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公开(公告)号：CN103415766A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201280010736.6
申请日：2012-04-03
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N23/2076 , G01N2223/076
Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。
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公开(公告)号：CN1932493B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200610127560.9
申请日：2006-09-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01B15/02
CPC classification number: G01B15/02 , G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，其可充分正确地对镀合金化熔融锌的钢板的组分沿深度方向不均匀的镀膜的附着量和组分进行分析。该装置包括X射线源(7)，该X射线源(7)按照规定的入射角(φ)，对试样(1)照射1次X射线(6)；检测机构(9)，该检测机构(9)测定按照规定的取出角(α，β)，由试样(1)产生的荧光X射线(8)的强度，在上述入射角(φ)和取出角(α，β)的组合中，以至少1者不同的2个组合，测定荧光X射线(8)的强度，针对由荧光X射线(8)的强度为增加测定对象膜的附着量时的上限值的99％的附着量表示的测定深度，按照上述2个组合的测定深度均大于上述镀膜(3)的附着量的方式，设定各组合的入射角(φ)和取出角(α，β)。
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公开(公告)号：CN117460950B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202280040950.X
申请日：2022-03-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/2209
Abstract: 本发明的X射线荧光分析装置包括使用FP方法的定量机构(13)，该定量机构(13)进行：强度比装置灵敏度曲线制作步骤，其中，制作强度比装置灵敏度曲线，该强度比装置灵敏度曲线为作为对比主成分的测定强度与基准主成分的测定强度之比的测定强度比、与作为对比主成分的理论强度与基准主成分的理论强度之比的理论强度比之间的相关性；强度比换算步骤，其中，基于上述强度比装置灵敏度曲线，将上述测定强度比换算为理论强度标度，作为换算测定强度比；含有率比更新步骤，其中，基于换算测定强度比来更新含有率比，上述含有率比是对比主成分的含有率与基准主成分的含有率之比；以及含有率更新步骤，其中，基于最新的含有率比来更新各成分的含有率。
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公开(公告)号：CN113692533A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN201980094805.8
申请日：2019-12-06
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01B15/02 , G01N23/2209
Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置所具有的计数时间计算机构(13)以改变使其测定强度变化的测定射线的方式，反复进行下述的流程，即，通过规定的定量运算方法，采用一个标准样品的参考强度，求出每个定量值，并且求出仅使一条测定射线的测定强度仅以规定量而变化的场合的每个定量值，将每个定量值变化与规定量的比作为定量值变化与强度比而求出，反复进行该流程，采用像这样而针对全部的测定射线求出的定量值变化与强度比，根据相对每个定量值而指定的定量精度，计算每条测定射线的计数时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109196340B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201780028012.7
申请日：2017-08-31
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
Abstract: 本发明的波长分散型荧光X射线分析装置包括：位置敏感型检测器(10)，该位置敏感型检测器(10)通过对应的检测元件(7)，检测不同的分光角度的二次X射线(41)的各强度；测定波谱显示机构(14)，该测定波谱显示机构(14)将检测元件(7)的排列方向的位置和检测元件的检测强度的关系作为测定波谱而显示于显示器(15)中；检测区域设定机构(16)，该检测区域设定机构(16)设定峰值区域和本底区域；定量机构(17)，该定量机构(17)根据峰值区域的峰值强度、本底区域的本底强度与本底补偿系数，计算作为净强度的测定对象的荧光X射线的强度，进行定量分析。
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公开(公告)号：CN110312928A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201880012059.9
申请日：2018-03-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
Abstract: 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。
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公开(公告)号：CN107209132B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201680006771.9
申请日：2016-08-26
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
CPC classification number: G01N23/223 , G01N23/207 , G01N23/2076 , G01N23/2209 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的扫描型的荧光X射线分析装置包括定量分析条件设定机构(13)，该机构根据标准试样(14)的定性分析结果和半定量分析结果，针对预先确定的试样组成元素以外的新检测元素，根据荧光X射线相对分析对象元素的分析值的吸收激励影响度、与干扰线相对分析对象元素的分析线的重叠影响度，判断是否应作为分析对象元素来追加。
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公开(公告)号：CN118401829A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202280080026.4
申请日：2022-11-09
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置包括通过FP法计算试样(13)中的元素含有率的计算机构(10)，为了考虑不测定荧光X射线的非测定元素的影响，对于该计算机构(10)，作为由检测机构(9)测定强度的散射线，使用波长为0.05nm以上0.075nm以下的短波长侧的一次X射线的散射线以及波长为0.11nm以上0.23nm以下的长波长侧的一次X射线的散射线，同时，对于非测定元素中除氢以外的元素，假定平均原子序数，对于氢，假定其含有率。
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公开(公告)号：CN114787616B
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202080086958.0
申请日：2020-12-04
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明提供能考虑几何效应的影响进行高精度的定量分析的定量分析方法、定量分析程序和荧光X射线分析装置。一种定量分析方法包括：用于取得被设定为各分析成分含量的代表的代表组成的步骤、用于取得代表组成的分析成分的含量每个成分仅变更规定含量的多个比较组成的步骤、用于使用FP法计算表示具有预设的厚度并由代表组成和比较组成表示的虚拟样品在几何效应的影响下检测的荧光X射线的强度的检测强度的检测强度计算步骤以及用于基于检测强度而计算每个分析成分的基体校正系数的步骤，通过使用包含成分i的检测强度Ii、用于表示成分i的质量分率的Wi、用于表示共存成分j的质量分率的Wj、常数a、b和c以及用于表示成分i的共存成分j的基体校正系数的αj的校正曲线公式来计算αj。
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