公开(公告)号：DE10231776B4

公开(公告)日：2021-07-22

申请号：DE10231776

申请日：2002-07-13

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B21/00 ,  G01J3/06 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06 ,  G02B21/16

Abstract: Verfahren zur Scanmikroskopie, umfassend folgende Schritte:• Beleuchten einer Probe (23), die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit Beleuchtungslicht,• Detektieren des von Rasterpunkten der Probe (23) ausgehenden Detektionslichtes mit einem Spektraldetektor (29), der für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt,• Ermitteln eines Amplitudenwertes zu jedem Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten und• Übertragen der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul (39), dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine in der Probe (23) enthaltene Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul (35) für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten ermittelt wird, und• nach der Übertragung der Amplitudenwerte an das Verarbeitungsmodul (39) die Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul (39) aus den übermittelten Amplitudenwerten rekonstruiert werden.

公开(公告)号：DE102010007727A1

公开(公告)日：2011-08-18

申请号：DE102010007727

申请日：2010-02-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER DR ,  SEYFRIED VOLKER DR

IPC: G02B21/00

Abstract: Eine Vorrichtung in Form eines Scan-Mikroskops hat eine Lichtquelle (42), die einen Beleuchtungslichtstrahl (32) aussendet. Eine Fokussieroptik (34) fokussiert den Beleuchtungslichtstrahl (32) auf einen zu untersuchenden Bereich einer Probe (36). Eine Aktoranordnung bewegt die Fokussieroptik (34) gemäß einem vorgegebenen Abtastmuster quer zu einer Mittelachse des Beleuchtungslichtstrahls (32) und/oder relativ zu einem Gehäuse einer Baueinheit (20) die die Fokussieroptik (34) umfasst.

公开(公告)号：DE102009049050B4

公开(公告)日：2011-07-21

申请号：DE102009049050

申请日：2009-10-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WARKEN FLORIAN DIPL PHYS ,  WIDZGOWSKI BERND DIPL ING ,  BIRK HOLGER DR ,  SEYFRIED VOLKER DR

IPC: G02B21/06

Abstract: Zum Stabilisieren einer Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls (40) für ein Scan-Mikroskop (41) wird der Beleuchtungslichtstrahl (40) innerhalb eines Scanfeldes (80) abgelenkt. Das Scanfeld (80) hat zumindest ein Bildfeld (B), in dem ein Probenbereich einer Probe (58) optisch abtastbar ist, und das zumindest einen Blindbereich (X, V, R), in dem keine optische Abtastung der Probe (58) erfolgt. Wenn der Beleuchtungslichtstrahl (40) in Richtung des Blindbereichs (X, V, R) abgelenkt wird, wird ein Messwert (MESS) erfasst, der repräsentativ für die Lichtleistung des auf die Probe (58) treffenden Beleuchtungslichtstrahls (40) ist. Abhängig von dem Messwert (MESS) wird die Lichtleistung des Beleuchtungslichtstrahls (40) eingestellt.

公开(公告)号：DE502006008644D1

公开(公告)日：2011-02-17

申请号：DE502006008644

申请日：2006-09-18

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B21/00

公开(公告)号：DE50114274D1

公开(公告)日：2008-10-16

申请号：DE50114274

申请日：2001-06-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR

IPC: G02B6/00 ,  G02B21/00 ,  G02B5/00 ,  G02B5/04 ,  G02B5/18 ,  G02B5/22 ,  G02B6/02 ,  G02B6/12 ,  G02B6/122 ,  G02B6/255 ,  G02B21/06 ,  G02B27/00 ,  G02F1/35 ,  G02F1/39 ,  H01S3/00 ,  H01S3/16

Abstract: The arrangement has a scanning microscope e.g. confocal microscope, and a laser formed as a pulsed laser (1). An optical component is positioned between the laser and a lens (12), where light generated by the laser is spectrally processed by a unique cycle such that a spectral illumination light is emitted from the laser. An optical fiber (20) forms the optical component, and is comprised of photonic-bad-gap material. An optical diode is provided between the laser and fiber for suppressing back reflection of light rays originated from ends of the fiber.

公开(公告)号：DE50210876D1

公开(公告)日：2007-10-25

申请号：DE50210876

申请日：2002-07-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  ENGELHARDT JOHANN

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/18 ,  G02B21/06 ,  G02F1/33

公开(公告)号：DE10042114A1

公开(公告)日：2002-03-14

申请号：DE10042114

申请日：2000-08-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B26/06 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02F1/01 ,  H01S3/00

Abstract: The object of the patent is to reduce the coherence length of the light beam. For this purpose the phase position of the light field is varied with a demodulator e.g. an electro-optical modulator placed in the path of the light beam, to widen the spectral line width of the laser beam achieved by applying a periodic or statistical signal to the modulator.

公开(公告)号：DE102004038321B4

公开(公告)日：2022-05-25

申请号：DE102004038321

申请日：2004-08-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BÖHM INGO ,  BIRK HOLGER DR ,  LEIMBACH VOLKER ,  SEIFERT ROLAND

IPC: G02B5/00 ,  G02B5/10 ,  G02B21/00

Abstract: Lichtfalle (1) mit einem Hohlelement (3) zur Aufnahme von unerwünschtem Licht, wobei ein in das Hohlelement (3) mündendes Zuführelement (5) vorgesehen ist, das das unerwünschte Licht in das Hohlelement (3) leitet, dadurch gekennzeichnet, dass das Hohlelement (3) zylinderförmig ausgebildet ist, und dass jede von der Mittelachse des Hohlelements (3) ausgehende gedachte Halbgerade die Innenfläche (7) des Hohlelements (3) und/oder die Innenfläche (9) des Zuführelements (5) schneidet.

公开(公告)号：DE102004058565B4

公开(公告)日：2022-04-21

申请号：DE102004058565

申请日：2004-12-03

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR ,  FEHRER DIRK-OLIVER ,  KRESS CLAUS

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/28 ,  G02B26/10 ,  H05K7/20

Abstract: Scanmikroskop mit einer Scaneinrichtung (1), einer Detektionseinrichtung (2), einer Elektronik (3) zum Betreiben des Scanmikroskops und einer Kühleinrichtung (4) für die Scaneinrichtung (1) und die Detektionseinrichtung (2), wobei die Kühleinrichtung (4) mit einem flüssigen Kühlmedium betreibbar ist, wobei die Kühleinrichtung (4) ein oder mehrere an zu kühlende Stellen der Scaneinrichtung (1) und der Detektionseinrichtung (2) angekoppelte Module oder Kühlmodule (6) aufweist und wobei das oder die Module oder Kühlmodule (6) mittels des Kühlmediums durchströmbar sind.

公开(公告)号：DE10111824B4

公开(公告)日：2017-04-06

申请号：DE10111824

申请日：2001-03-13

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B26/08 ,  G02B7/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/24

Abstract: Verfahren zum Justieren von mindestens einem Abschnitt eines Lichtstrahls (1) in einem Mikroskop (15), wobei der Abschnitt durch ein justierbares optisches Bauteil (76) und einer Position, an der eine Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, definiert ist, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte: – Anbringen der Einrichtung (70) zum Justieren an dem Mikroskop (15) an eine von mehreren möglichen Positionen (160, 161, 162, 163) für die Einrichtung (70) zum Justieren; – Einkoppeln des Lichtstrahls (1) des Mikroskops (15) an der Position, an der die Einrichtung (70) zum Justieren angebracht ist, in die Einrichtung (70) zum Justieren des Lichtstrahls (1), wobei ein Einkoppellichtstrahl (9) in der Einrichtung (70) erzeugt wird; – Lenken des Einkoppellichtstahls (9) auf mindestens zwei Photodetektoren (10, 22), wobei die Photodetektoren (10, 22) jeweils unterschiedlich von der Position beabstandet sind; – Ermitteln der Abweichung des Einkoppellichtstahls (9) von einer Soll-Position (72) aus den elektrischen Signalen der Photodetektoren (10, 22) und – Verstellen des optischen Bauteils (76) über mindestens ein Stellelement (78), um den Einkoppellichtstahl (9) in die Soll-Position (72) zu bringen.