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公开(公告)号：CN1215310C
公开(公告)日：2005-08-17
申请号：CN01822551.9
申请日：2001-02-09
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02F1/1309 , G01B11/065 , G01B11/14
Abstract: 定起偏振器(14)的偏振角为θ1，测量液晶单元(15)在正交尼科耳状态下的反射强度S1和参考反射强度Ref1。然后，设定不同的偏振角θ2，测量该液晶单元在正交尼科耳状态下的反射强度S2和参考反射强度Ref2。确定测量强度的比率S1/Ref1，S2/Ref2和比率S1·Ref2/S2·Ref1，为的是抵消参考反射强度Ref1，Ref2的背景分量，从而准确地测定单元的间隙值(图1)。
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公开(公告)号：CN1202414C
公开(公告)日：2005-05-18
申请号：CN01813501.3
申请日：2001-07-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
Abstract: 按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板6移至光轴位置，光投射部分3a经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，另一方面，利用把可动反射板6移离光轴和把参照物8放在样品台10上，光投射部分3a经过参照物8投射的光，被光接收部分3b接收，据此确定两次接收的光强的比值。在样品测量时，则把可动反射板6移至光轴位置，光投射部分3a投射的光，经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，于是，用由此接收的光强和上述比值，估算用参照物测量的光强，用该估算的光强来校正经过样品接收的光强。
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公开(公告)号：CN1556919A
公开(公告)日：2004-12-22
申请号：CN03801077.1
申请日：2003-03-24
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6452 , G01N21/253 , G01N21/6458 , G01N2021/6417 , G01N2201/04 , G01N2201/0415
Abstract: 一种荧光测量装置布置成通过使用激发光源而基本同时测量在试样腔中的多个试样或者相同试样的多个点。该荧光测量装置有在激发光照射位置处的旋转试样台座(2)，多个通孔(2a)形成于旋转试样台座(2)的圆周上，且试样放置单元(3)可插入各个通孔(2a)中。通过使试样台座(2)相对于激发光照射位置运动，可以对多个试样进行荧光测量，同时不需要在试样腔(1)中更换试样。
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公开(公告)号：CN1541331A
公开(公告)日：2004-10-27
申请号：CN01811473.3
申请日：2001-06-19
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/28
Abstract: 在本发明的光谱测量仪中，检测器(13)的检测表面(13a)是一个二维检测表面并且从分光镜出来的谱光照射在检测表面(13a)上的A区。在检测表面(13a)除了谱光照射的A区以外其它区的信号强度从A区的信号强度中被减去。因此有可能以这样的方式来处理检测信号以获取准确的光谱强度信号，即消除在光谱测量仪内产生的漫射光和由在检测单元表面发生的反射及衍射所产生的无用光的不利影响。
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公开(公告)号：CN1326543A
公开(公告)日：2001-12-12
申请号：CN99813471.6
申请日：1999-09-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G02F1/13 , G02F1/1337
CPC classification number: G02F1/1309 , G01B11/06 , G01B11/14 , G02F2001/133742
Abstract: 光线以关于VA(垂直定位)液晶板的一个角度入射,该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴,因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1279763A
公开(公告)日：2001-01-10
申请号：CN98811260.4
申请日：1998-11-19
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N15/00
CPC classification number: G01N21/474 , G01N15/02
Abstract: 一种用来作为散射角的函数测量来自试样的散射光的强度的装置,包括:一个用来反射来自试样(23)的散射光并使之聚焦的椭圆面反射镜(24),一个位于来自椭圆面反射镜(24)的反射光的焦点并把出现在椭圆面反射镜(24)的表面上的像成像的成像透镜(25),以及一个用来记录由成像透镜(25)所形成的像的摄像机(26),借此在很短的时间段内检测广角范围内的散射光。
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公开(公告)号：CN114325734B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202210019117.9
申请日：2017-01-23
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有：第一透光构件，其具有第一参照面；第二透光构件，其与第一透光构件相向设置，具有第二参照面；第一投光部，其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光；第一受光部，其接收来自第一参照面的反射光，并且经由第一参照面接收来自试样的反射光；第二投光部，其经由第二参照面向试样照射来自光源的光；第二受光部，其接收来自第二参照面的反射光，并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光；分光部，其对由第一受光部接收的反射光和由第二受光部接收的反射光进行分光。
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公开(公告)号：CN117980791A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280064582.2
申请日：2022-08-01
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 提供一种旋转接头(40)，包括：主体侧光纤保持部(25)，在第一圆形区域配置受光光纤的各一端面，在其外侧的第一圆环区域配置投光光纤的各一端面；探头侧光纤保持部(33)，在第二圆形区域配置受光光纤的各一端面，在其外侧的第二圆环区域配置投光光纤；旋转支承部(41)，将主体侧光纤保持部(25)和探头侧光纤保持部(33)支承为能相对旋转；以及光分离筒(42)，设于主体侧光纤保持部(25)与探头侧光纤保持部(33)之间。
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公开(公告)号：CN116026870A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202211310530.7
申请日：2022-10-25
Applicant: 大塚电子株式会社 , 国立大学法人京都大学
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明提供一种光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生光束；起偏器，其配置在光源与试样之间，用于对光束的偏振方向进行限制；检测器，其观测光束照射到试样而产生的散射光；以及检偏器，其配置在试样与检测器之间。检偏器对入射到检偏器的包含检偏器与光束的光轴交叉的交叉位置在内的光轴中心区域的光施加比入射到检偏器的除光轴中心区域以外的区域的光大的衰减。
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公开(公告)号：CN107806898B
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN201710807755.6
申请日：2017-09-08
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。
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