공급 장치, 반도체 제조 장치 및 반도체 제조 방법
    31.
    发明公开
    공급 장치, 반도체 제조 장치 및 반도체 제조 방법 有权
    供应设备,半导体制造设备和半导体制造方法

    公开(公告)号:KR1020100009467A

    公开(公告)日:2010-01-27

    申请号:KR1020090022644

    申请日:2009-03-17

    CPC classification number: C25D17/001 H01L21/288 H01L21/76849

    Abstract: PURPOSE: A supply apparatus, a semiconductor manufacturing apparatus and a semiconductor manufacturing method are provided to form a uniform thickness of cap metal on a wafer by preventing affects of byproducts produced in plating. CONSTITUTION: A supply apparatus comprises nozzles(144a,144b,144c,154), a temperature controller, an insulation part, and a delivery mechanism. The nozzles have supply holes for discharging plating liquid to the target surface of a wafer. The temperature controller accepts plating liquid for processing a certain amount of wafers, and controls the temperature of the plating liquid. The insulation part keeps the temperature of the plating liquid. The delivery device transfers the temperature-controlled plating liquid to the supply holes of the nozzles after the insulation part.

    Abstract translation: 目的:提供一种供给装置,半导体制造装置和半导体制造方法,通过防止电镀中产生的副产物的影响,在晶片上形成均匀的盖金属厚度。 构成:供给装置包括喷嘴(144a,144b,144c,154),温度控制器,绝缘部件和输送机构。 喷嘴具有用于将电镀液体排出到晶片的目标表面的供应孔。 温度控制器接受用于处理一定量晶片的电镀液,并控制电镀液的温度。 绝缘部件保持电镀液的温度。 输送装置将温度控制的电镀液体传递到绝缘部件之后的喷嘴的供给孔。

    도금 처리 장치, 도금 처리 방법 및 기억 매체
    35.
    发明授权
    도금 처리 장치, 도금 처리 방법 및 기억 매체 有权
    电镀处理装置,电镀处理方法和存储介质

    公开(公告)号:KR101765572B1

    公开(公告)日:2017-08-07

    申请号:KR1020137033422

    申请日:2012-06-07

    Abstract: 도금액중의암모니아성분의농도를일정하게유지하여도금액을순환하여사용할수 있는도금처리장치를제공한다. 도금처리장치(20)는, 기판(2)을회전보지하는기판회전보지기구(110)와, 기판(2)으로도금액(35)을공급하는도금액공급기구(30)를구비하고있다. 이중 도금액공급기구(30)는, 기판(2)으로공급되는도금액(35)을저류하는공급탱크(31)와, 도금액(35)을기판(2)에토출하는토출노즐(32)과, 공급탱크(31)의도금액(35)을토출노즐(32)로공급하는도금액공급관(33)을가지고있다. 또한공급탱크(31)에는, 암모니아가스저류부(170)가접속되고, 공급탱크(31)에저류된도금액(35) 중의암모니아성분의농도를목적의농도범위로유지한다.

    Abstract translation: 本发明提供一种即使在镀液中的氨成分的浓度保持一定的情况下也能够使氨成分的量循环的镀覆装置。 电镀处理单元20还设置有货币供给机构30供给的基板旋转机构不110中,在基板2 eurodo量35,其,不旋转的衬底(2)。 双重电镀液供应机构30包括用于存储供应到基板2的电镀液35的供应箱31,用于将电镀液35排放到基板2的排放喷嘴32, 以及用于将供应箱31的除臭剂35供应到排放喷嘴32的除臭剂供应管33。 氨气储存部分170连接到供应罐31,并且储存在供应罐31中的电镀液35中的氨成分浓度保持在目标浓度范围内。

    기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체

    公开(公告)号:KR101671533B1

    公开(公告)日:2016-11-01

    申请号:KR1020110085634

    申请日:2011-08-26

    Abstract: 본발명은, 고압유체를사용한피처리기판의처리를행할때에, 이처리가이루어지는처리용기에설치된배관을통한다른기기에의고압유체의유입을방지할수 있는기판처리장치등을제공하는것을과제로한다. 처리용기(31)에서는, 초임계상태또는아임계상태인고압유체에의해, 피처리기판(W)에대하여처리를하고, 이처리용기(31)에는유체의유동방향으로제1 배관부재(71) 및제2 배관부재(72)로분할되어, 유체가통류하는배관(406, 408, 411)이접속되어있다. 접속분리기구(70)는, 제1 배관부재(71)와제2 배관부재(72)를서로접속하는위치와이격시키는위치사이에서, 이들제1, 제2 배관부재(71, 72) 중적어도한쪽측을이동시키고, 개폐밸브(741, 742)는제1, 제2 배관부재(71, 72)에각각설치되어, 이들배관부재(71, 72)를이격시킬때에닫힌다.

    현상 처리 방법
    38.
    发明授权
    현상 처리 방법 有权
    发展方法

    公开(公告)号:KR101568460B1

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:KR1020127006391

    申请日:2010-08-20

    CPC classification number: G03F7/3021 G03F7/405 H01L21/6715

    Abstract: 레지스트패턴이현상된후, 린스액이공급된기판상에, 레지스트패턴을소수화하는소수화제가하이드로플루오로에테르로희석되어이루어지는처리액을공급하는처리액공급공정과, 처리액의공급을정지하고, 기판의회전을대략정지한상태에서, 레지스트패턴의소수화처리를안정화시키는소수화처리안정화공정과, 처리액이공급된기판위로부터처리액을제거하는처리액제거공정을포함한다. 소수화제는트리메틸실릴디메틸아민이다.

    무전해 도금 방법, 무전해 도금 장치 및 기억 매체
    39.
    发明公开
    무전해 도금 방법, 무전해 도금 장치 및 기억 매체 审中-实审
    电沉积方法,电镀镀层设备和储存介质

    公开(公告)号:KR1020150091264A

    公开(公告)日:2015-08-10

    申请号:KR1020150015371

    申请日:2015-01-30

    Abstract: 기판상에정밀도좋게패터닝된복수층의금속층을형성한다. 기판(11) 상에패터닝된제 1 금속층(12)을형성한다(도 1a). 이어서제 1 금속층(12) 상에금속희생층(15)을형성하고(도 1b), 또한금속희생층(15)의금속과치환가능한이온화된금속을포함하는수용액을금속희생층(15) 상에도포한다. 이에의해, 금속희생층(15) 상에촉매층(16)을형성한다(도 1e). 이어서촉매층(16) 상에무전해도금을실시하여제 2 금속층(18)을형성하고(도 1f), 이제 2 금속층(18)을마스크로서기판(11)에에칭을실시한다.

    Abstract translation: 在基板上形成具有高精度的多层图案化金属层。 在基板(11)上形成第一金属层(12)(图1a),在第一金属层(12)上形成金属牺牲层(15)(图1b)。 此外,含有电离金属取代基的水溶液与金属牺牲层(15)的金属扩散在金属牺牲层(15)上。 因此,在金属牺牲层(15)上形成催化剂层(16)。 在催化剂层(16)上进行化学镀处理以形成第二金属层(18)(图1f)。 通过使用第二金属层(18)作为掩模,在基板(11)上进行蚀刻处理。

Patent Agency Ranking