91.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102005006995B4

    公开(公告)日:2008-01-24

    申请号:DE102005006995

    申请日:2005-02-15

    Inventor: BEER GOTTFRIED

    Abstract: The component has plastic housing (6) comprising outer surfaces with an upper side and a lower side. Lower outer contact surfaces (13) are arranged on the lower side and upper outer contact surfaces (14) are arranged on the upper side. The housing has conducting paths, through which the surfaces (13) are electrically connected with the surfaces (14). The paths comprise a contacting path layer from an electrically conducting material. An independent claim is also included for a method for manufacturing a semiconductor component with a plastic housing.

    94.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE10359424A1

    公开(公告)日:2005-07-28

    申请号:DE10359424

    申请日:2003-12-17

    Abstract: The present invention describes a rewiring plate for components with connection grids of between approx. 100 nm and 10 mum, which rewiring plate includes a base body and passages with carbon nanotubes, the lower end of the passages opening out into contact connection surfaces, and the carbon nanotubes forming an electrically conductive connection from the contact connection surfaces to the front surface of the base body.

    Halbleitergehäuse mit zwei Halbleitermodulen und sich seitlich erstreckenden Verbindern und Verfahren zu dessen Herstellung

    公开(公告)号:DE102014116382B4

    公开(公告)日:2022-05-05

    申请号:DE102014116382

    申请日:2014-11-10

    Abstract: Halbleitergehäuse (100; 300), umfassend:einen Formkörper (1; 301), der eine erste Hauptfläche (1A; 301A), eine der ersten Hauptfläche entgegengesetzte zweite Hauptfläche (1B; 301B) und Seitenflächen (IC; 301C) umfasst, welche die erste und zweite Hauptfläche verbinden;ein erstes Halbleitermodul (10), das eine Vielzahl von ersten Halbleiter-Transistorchips (11) und eine erste Einkapselungsschicht (12) umfasst, die über den ersten Halbleiter-Transistorchips (11) angeordnet ist;ein zweites Halbleitermodul (20), das über dem ersten Halbleitermodul (10) angeordnet ist, wobei das zweite Halbleitermodul (20) wenigstens einen zweiten Halbleiterchip (21) und eine zweite Einkapselungsschicht (22) umfasst, die über dem wenigstens einen zweiten Halbleiterchip (21) angeordnet ist; undeine Vielzahl von externen Verbindern (30; 325, 326), die sich durch eine oder mehrere der Seitenflächen (1C; 301C) des Formkörpers (1; 301) erstrecken, wobei der Formkörper (1; 301) durch die zweite Einkapselungsschicht (22) gebildet wird;eine Vielzahl von Halbleiter-Diodenchips (14); undeine Metallisierungsschicht (16), welche auf der ersten Einkapselungsschicht (12) aufgebracht ist und eine Vielzahl von metallischen Bereichen (16A) aufweist, welche elektrische Verbindungen zwischen ausgewählten der Halbleiter-Transistorchips (11) und der Halbleiter-Diodenchips (14) bilden.

    Ein Leistungshalbleitermodul mit einem Direct Copper Bonded Substrat und einem integrierten passiven Bauelement und ein integriertes Leistungsmodul sowie ein Verfahren zur Herstellung des Leistungshalbleitermoduls

    公开(公告)号:DE102015118633B4

    公开(公告)日:2021-05-06

    申请号:DE102015118633

    申请日:2015-10-30

    Abstract: Integriertes Leistungsmodul (100), aufweisend:ein Leistungshalbleitermodul (102), aufweisend:einen ersten, auf eine metallisierte Seite (108, 118) eines Isolationssubstrats (110) aufgebrachten Leistungshalbleiterchip (106);eine erste Isolationsschicht (112), welche den ersten Leistungshalbleiterchip (106) einkapselt; undeine erste strukturierte Metallisierungsschicht (114) auf der ersten Isolationsschicht (112) und durch mindestens eine erste Mehrzahl elektrischer Leiterbohrungen (116), die sich durch die erste Isolationsschicht (112) erstrecken, mit dem ersten Leistungshalbleiterchip (106) elektrisch verbunden;eine zweite Isolationsschicht (124) auf dem Leistungshalbleitermodul (102);eine zweite Mehrzahl elektrischer Leiterbohrungen (128), die sich durch die zweite Isolationsschicht (124) zur ersten strukturierten Metallisierungsschicht (114) erstrecken; undein erster, in der zweiten Isolationsschicht (124) oder in einer Isolationsschicht über der zweiten Isolationsschicht (124) eingekapselter Logik- oder passiver Halbleiterchip (130),wobei der erste Logik- oder passive Halbleiterchip (130) durch mindestens die erste strukturierte Metallisierungsschicht (114) und die erste Mehrzahl elektrischer Leiterbohrungen (116) mit dem ersten Leistungshalbleiterchip (106) oder mit einem anderen, im integrierten Leistungsmodul (100) angeordneten Halbleiterchip elektrisch verbunden ist,wobei der erste Logik- oder passive Halbleiterchip (130) ein erster Treiber-Halbleiterchip ist, der konfiguriert ist, ein Schalten des ersten Leistungshalbleiterchips (106) zu steuern.

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