il est déterminé que deux bits du paramètre de sécurité sont erronés, le chargement d’une valeur par défaut du premier paramètre dans un registre (132). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

    Circuit électronique de multiplication et procédé correspondant de multiplication au sein d’un tel circuit

    公开(公告)号:FR3123743A1

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:FR2105795

    申请日:2021-06-02

    Abstract: Après une première phase de multiplication au sein d’un circuit électronique de multiplication (CRT), d’un premier opérande (Ai) par un deuxième opérande (Bi) conduisant à une délivrance successive de mots de résultats de poids faibles de cette première multiplication, on procède au sein dudit circuit (CRT), au cours d’une deuxième phase, à une deuxième multiplication, dite fausse multiplication, du premier opérande par un opérande supplémentaire (OPSi) générant une consommation de courant sensiblement équivalente à celle de la première phase et permettant la délivrance des mots de résultats de poids forts de la multiplication effectuée dans la première phase. Les opérandes supplémentaires ne sont pas tous identiques. Figure pour l’abrégé : Fig 1

    Dispositif photosensible comportant un circuit intégrateur par groupe d’au moins deux éléments photosensibles.

    公开(公告)号:FR3120741A1

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:FR2102275

    申请日:2021-03-09

    Abstract: Le dispositif photosensible comporte une région semiconductrice de circuit périphérique (PRPH), une région semiconductrice de circuit photosensible (PHOT) comportant au moins un groupe d’au moins deux éléments photosensibles (PD1, PD2) configurés pour générer un signal photoélectrique sur un nœud dit critique (NC1, NC2). Le dispositif comporte en outre un circuit intégrateur par groupe d’éléments photosensibles, comportant chacun :- un étage différentiel (EDif1, EDif2) pour chaque élément photosensible du groupe (PD1, PD2), dans la région semiconductrice de circuit photosensible (PHOT), - un étage d’amplification (EAmp), dans la région semiconductrice de circuit périphérique (PRPH), et - une boucle de rétroaction pour chaque élément photosensible (PD1, PD2) du groupe, comprenant un élément capacitif (Cfb1, Cfb2) dans la région semiconductrice de circuit photosensible (PHOT) connecté entre le nœud de sortie de l’étage d’amplification (EAmp) et le nœud critique respectif (NC1). Figure pour l’abrégé : Fig 1

    Système comprenant un module esclave et un module maître

    公开(公告)号:FR3116335A1

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:FR2011671

    申请日:2020-11-13

    Abstract: Le système comprenant un module esclave et un module maître. Le module maître comprend un module de contrôle maître (CONTRM). Le module esclave comprend un module de détermination (DETER). Le module de détermination (DETER) est configuré pour déterminer une valeur d’une grandeur physique du module esclave. Le module de détermination (DETER) est configuré pour recevoir, du module de contrôle maître (CONTRM), une commande de début de comptage et une commande de fin de comptage. Le module de détermination (DETER) est configuré pour déterminer un nombre d’oscillations, entre la réception de la commande de début de comptage et la réception de la commande de fin de comptage, d’un signal oscillant dont une fréquence dépend de la valeur de la grandeur physique. Figure pour l’abrégé : Fig. 1

    Procédé de gestion d’une alimentation de circuit intégré, et circuit intégré correspondant

    公开(公告)号:FR3110718A1

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:FR2005283

    申请日:2020-05-20

    Inventor: JOUANNEAU THOMAS

    Abstract: Le circuit intégré (CI) comporte un premier nœud (N1) destiné à être polarisé à une première tension (V1), un deuxième nœud (N2) destiné à être polarisé à une deuxième tension (V2) et présentant un couplage capacitif non-négligeable (Cp) avec le premier nœud (N1). Un dispositif de gestion d’alimentation (PWM) comprend un élévateur de tension (ELV) configuré pour élever une tension d’alimentation (ALM) et comprenant des étages élévateurs (STG1-STG5) configurés pour générer des tensions intermédiaires (V3, V4) sur des nœuds intermédiaires (N3, N4). Un circuit de détection de compatibilité (CMPTB) est configuré pour détecter une compatibilité entre la deuxième tension (V2) et l’une des tensions intermédiaires (V3, V4), et, si la deuxième tension (V2) est compatible avec une tension intermédiaire (V3), pour coupler (SW3) ledit au moins un deuxième nœud (N2) sur le nœud intermédiaire (N3) compatible. Figure de l’abrégé : figure 1

    Dispositif de génération de signaux radiofréquence en quadrature de phase, utilisable en particulier dans la technologie 5G

    公开(公告)号:FR3107796A1

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:FR2001936

    申请日:2020-02-27

    Abstract: Dispositif électronique intégré comprenant un module mélangeur (MXi) comportant un étage transconducteur tension/courant (ETT) comportant des premiers transistors (N5, N6) et connecté à un étage de mélange (ETM) comportant des deuxièmes transistors (N1-N4), dans lequel l’étage de mélange (ETM) comporte un circuit résistif de dégénérescence (R1-R4) connecté sur les sources des deuxièmes transistors et une entrée d’étalonnage (ECi) connectée aux grilles des deuxièmes transistors et destinée à recevoir une tension d’étalonnage ajustable (VGM), et les sources des premiers transistors (N5, N6) sont directement connectées à un point froid d’alimentation (GND). Figure pour l’abrégé : Fig 3

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