Abstract:
An apparatus for protecting insulated gate bipolar transistor is provided to strengthen a protection of an IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor) module by integrating a protective circuit inside the IGBT. A main IGBT(100) includes a p-type floating well(110). A current detecting circuit includes a first MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)(210). The first MOSFET detects a current flowing through the p-type floating well, and supplies a voltage to a gate of a second MOSFET(310) inside a pull-down circuit. The second MOSFET turns on by supplying the voltage to the current detecting circuit, and reduces a gate voltage of the main IGBT. A voltage of the p-type floating well is supplied to a gate and a drain of the first MOSFET device.
Abstract:
본 발명은 부하의 단락시 전원부의 고전압으로 인해 전력소자가 파괴되는 것을 방지하기 위한 절연게이트형 전력소자의 단락상태 유지를 위한 보호회로에 관한 것이다. 본 발명은 부하의 단락시 전원부의 고전압으로 인해, 상기 부하에 애노드가 연결된 절연게이트형 전력소자가 파괴되는 것을 방지하기 위한 보호회로에 있어서, 게이트가 노드 A에서 상기 게이트절연형 전력소자의 게이트와 연결되고, 상기 애노드 전압을 노드 B로 전달하는 패스 트랜지스터와; 상기 절연게이트형 전력소자의 게이트전극 단자와 상기 노드 B와의 사이에 연결되고, 상기 노드 B에서의 전압이 문턱전압 이상일 경우 상기 노드 A의 전압을 강하시키는 풀-다운(pull-down)부와; 상기 게이트전극 단자의 전압이 0일 경우 상기 노드 B의 전압을 0로 낮추는 리셋 다이오드를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Abstract:
PURPOSE: An emitter switched thyristor having a protection circuit is provided to improve the short-circuit withstanding capability of an EST(Emitter Switched Thyristor). CONSTITUTION: A protection circuit(200) prevents an emitter switched thyristor(100) from being broken due to a high voltage by dropping a gate voltage after detecting a voltage of a floating emitter. A transistor drops a voltage of a node A in case the voltage of the floating emitter increases more than a threshold voltage. A reset diode(202) drops a voltage of a node B in case the voltage of the gate electrode terminal(110) is zero. A resistance device(203) is connected between the gate electrode terminal of the emitter switched thyristor and a second gate electrode(110B).
Abstract:
본 발명은 부하의 단락시 전원부의 고전압으로 인해 전력소자가 파괴되는 것을 방지하기 위한 보호회로를 구비한 에미터 스위치 사이리스터에 관한 것이다. 본 발명은 보호회로에 의해 플로팅 에미터의 전압을 감지하여 EST의 안쪽 게이트 전압을 낮추어줌으로써 EST의 단락유지를 위해 필수적인 고전압 전류 포화특성을 얻을 수 있도록 하며, 본 발명에 의한 EST는 산업용 모터 제어에서 통상 요구되는 10㎲ 정도의 단락유지 특성을 갖는다.
Abstract:
본 발명은 보호회로를 내장한 절연게이트 바이폴라 트랜지스터(Insulated Gate Bipolar Transistor; 이하 IGBT라 칭함)에 관한 것이다. 본 발명의 절연 게이트형 반도체 장치는 반도체층과; 상기 반도체층에 형성된 주 IGBT 소자와; 상기 주 IGBT 소자와 인접하여 상기 반도체층에 형성되며, 상기 주 IGBT 소자에 비정상적인 고전류가 흐를 경우 그 내부의 전압이 상승하는 플로팅 웰과; MOSFET 소자를 구비하며, 상기 플로팅 웰로부터 인가되는 전압의 크기가 상기 MOSFET의 문턱전압 이상인 경우 상기 주 IGBT 소자에 흐르는 전류를 감소시키는 보호회로를 포함함을 특징으로 한다. 절연게이트 바이폴라 트랜지스터, 스위칭 소자, 애벌런치 에너지, 플로팅 웰
Abstract:
본 발명은 사이리스터(Thyristor)로 동작하는 고전압 소자 구조에 게이트 커플링을 사용하며, 정전기 보호 사이리스터에 있어서, 고전압 소자의 특성에 따른 입/출력 신호의 상승/하강 시간과 ESD 펄스의 상승/하강 시간의 차이에 따라 상기 게이트 커플링 동작이 이루어지도록 필드 산화막 또는 두꺼운 산화막을 게이트 산화막으로 사용한다.
Abstract:
PURPOSE: A protection circuit is provided to prevent breakdown of a power device caused due to the high voltage of a power source unit upon occurrence of short-circuit of a load. CONSTITUTION: A protection circuit(200) comprises a pass transistor(210), a pull-down unit(220), and a reset diode(230). The pass transistor has a gate connected to a gate of an insulated gate type power device at a gate A, and transfers an anode voltage to a node B. The pull-down unit is connected between a gate electrode terminal of the insulated gate type power device and the node B, and pulls down the voltage of the node A when the voltage at the node B is higher than a threshold voltage. The reset diode lowers the voltage of the node B to zero when the voltage of the gate electrode terminal is zero.
Abstract:
PURPOSE: An electrostatic discharge(ESD) protection thyristor is provided to reduce a trigger voltage of a thyristor and improve an ESD characteristic by forming a gate-coupled thyristor(GCT) using a gate coupling concept in a device structure functioning as the thyristor. CONSTITUTION: The ESD protection thyristor uses a field oxide layer or a thick oxide layer as a gate oxide layer, including a gate coupling thyristor structure to prevent static electricity of a high voltage device. The gate coupling operation is performed according to a difference of time interval between the rising/falling time of an input/output signal and the rising/falling time of an ESD pulse.
Abstract:
A method and an apparatus for improving an electrical characteristic of a BRT device are provided to manufacture the BRT device having a high performance switching by irradiating an optimized electron beam on the BRT device. An electron beam is irradiated on a BRT(Base Resistance controlled Thyristor) device to extract a first specific condition value of the electron beam which shortens a lifespan of minor carrier. The electron beam of the extracted first specific condition value is irradiated on other BRT device. The other BRT device is subjected to a thermal annealing process to extract a second specific condition value which increases a threshold voltage. Another BRT device is subjected to the thermal annealing process of the extracted specific condition value.
Abstract:
본 발명은 보호회로를 내장한 절연게이트 바이폴라 트랜지스터(Insulated Gate Bipolar Transistor; 이하 IGBT라 칭함)에 관한 것이다. 본 발명의 절연 게이트형 반도체 장치는 제1 도전형의 반도체층과; 상기 반도체층의 제1 영역에 형성된 주 IGBT 소자와; 상기 주 IGBT 소자에서 비정상적인 고전류가 흐를 경우 이를 감지하기 위해 상기 제1 영역에 인접하여 상기 반도체층의 제2 영역에 형성된 플로팅 웰과; 상기 플로팅 웰로부터 인가되는 감지신호에 따라 상기 주 IGBT 소자에 흐르는 전류를 감소시키기 위해 상기 제2 영역에 인접하여 상기 반도체층의 제3 영역에 형성된 MOSFET 소자를 구비하는 보호회로를 포함함을 특징으로 한다. 절연게이트 바이폴라 트랜지스터, 스위칭 소자, 애벌런치 에너지, 플로팅 웰