Abstract:
본 발명은 원자간력 현미경에 관한 것으로 광섬유에서 조사되어 외팔보에서 반사되는 빛의 세기가 외팔보의 변위에 민감하게 변하도록 패브리 페로 간섭계를 구성하여 광섬유와 외팔보와의 거리를 정확하게 측정할 수 있도록 한 것이다. 즉, 본 발명은 단면이 광원의 빔과 외팔보의 반사면에 반사된 빔을 투과 또는 반사할 수 있도록 오목곡면으로 가공된 광섬유와 외팔보의 반사면으로 패브리 페로 공진기를 형성하고 공진기에서 반사되는 신호를 검출하여 외팔보 탐침의 변위를 측정하고 더 나아가서는 외팔보 탐침의 변위변화에 대응하는 보정신호(feedback)를 생성하여 압전소자를 Z축 방향으로 구동시켜 외팔보 탐침의 변위가 일정하게 유지되도록 한 것이다.
Abstract:
본 발명은 주사형 전자현미경 (scanning electron microscope; SEM) 나노니들 조작기 (nanoneedle manipulator)를 이용하여, 모체 팁의 형상에 상관없이, 상기 모체 팁에 고정되는 탄소나노튜브(canbon nanotube) 또는 나노와이어 (nanowire)와 같은 나노니들(nanoneedle) 의 방향 및 상기 모체 팁의 끝으로부터 도출되는 나노니들의 길이가 조절된, 주사형 탐침 현미경(scanning probe microscope; SPM)용 나노니들팁(nanoneedle tip)과 그 제조장치 및 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 주사형 탐침 현미경용 나노니들팁 제조장치는, 모체 팁을 고정하고 자유도가 상대적으로 큰 모체 팁 스테이지와, 그 모체 팁에 부착될 나노니들을 고정하고, 자유도가 상대적으로 큰 나노니들 스테이지를 포함하고, 상기 스테이지들 및 상기 스테이지들을 구성하는 복수개의 요소들이 수동적으로 수평, 수 직 및 회전되면서 주사형 탐침 현미경용 나노니들팁을 제조하는 데에 특징이 있다.
Abstract:
PURPOSE: A method for measuring a phase angle for measuring length in a two-frequency laser interferometer, and a method for correcting a non-linear error, and a method and a system for measuring a phase angle for measuring length using the same are provided to improve the accuracy of length measurement by correcting periodical non-linear errors. CONSTITUTION: A system for measuring a phase angle includes a two-frequency laser interferometer(100) outputting a reference signal(Ir) generated by interference of two frequency laser flux and a measurement signal(Im) generated by interference of two frequency laser flux reflected from fixed and mobile mirrors(4a,4b); a 90 deg phase mixer(200) mixing the measurement signal with the reference signal and a 90 deg phase converted reference signal each, and filtering high frequency components for outputting output signals(Ix,Iy) for sensing phase; a non-linear error correcting part(300) receiving feedback of output signals(Ix',Iy')for obtaining the amplitudes, and offsets, and phase difference, calculating correction voltage for correcting the amplitudes, the offsets, and the phase difference, and correcting the offsets to become "0", the amplitudes to be equal, and the phase difference to become "0"; and a phase angle calculating part obtaining a phase angle(&thgr;) by applying the output signals to a formula &thgr;=arctan(Iy'/Ix').
Abstract:
PURPOSE: A reflection control apparatus using a planar reflective mirror having a prism constant of zero is provided to measure accurately a mechanical constant or a prism constant of electro-optical distance meter by installing the planar reflective mirror on a side passing a center of a sphere of a spheric housing. CONSTITUTION: A planar reflective mirror(220) is vertically installed in the inside of a spheric housing(100). An inserting portion(120) is formed in the inside of the housing(100). The housing(100) is formed with a resin material or a metallic material such as aluminum or stainless steel. The planar reflective mirror(220) is vertically installed in the inserting portion(120). A cover(240) is used for contacting closely the planar reflective mirror(220) with the inside of the housing(100). A lower end portion of the housing(100) is combined with an upper portion of a tripod(300). A plurality of support bars(320) are formed on a lower portion of the tripod(300). A circular rotation body(420) is formed on an outer circumference of the tripod(300). A plurality of fixing screw portions(440) are inserted into one side of a position fixing plate(460). The fixing screw portion(440) is formed with a micrometer screw(470) and a position fixing screw(480).
Abstract:
The present invention provides a position measuring device and a position measuring method. The position measuring method includes a step of generating measurement signals by sensing lights reflected by or transmitted through an incremental scale while having phase difference of an angle of 60 degrees within one cycle of the incremental scale; a step of displaying the sensed measurement signals as the sum of first sine waves and third sine waves of a fundamental spatial frequency; and a step of extracting phases of the first sine waves based on the measurement signals.
Abstract:
본 발명은 3차원 위치를 측정하는 장치에 있어서: 선단의 팁(22) 상에 형광점(25)을 지니는 탐침자(20); 상기 탐침자(20)의 형광점(25)을 여기시키는 여기수단(30); 상기 여기된 발광빔을 집속하는 렌즈(44); 및 상기 집속된 발광빔을 검출기(55)로 입력하여 위치 정보를 생성하는 제어기(50);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 스타일러스의 볼에 형광점을 부여하여 볼 자체에 대한 변형 위치를 측정하므로 측정의 정확성이 향상되는 동시에 좁고 깊은 구멍의 측정이 가능하여 활용성을 증진하는 효과가 있다.
Abstract:
PURPOSE: An image or polarized light rotating method and device can rotate a target image itself through rotating-control between optical devices. CONSTITUTION: An image and polarized light rotating device reflects incident light and combines two or more optical elements forming emitted light having 90° against incident light. A reflection surface of a rear side optical element is rotated based on an optical axis of light reflected and emitted from a front optical element in an optical path, entered into the rear side optical element. An optical element is composed of a prism or a mirror. The prism can be a rectangular prism in which length and a cross section form an isosceles right angle, a penta-prism, or an Amici prism. [Reference numerals] (AA,FF) Z-axis; (BB,GG) X-axis; (CC) Pentaprism-2; (DD) Pentaprism-1; (EE) Y-axis; (HH) Rectangular prism
Abstract:
본 발명은 하나의 트랙으로 고분해능의 절대 각도를 측정할 수 있어 소형화가 가능하고 경제적인 광학식 엔코더 및 이를 이용한 변위 측정 방법에 관한 것으로, 광을 조사하는 발광부와, 발광부의 광을 반사시키는 반사 부재와, 발광부와 반사 부재의 사이에 광의 진행 방향을 가로지르는 방향으로 이동하도록 배치되며 이동 방향을 따라 일정한 피치로 배치되는 회절 격자를 구비하는 이동 부재와, 이동 부재에 대하여 발광부와 같은 방향에 배치되며 반사 부재에 의해 반사되어 회절 격자에 의해 회절된 광의 적어도 일부가 간섭하는 광을 수광하는 제1 수광부를 구비하는 광학식 엔코더 및 이를 이용한 변위 측정 방법을 제공한다.
Abstract:
PURPOSE: A non-contact type three-dimensional coordinate measuring system is provided to ensure high resolution and precision as well as a compact structure and to enable position measurement from any distance within the range where the light of a light source can reach a light detecting part. CONSTITUTION: A non-contact type three-dimensional coordinate measuring system comprises a light source(1) which is installed in an object to be measured, a light detecting part(2) which is installed in a specified position and detects the light emitted from the light source, and a position calculating part(3) which measures the distance between the light source and the light detecting part using the light detected by the light detecting part and calculates the position of the light source form the measured distance.
Abstract:
본 발명은 카메라와 렌즈 사이에 초점흐림수단을 설치하여 초점이 흐려진 영상을 카메라에서 인식하고 이를 분석하여 피사체의 형상을 측정할 수 있게 한 입체형상측정장치에 관한 것이다. 이러한 본 발명의 입체형상측정장치는 반도체 모듈 등의 피사체를 촬영하는 카메라를 포함하여 구성되는 입체형상측정장치에 있어서, 상기 카메라의 전면에 카메라로 입사된 피사체 영상의 초점을 흐리기 위한 초점흐림수단을 설치하여 구성됨을 특징으로 한다. 입체형상, 초점흐림수단, 굴절률, 초점거리