Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high density content addressable memory array using a phase change device. SOLUTION: The content addressable memory array storing stored words in memory elements is provided. Each memory element stores one of at least two complementary binary bits as one of at least two complementary resistances. Each memory element is electrically coupled to an access device. An aspect of the content addressable memory array is the use of a biasing circuit to bias the access devices during a search operation. During the search operation, a search word containing a bit string is received. Each access device is biased to a complementary resistance value of a corresponding search bit in the search word. A match between the search word and stored word is indicated if the bits stored in the memory elements are complementary to the bits represented by the resistances in the access devices. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
Abstract:
Gemäß einer Technik wird eine elektronische Einheit so konfiguriert, dass sie charakteristischen Eigenschaften einer biologischen Synapse entspricht. Die elektronische Einheit weist mehrere bipolare Widerstände auf, die parallel angeordnet sind, so dass sie eine elektronische Synapse bilden, eine Axonverbindung, die mit einem Ende der elektronischen Synapse und mit einem ersten elektronischen Neuron verbunden ist, und eine dendritische Verbindung, die mit einem anderen Ende der elektronischen Synapse und mit einem zweiten elektronischen Neuron verbunden ist. Ein Zunehmen und Abnehmen der synaptischen Leitfähigkeit in der elektronischen Synapse beruht auf einer Wahrscheinlichkeit eines Umschaltens der Vielzahl von bipolaren Widerständen zwischen einem niederohmigen Zustand und einem hochohmigen Zustand.
Abstract:
Widerstandsspeicher mit einer Nicht-Und-Struktur (NAND-Struktur), zu der eine Widerstandsspeicherzelle gehört. Die Widerstandsspeicherzelle enthält ein Widerstandsspeicherelement zum Speichern eines Widerstandswertes und eine Speicherelement-Zugriffseinheit zum Steuern des Zugriffs auf das Widerstandsspeicherelement. Die Speicherelement-Zugriffseinheit ist mit dem Widerstandsspeicherelement in einer Parallelschaltung verbunden.
Abstract:
A phase change memory cell that includes a bottom electrode, a top electrode separated from the bottom electrode, and growth-dominated phase change material deposited between the bottom electrode and the top electrode and contacting the bottom electrode and the top electrode and surrounded by insulation material at sidewalls thereof. The phase change memory cell in a reset state only includes an amorphous phase of the growth-dominated phase change material within an active volume of the phase change memory cell.
Abstract:
A neuromorphic circuit includes a first field effect transistor in a first diode configuration establishing an electrical connection between a first gate and a first drain of the first field effect transistor. The neuromorphic circuit also includes a second field effect transistor in a second diode configuration establishing an electrical connection between a second gate and a second drain of the second field effect transistor. The neuromorphic circuit further includes variable resistance material electrically connected to both the first drain and the second drain, where the variable resistance material provides a programmable resistance value. The neuromorphic circuit additionally includes a first junction electrically connected to the variable resistance material and providing a first connection point to an output of a neuron circuit, and a second junction electrically connected to the variable resistance material and providing a second connection point to the output of the neuron circuit.
Abstract:
Speicher, der Folgendes umfasst: eine Gruppe von Widerstandsspeicherzellen (402), die Folgendes umfasst: eine Vielzahl von Widerstandsspeicherzellen (402), die untereinander in einer Reihenschaltung verbunden sind und zwei Außenenden aufweisen, wobei jede einzelne Widerstandsspeicherzelle (402) in der Gruppe Folgendes umfasst: ein Widerstandsspeicherelement (404) zum Speichern eines Widerstandswertes; und eine Speicherelement-Zugriffseinheit (406) zum Steuern des Zugriffs auf das Widerstandsspeicherelement (404), wobei die Speicherelement-Zugriffseinheit (406) in einer Parallelschaltung mit dem Widerstandsspeicherelement (404) verbunden ist; eine Gruppenzugriffseinheit (504) zum Steuern des Zugriffs auf die Widerstandsspeicherzellen (402), wobei die Gruppenzugriffseinheit (504) mit einem der Außenenden verbunden ist; und wobei der Speicher eine weitere Widerstandsspeicherzelle (204) umfasst, die mit der Gruppe von Widerstandsspeicherzellen (402) verbunden ist, wobei die weitere Widerstandsspeicherzelle (204) folgendes umfasst: ein Widerstandsspeicherelement (210) zum Speichern eines Widerstandswertes; und eine Speicherelement-Zugriffseinheit (212) zum Steuern des Zugriffs auf das Widerstandsspeicherelement (210), wobei die Speicherelement-Zugriffseinheit (212) in einer Reihenschaltung mit dem Widerstandsspeicherelement (210) verbunden ist, das zwei Außenenden aufweist und jedes Außenende mit einer Stromversorgung, einer Masse oder aber mit einer Schaltung zum Steuern einer Spannung des Außenendes verbunden ist; wobei die Widerstandsspeicherelemente (210, 404) Phasenwechsel-Speicherelemente (PCM-Elemente) sind.
Abstract:
Resistive memories having a not-and (NAND) structure including a resistive memory cell. The resistive memory cell includes a resistive memory element for storing a resistance value and a memory element access device for controlling access to the resistive memory element. The memory element access device is connected in parallel to the resistive memory element.
Abstract:
Resistive memories having a not-and (NAND) structure including a resistive memory cell. The resistive memory cell includes a resistive memory element for storing a resistance value and a memory element access device for controlling access to the resistive memory element. The memory element access device is connected in parallel to the resistive memory element.
Abstract:
A phase change memory cell that includes a bottom electrode, a top electrode separated from the bottom electrode, and growth-dominated phase change material deposited between the bottom electrode and the top electrode and contacting the bottom electrode and the top electrode and surrounded by insulation material at sidewalls thereof. The phase change memory cell in a reset state only includes an amorphous phase of the growth-dominated phase change material within an active volume of the phase change memory cell.
Abstract:
A content addressable memory array storing stored words in memory elements. Each memory element stores one of at least two complementary binary bits as one of at least two complementary resistances. Each memory element is electrically coupled to an access device. An aspect of the content addressable memory array is the use of a biasing circuit to bias the access devices during a search operation. During the search operation, a search word containing a bit string is received. Each access device is biased to a complementary resistance value of a corresponding search bit in the search word. A match between the search word and stored word is indicated if the bits stored in the memory elements are complementary to the bits represented by the resistances in the access devices.