Abstract:
본 발명의 일 실시예와 관련된 검출용 프로브는 전자기파를 생성하는 광원과, 광원으로부터 입사되는 전자기파의 경로를 변경시키는 경로 변경부와, 경로 변경부에 의해 경로가 변경된 전자기파를 이용하여 피검물의 적어도 일부분에 베셀 빔이 형성되도록 하는 베셀 빔 형성부와, 상기 피검물로부터의 전자기파의 세기를 검출하는 검출부 및, 상기 광원, 상기 경로 변경부, 상기 베셀 빔 형성부 및 상기 검출부를 내부에 구비한 하우징을 포함한다.
Abstract:
본 발명은 테라헤르츠파를 이용하여 비파괴적인 방법으로 식품 내에 포함된 이물질을 검사하는 등 물체를 검사할 수 있는 장치를 개시한다. 본 발명에 따른 테라파를 이용한 물체 검사 장치는, 테라파를 생성하여 공급하는 테라파 공급부; 회전하면서, 상기 테라파 공급부에 의해 공급된 테라파를 소정 각도 범위로 고속으로 반사하는 스캐닝 미러; 상기 스캐닝 미러에 의해 반사된 테라파를 평행하게 반사하여 피검물에 입사시키는 스캐닝 콜리메이팅부; 및 상기 피검물에 입사된 테라파를 수집하여 검출하는 테라파 검출부를 포함한다.
Abstract:
본 발명은 살모넬라 검출방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 살모넬라로 감염된 시료를 배양하는 단계; 상기 배양된 살모넬라의 배양액에서 DNA를 분리하는 단계; 및 상기 분리된 DNA를 이용하여 Real Time PCR로 살모넬라를 검출하는 단계를 포함하는 살모넬라 검출방법에 있어서, 상기 배양하는 단계가 비선택적 전배양으로 이루어지는 살모넬라 검출방법에 관한 것이다. 본 발명에 의한 살모넬라의 검출방법은 살모넬라 검출을 위한 전배양 시간을 단축하여 살모넬라의 신속검출을 가능하게 할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: An object inspecting device using terahertz waves is provided to rapidly and accurately inspect an object to be inspected with a non-destructive mode. CONSTITUTION: An object inspecting device using terahertz waves (1) includes a terahertz wave supply unit, a scanning mirror (200), a scanning collimating unit (300), and a terahertz wave detecting unit. The terahertz wave supply unit generates and supplies terahertz waves. The scanning mirror reflects the terahertz waves supplied by the terahertz wave supply unit at high speed within a range of a predetermined angle while being rotated. The scanning collimating unit reflects the reflected terahertz wave to be parallel, thereby making the terahertz wave incident into an object (10) to be inspected. The terahertz wave supply unit collects the terahertz wave incident into the object to be inspected, thereby detecting the terahertz waves.