질화규소계 소결체의 제조방법
    12.
    发明授权
    질화규소계 소결체의 제조방법 失效
    生产氮化硅烧结体的方法

    公开(公告)号:KR100161596B1

    公开(公告)日:1998-11-16

    申请号:KR1019950035453

    申请日:1995-10-14

    CPC classification number: C04B35/584

    Abstract: 질화규소계소결체의 제조방법은, 해당소결체의 가공소재를 그 내부마찰이 특이피크의 최대치를 보이는 -150℃∼+150℃의 온도범위내에서 열처리하는 방법으로 이루어진다. 본 발명에 이용되는 대표예는, 회토류원소와 알루미늄으로 이루어진 군에서 선택한 적어도 1종의 5∼15중량%(산화물 환산), Mg, Ti, Ca로 이루어진 군에서 선택한 적어도 1종의 0.5∼5중량%(산화물 환산), 및 잔부 Si
    3 N
    4 로 구성된 혼합분말을 얻기 위해 질화규소분말을 소결조제분말과 혼합하고, 성형하여 얻은 성형체를 질소함유분위기중에서 1500∼1700℃에서 연결하는 것에 의해 제조하는 방법이다.

    액정 보호판 및 액정 보호판의 제조 방법
    15.
    发明公开
    액정 보호판 및 액정 보호판의 제조 방법 审中-实审
    制造液晶保护板和液晶保护板的方法

    公开(公告)号:KR1020170048402A

    公开(公告)日:2017-05-08

    申请号:KR1020177006729

    申请日:2015-08-28

    CPC classification number: C04B35/443 G02F1/1333

    Abstract: 우수한강도를가지면서제조비용이억제된, 곡면을포함하는형상을갖는액정보호판및 그액정보호판의제조방법을제공한다. 스피넬소결체로형성되는액정보호판으로서, 상기스피넬소결체는평균입경이 10 ㎛이상 100 ㎛이하이며, 상기액정보호판은곡면을포함하는형상을가진다.

    Abstract translation: 本发明提供一种抑制制造成本的同时具有强度优异的曲面形状的液晶屏蔽罩及其制造方法。 其中,尖晶石烧结体的平均粒径为10μm以上且100μm以下,并且液晶保护板具有包括曲面的形状。

    III족 질화물 결정 기판과 그 제조 방법 및 III족질화물 반도체 디바이스
    17.
    发明公开
    III족 질화물 결정 기판과 그 제조 방법 및 III족질화물 반도체 디바이스 无效
    III族氮化物晶体基板,其制造方法和III族氮化物半导体器件

    公开(公告)号:KR1020070001261A

    公开(公告)日:2007-01-03

    申请号:KR1020067023021

    申请日:2005-03-30

    CPC classification number: C30B9/08 C30B9/00 C30B11/00 C30B11/06 C30B29/403

    Abstract: A method for producing a group III nitride crystal substrate comprising a step for introducing an alkali metal element-containing substance (1), a group III element-containing substance (2) and a nitrogen element-containing substance (3) into a reaction container (51), a step for forming a melt (5) containing at least an alkali metal element, group III element and nitrogen element in the reaction container (51), and a step for growing a group III nitride crystal (6) from the melt (5) is characterized in that the alkali metal element-containing substance (1) is handled within a dry container (100) wherein the moisture concentration is controlled to 1.0 ppm or less at least during the step wherein the alkali metal element-containing substance (1) is introduced into the reaction container (51). Consequently, there can be obtained a group III nitride crystal substrate having a small light absorption coefficient. Also disclosed is a group III nitride semiconductor device. ® KIPO & WIPO 2007

    Abstract translation: 一种制造III族氮化物晶体基板的方法,包括将含碱金属元素的物质(1),含III族元素的物质(2)和含氮元素的物质(3)引入到反应容器 (51),在反应容器(51)中形成至少含有碱金属元素,III族元素和氮元素的熔融物(5)的工序,以及从所述反应容器(51)中生长III族氮化物晶体(6)的工序 熔融物(5)的特征在于,含碱金属元素的物质(1)在其中将水分浓度控制在1.0ppm以下的干燥容器(100)内进行处理,至少在其中含有碱金属元素的物质 将物质(1)引入反应容器(51)中。 因此,可以获得具有小的光吸收系数的III族氮化物晶体基板。 还公开了III族氮化物半导体器件。 ®KIPO&WIPO 2007

    질화규소게 소결체 및 그 제조 방법
    19.
    发明公开
    질화규소게 소결체 및 그 제조 방법 无效
    硅硅硅及其制造方法

    公开(公告)号:KR1019950025004A

    公开(公告)日:1995-09-15

    申请号:KR1019950002302

    申请日:1995-02-09

    Abstract: 질화규소 및/또는 사이알론을 85중량%이상 함유하고 상대밀도가 98%이상인 질화규소게 소결체에 있어서, 상기 소결체의 2차원단면상에서 측정한 질화규소 및/또는 사이알론입자의 최장직경이 5㎛미만이고, 최장직경이 0.7㎛이하인 입자가 모든 입자의 전체입자면적의 40∼70%를 점유하는 것을 특징으로 한다. 또, 4A족원소의 질화물을 중성분으로 하는 화합물로 이루어진 크기 500nm이하의 미립자가 상기 소결체증에 분산되어 있어도 된다. 또한 질화규소게 소결체는, 소정의 재료분말을 혼합하고, 이 혼합물을 성형한 후, 이 성형체를, 그 결과 얻어지는 소결체에 있어서 상대밀도가 98%이상이 되도록 소정조건하에서 1차 및 2차소결을 행함으로서 제조할 수 있다.

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