-
公开(公告)号:GB2495828B
公开(公告)日:2013-09-25
申请号:GB201218439
申请日:2012-10-15
Applicant: IBM
Inventor: SHAHRJERDI DAVOOD , HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , BEDELL STEPHEN , SADANA DEVENDRA , SHAHIDI GHAVAM G
IPC: H01L31/0725
Abstract: A multi-junction III-V photovoltaic device is provided that includes at least one top cell comprised of at least one III-V compound semiconductor material; and a bottom cell in contact with a surface of the at least one top cell. The bottom cell includes a germanium-containing layer in contact with the at least one top cell, at least one intrinsic hydrogenated silicon-containing layer in contact with a surface of the germanium-containing layer, and at least one doped hydrogenated silicon-containing layer in contact with a surface of the at least one intrinsic hydrogenated silicon-containing layer. The intrinsic and doped silicon-containing layers can be amorphous, nano/micro-crystalline, poly-crystalline or single-crystalline.
-
公开(公告)号:DE102012221294A1
公开(公告)日:2013-08-29
申请号:DE102012221294
申请日:2012-11-21
Applicant: IBM
Inventor: BEDELL STEPHEN W , HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SADANA DEVENDRA K , SHAHIDI GHAVAM G , SHAHRJERDI DAVOOD
Abstract: Ein Verfahren zum Bilden einer Aktivmatrix-Leuchtdioden(LED)-Anordnung beinhaltet das Entfernen einer ursprünglich auf ein Basissubstrat aufgewachsenen Schicht eines anorganischen LED-Materials von diesem; und das Verbinden der entfernten Schicht des anorganischen LED-Materials mit einem Aktivmatrix-Dünnschichttransistor(TFT)-Backplane-Array.
-
23.
公开(公告)号:DE102013200547A1
公开(公告)日:2013-08-01
申请号:DE102013200547
申请日:2013-01-16
Applicant: IBM
Inventor: HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SADANA DEVENDRA K , SHAHIDI GHAVAM G , SHAHRJERDI DAVOOD
Abstract: Es werden verbesserte Halbleitersubstrate bereitgestellt, die ein Material mit breiter Bandlücke zwischen dem Kanal und dem Isolator verwenden. Ein Halbleitersubstrat weist eine Kanalschicht, die ein III-V-Material aufweist; eine Isolatorschicht; und ein Material mit breiter Bandlücke zwischen der Kanalschicht und der Isolatorschicht auf, wobei ein Leitungsbandoffset (&Dgr;Ec) zwischen der Kanalschicht und dem breiten Bandlückenmaterial zwischen 0,05 eV und 0,8 eV liegt. Die Kanalschicht kann zum Beispiel In1-xGaxAs oder In1-xGaxSb aufweisen, wobei x von 0 bis 1 variiert. Das Material mit breiter Bandlücke kann zum Beispiel In1-yAlyAs, In1-yAlyP, Al1-yGayAs oder In1-yGayP aufweisen, wobei y von 0 bis 1 variiert.
-
公开(公告)号:GB2496970A
公开(公告)日:2013-05-29
申请号:GB201220562
申请日:2012-11-15
Applicant: IBM
Inventor: HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SHAHRJERDI DAVOOD , BEDELL STEPHEN , SADANA DEVENDRA , SHAHIDI GHAVAM G
Abstract: A method of forming an active matrix, light emitting diode (LED) array includes removing, from a base substrate, a layer of inorganic LED material 804 originally grown thereupon; and bonding the removed layer of inorganic LED material 804 to an active matrix, thin film transistor (TFT) backplane array 802. Also disclosed is the active matrix light emitting diode array produced from said method. The inorganic LED material 804 may be removed from the base substrate by a method of spalling, wherein at least one or more stress layers are formed on the inorganic LED material layer, a flexible handle layer is formed on the one or more stress layers, and applying a force to the flexible handle layer so as to separate the stress layer and at least a portion of the inorganic LED material layer from the base substrate. The inorganic LED material layer 804 may be bonded to the active matrix TFT backplane array 802 by a process of cold welding. The inorganic LED material layer 804 may be patterned once bonded to the active matrix TFT backplane array 802, where a further inorganic LED material layer 804b can be bonded to the backplane array 802 to produce an array of LED elements 804a,804b, wherein the further inorganic LED material layer 804b is produced by the same method as the first inorganic LED material layer 804a.
-
公开(公告)号:DE112020006263T5
公开(公告)日:2022-09-29
申请号:DE112020006263
申请日:2020-12-04
Applicant: IBM
Inventor: REZNICEK ALEXANDER , HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , ANDO TAKASHI , BALAKRISHNAN KARTHIK
IPC: H01L27/24
Abstract: Eine Resistiver-Arbeitsspeicher(ReRAM)-Struktur mit einem Transistor und zwei Widerständen (1T2R) und ein Verfahren zum Bilden davon schließt Bilden eines vertikalen Feldeffekttransistors (VFET) ein, der einen epitaktischen Bereich enthält, der über einem Kanalbereich und unter einer dielektrischen Abdeckung angeordnet ist. Der epitaktische Bereich weist zwei gegenüberliegende vorstehende Bereiche mit dreieckiger Form auf, die von -Ebenen begrenzt werden, die horizontal über den Kanalbereich hinausragen. Ein ReRAM-Stapel wird konform auf dem VFET abgeschieden. Der ReRAM-Stapel enthält eine Oxidschicht, die direkt über dem epitaktischen Bereich angeordnet ist, eine obere Elektrodenschicht direkt über der Oxidschicht und eine Metallfüllung über der oberen Elektrodenschicht. Jeder der beiden gegenüberliegenden vorstehenden Bereiche des epitaktischen Bereichs dient als eine untere Elektrode für den ReRAM-Stapel.
-
公开(公告)号:DE112020005760T5
公开(公告)日:2022-09-08
申请号:DE112020005760
申请日:2020-10-23
Applicant: IBM
Abstract: Eine Struktur eines löschbaren magnetoresistiven Arbeitsspeichers (MRAM) und Verfahren zur Herstellung davon, enthaltend eine MRAM-Zelle, die zwischen Bitleitungs- und Wortleitungs-Schaltungselementen angeordnet ist, und ein oberflächenemittierendes Laserelement mit vertikaler Kavität (VCSEL), das über der MRAM-Zelle angeordnet ist. Eine Laserabgabe des VCSEL ist auf die MRAM-Zelle gerichtet.
-
公开(公告)号:DE102012025774B3
公开(公告)日:2022-04-07
申请号:DE102012025774
申请日:2012-07-12
Applicant: IBM
Inventor: BEDELL STEPHEN W , HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SADANA DEVENDRA K , SHAHRJERDI DAVOOD
IPC: H01L31/18 , H01L31/0693 , H01L31/072
Abstract: Verfahren, das Folgendes umfasst:Erzeugen einer dotierten Gruppe-III/V-Substratschicht;Bilden einer intrinsischen hydrierten epitaxialen Halbleiterschicht auf der Substratschicht, die SixGe1-xumfasst, wobei x zwischen 0 und 1 liegt, durch plasmagestützte chemische Gasphasenabscheidung bei einer Temperatur von weniger als 400 °C;Bilden einer intrinsischen amorphen Halbleiterschicht, die Six'Ge1-x':H umfasst, wobei x' zwischen 0 und 1 liegt, auf der intrinsischen epitaxialen Halbleiterschicht, undBilden einer Emitterschicht auf der intrinsischen amorphen Halbleiterschicht.
-
公开(公告)号:DE102017217970A1
公开(公告)日:2018-05-09
申请号:DE102017217970
申请日:2017-10-10
Applicant: IBM
Inventor: HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SHAHIDI GHAVAM G
IPC: G06F3/044
Abstract: Eine Vorrichtung weist mehrere Pixelschaltungen zur Berührungs- und Fingerabdruckerfassung auf, die mit einem berührungsempfindlichen Bildschirm integriert sein können. Jede Pixelschaltung weist einen JFET mit einem an eine Kondensatorplatte angeschlossenen Gate auf, wobei die Kondensatorplatte mit dem Gate integriert sein kann und wobei die Kondensatorplatte über eine erste Diode mit einer entsprechenden Auswahlleitung verbunden ist. Des Weiteren weist jeder JFET in den mehreren Pixelschaltungen eine an eine entsprechende Leseleitung angeschlossene Source (oder Drain) und einen über eine zweite Diode an eine entsprechende Auswahlleitung angeschlossenen Drain (oder Source) auf.
-
29.
公开(公告)号:GB2498854B
公开(公告)日:2014-02-05
申请号:GB201300575
申请日:2013-01-14
Applicant: IBM
Inventor: SHAHRJERDI DAVOOD , HEKMATSHOARTABARI BAHMAN , SADANA DEVENDRA K , SHAHIDI GHAVAM G
Abstract: Improved semiconductor substrates are provided that employ a wide bandgap material between the channel and the insulator. A semiconductor substrate comprises a channel layer comprised of a III-V material; an insulator layer; and a wide bandgap material between the channel layer and the insulator layer, wherein a conduction band offset (DeltaEc) between the channel layer and the wide bandgap material is between 0.05 eV and 0.8 eV. The channel layer can be comprised of, for example, In1-xGaxAs or In1-xGaxSb, with x varying from 0 to 1. The wide bandgap material can be comprised of, for example, In1-yAlyAs, In1-yAlyP, Al1-yGayAs or In1-yGayP, with y varying from 0 to 1.
-
-
-
-
-
-
-
-