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公开(公告)号：CN117406203A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202310512732.8
申请日：2023-05-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 伊田泰一郎
IPC: G01S7/52
Abstract: 一种超声波测定装置、方法、程序、记录介质，自动对准声透镜的焦点。超声波测定装置(1)具备：透镜(10c)，其接收从测定对象(2)输出的超声波(P2)；超声波测定部(12)，其与时间对应地测定透镜(10c)接收到的超声波(P2)；超声波判定部(14)，其在从测定对象(2)输出超声波(P2)之后经过了为了行进透镜(10c)的焦距(fd)所花费的时间的经过时刻，判定超声波测定部(12)的测定结果中是否包含超声波(P2)；透镜移动部(16)，其使透镜(10c)移动，使得判定为超声波测定部(12)的测定结果中包含超声波(P2)；以及测定用头(10)，其输出超声波脉冲(P1)，超声波(P2)是超声波脉冲(P1)被测定对象(2)反射后的超声波。
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公开(公告)号：CN116774750A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310061891.0
申请日：2023-01-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的温度调整中的响应性的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(8)具备：热交换构件(82)，其与DUT(300)接触；第八流通孔(821)，其通过热交换构件(82)的内部；以及连接部(817)，其使流体的流动回转而形成回转流(SF2)，将回转流(SF2)供给至第八流通孔(821)，回转流(SF2)是以第八流通孔(821)的中心轴(CA5)为中心而沿着第八流通孔(821)的内周面(821e)回转的制冷剂的流动。
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公开(公告)号：CN111743548B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202010128412.9
申请日：2020-02-28
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: A61B5/1455
Abstract: 本发明提供一种光声波测定装置，其通过对测定对象照射某波长的脉冲光后立刻照射其它波长的脉冲光来行进光声波测定。光声波测定装置具备：超声波脉冲输出部，其输出超声波脉冲；激光输出装置，其输出激光；测定部，其根据超声波脉冲在测定对象反射的反射波以及通过激光在测定对象产生的光声波来对测定对象进行测定。激光输出装置具备：激励激光器，其输出预定波长的激光来作为预定的频率的第一脉冲；声光调制器，其接受第一脉冲，对每一个第一脉冲将光路决定为多个光路中的某一个光路来进行输出；以及波长变化部，其接受在多个光路中的各个光路行进的行进光，使其变化分别不同的波长来进行输出。
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公开(公告)号：CN111796177B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202010008891.0
申请日：2020-01-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
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公开(公告)号：CN115201583A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210285755.5
申请日：2022-03-22
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 提供一种能够将天线单体或带有天线的设备以OTA(OverTheAir)进行评价的试验装置。试验装置(100)将天线元件(12)或具备天线元件(12)的设备作为DUT(10)以OTA进行检查。前端单元(200)包括与DUT(10)的天线元件(12)的辐射面上的多个地点对置设置的多个电场检测元件(212)。多个电场检测元件(212)能够在各自对应的地点处一齐检测出DUT(10)形成的电场。测试器主体(110)从前端单元(200)接收多个检测信号来对DUT(10)进行评价。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN111458576B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN201910851033.X
申请日：2019-09-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种能够实现老化板内的温度分布的均匀化的老化板及老化装置。老化板(20)具备：老化板主体(40)，其具有多个插座(30)、安装有插座(30)的上表面(41)、以及与上表面(41)相反一侧的下表面(42)；加强框(90)，其与下表面(42)接触；底盖(60)，其与加强框(90)接触；导热板(80)，其介于老化板主体(40)与底盖(60)之间；以及导热片(70)，其将老化板主体(40)与导热板(80)热连接，加强框(90)将导热板(80)朝向导热片(70)按压。
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公开(公告)号：CN109387800B
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN201810770844.2
申请日：2018-07-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种磁传感器试验装置，所述磁传感器试验装置能够防止由于向磁传感器施加的热量，电磁铁的性能发生大的变化。在磁传感器试验装置中，具备向磁传感器施加磁场的电磁铁(50)、(60)、向磁传感器局部施加热量来调整磁传感器的温度的调温器(30)、(40)、以及控制电磁铁(50)、(60)及调温器(30)、(40)的控制部，在由调温器(30)、(40)向磁传感器施加热量的同时并由电磁铁(50)、(60)向磁传感器施加了磁场的状态下，控制部对磁传感器进行试验。
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公开(公告)号：CN114035009A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202110690329.5
申请日：2021-06-22
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明提供一种能够实现运转率的提高和占有空间的缩小的电子部件处理装置。对DUT(200)进行处理的电子部件处理装置(10)具备分别安装与测试器(7)连接的测试头(5A～5D)的多个接触单元(60A～60D)，各个接触单元(60A～60D)能够与其他接触单元(60A～60D)独立地调整DUT(200)的温度，并且能够向设置于测试头(5A～5D)的插座(6)按压DUT(200)，电子部件处理装置(10)构成为能够增设或减设接触单元(60A～60D)。
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公开(公告)号：CN113960386A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202110556898.0
申请日：2021-05-21
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明的课题在于，提供一种能够针对用户的要求以低成本使规格最佳化的电子部件处理装置。对DUT(200)进行操作的电子部件处理装置(10)具备：多个接触单元(60A～60D)，在将DUT搭载于测试托盘(110)的状态下，向设置于与测试器(7)连接的测试头(5A～5D)的插座(6)分别按压DUT；多个移载单元(20A、20B)，分别具有将DUT搭载于测试托盘或者从测试托盘取出DUT的DUT移载部(40A、40B)；以及托盘输送单元(50)，在接触单元与移载单元之间输送测试托盘，电子部件处理装置构成为能够增设或减设接触单元和移载单元中的至少一者。
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