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公开(公告)号：CN116804639A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202310292387.1
申请日：2023-03-23
IPC: G01N23/207 , G01N23/20008
Abstract: 提供一种不管周围的状态如何都能够对单晶状态的试样的损伤进行测定的损伤测定方法、装置、记录介质以及X射线衍射装置。包含如下步骤：将细束的白色X射线照射到单晶状态的试样的步骤(S03)；检测通过照射产生的衍射光斑的步骤(S05)；算出与检测出的衍射光斑的特定方向的强度分布的方差有关的系数的步骤(S06)；以及从所算出的系数确定试样的损伤状态的步骤。“单晶状态”是指材料由单晶或粗大晶粒形成的状态。
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公开(公告)号：CN119557532A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202411236117.X
申请日：2024-09-04
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 提供算出结构模型的特征量的计算装置、方法以及程序。一种算出结构模型的特征量的计算装置(100)，具备：计算前结构模型取得部(110)，其取得周期性地排列有原子的计算前结构模型；计算前信息取得部(120)，其取得确定计算前结构模型中的周期性地排列的原子的计算前信息；计算后结构模型取得部(130)，其取得以计算前结构模型为原始数据计算出的计算后结构模型；计算后信息取得部(140)，其取得通过基于计算前信息将计算后结构模型中的原子聚类化而得到的聚类信息和作为计算后结构模型中的原子的位置信息的原子位置信息；以及特征量算出部(150)，其基于聚类信息和原子位置信息算出具有相同的聚类信息的原子的重心位置。
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公开(公告)号：CN118758984A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411009269.6
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN109709118B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN201811238458.5
申请日：2018-10-23
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供一种索勒狭缝、X射线衍射装置以及方法，即便在基于GIXD的测定中X射线照射区域在试料表面上展宽，检测器上的衍射像在面内方向也不会展宽，能够以短的测定时间且高的分辨率来进行测定。索勒狭缝(100)具备多个金属制的薄板(110)，所述多个金属制的薄板(110)各自相对于底面垂直，相互隔开规定的角度间隔被排列为拱形，使得从特定的焦点向放射方向通过X射线，该索勒狭缝(100)被设置于以掠入射X射线衍射用的角度被照射至试料并在试料面上被衍射的X射线以测角器圆的中心为特定的焦点来通过的位置而被使用。
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公开(公告)号：CN118777345A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411009268.1
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107110798B
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201580069728.2
申请日：2015-10-02
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N15/0211 , G01N23/2055 , G01N23/2076 , G01N23/22 , G21K1/02 , G21K1/04 , G21K1/06 , G21K1/062
Abstract: 本发明的掠入射荧光X射线分析装置(1)包括：X射线源(2)；弯曲分光元件(4)，该弯曲分光元件(4)对从X射线源(2)所放射的X射线(3)进行分光，形成汇聚于试样(S)的表面的一定位置(15)的X射线束(5)；狭缝(6)，该狭缝(6)设置于弯曲分光元件(4)和试样(S)之间，具有线状开口(61)；狭缝移动机构(7)，该狭缝移动机构(7)将狭缝(6)移动到与通过线状开口(61)的X射线束(5)相交叉的方向；掠射角设定机构(8)，该掠射角设定机构(8)在通过狭缝移动机构(7)移动狭缝(6)后，将X射线束(5)的掠射角(α)设定在所需的角度；检测器(10)，该检测器(10)测定从照射了X射线束(5)的试样(S)而产生的荧光X射线(9)的强度。
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公开(公告)号：CN110036284A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201780073230.2
申请日：2017-11-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明的X射线反射率测定装置包括：照射角度可变机构(10)，其使对试样表面(8a)的聚光X射线束(6)的照射角度变化；被固定的位置灵敏型检测器(14)；反射强度计算机构(15)，其与照射角度可变机构(10)的聚光X射线束(6)的照射角度的变化同步，仅仅针对位置灵敏型检测器(14)中的位于反射X射线束(12)的发散角度幅度内的检测元件(11)，就构成反射X射线束(12)的反射X射线(13)的每个反射角度，累加计算对应的检测元件(11)的检测强度。
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公开(公告)号：CN109313145A
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201780035084.4
申请日：2017-07-12
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 尾形洁 , 表和彦 , 吉原正 , 伊藤义泰 , 本野宽 , 高桥秀明 , 杵渕隆男 , 樋口明房 , 梅垣志朗 , 浅野繁松 , 山口僚太郎 , 洞田克隆 , 神户亮 , 姜立才 , B·韦尔曼
IPC: G01N23/207 , G21K1/06 , G21K5/02
Abstract: 在根据本发明的X射线检查设备中，X射线照射单元40包括用于在垂直方向上聚焦特征X射线的第一X射线光学元件42，以及用于在水平方向上聚焦特征X射线的第二X射线光学元件43。第一X射线光学元件42由具有高结晶度的晶体材料构成。第二X射线光学元件包括多层镜。
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公开(公告)号：CN106461579A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580019383.X
申请日：2015-01-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01N23/20008 , G01N23/205 , G01N23/207 , G01N2223/056
Abstract: 针对从试样(S)衍射来的聚光X射线(2)，根据布拉格条件用单色仪(60)仅使特定波长的X射线反射，进而通过受光狭缝(30)，利用X射线检测器(20)进行检测。单色仪(60)做成装卸自如，配置于使来自试样(S)的聚光X射线(2)直接地收敛时的聚光点(2a)与该试样(S)之间。此时，单色仪(60)由内部的栅格面间隔从一端到另一端连续地变化的多层膜反射镜构成。(60)尽可能接近上述聚光点(2a)。另外，单色仪
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公开(公告)号：CN102472714B
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201080029423.6
申请日：2010-06-30
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207 , G21K1/02 , G21K1/06 , G21K3/00 , G21K5/02
CPC classification number: G21K1/06 , B82Y10/00 , G01J3/12 , G21K1/062 , G21K2201/064 , H01J2237/1205 , H01J2237/1516
Abstract: 本发明提供一种X射线装置、其使用方法以及X射线照射方法，该X射线装置产生能量宽度狭小的虚拟射线源，并能够进行高分解能力的X射线衍射测定。X射线装置(100)包括：分光器(105)，该分光器将发散X射线一边进行分光一边进行集光；以及选择部(107)，该选择部设置于被集光的X射线的集光位置，选择特定范围波长的X射线而使其通过，产生虚拟射线源。由此，能够在焦点(110)上产生具有狭小能量宽度的虚拟射线源，通过该虚拟射线源，能够进行高分解能力的X射线衍射测定。通过使用X射线装置(100)，从而能够充分地分离例如Kα1射线和Kα2射线那样非常狭小能量宽度的X射线。此外，也能够切出连续的X射线的一部分而形成虚拟射线源。
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