HALBLEITERMODUL UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINES HALBLEITERMODULS

    公开(公告)号:DE102014114104B4

    公开(公告)日:2017-06-08

    申请号:DE102014114104

    申请日:2014-09-29

    Abstract: Ein Aspekt der Erfindung betrifft ein Halbleitermodul (100) mit einer Temperaturüberwachungseinrichtung (6). Diese weist eine erste Temperatur (T1) und dabei eine erste geometrische Form auf. Sie ist die derart ausgebildet dass sie, wenn sie auf eine zweite Temperatur (T2) erwärmt wird, die höher ist als die erste Temperatur (T1), bei der zweiten Temperatur (T2) eine von der ersten geometrischen Form verschiedene zweite geometrische Form annimmt, und wenn sie nach dem Erwärmen auf die zweite Temperatur (T2) auf eine dritte Temperatur (T3) abgekühlt wird, die geringer ist als die zweite Temperatur (T2), eine von der ersten geometrischen Form verschiedene dritte geometrische Form annimmt.

    Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung und Bestückungsautomat

    公开(公告)号:DE102015108512B4

    公开(公告)日:2022-06-23

    申请号:DE102015108512

    申请日:2015-05-29

    Abstract: Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung zwischen einem ersten Fügepartner (1) und einem zweiten Fügepartner (2), wobei das Verfahren aufweist:Bereitstellen eines Pulverträgers (4), auf den eine ein Metallpulver enthaltende Pulverschicht (5) aufgebracht ist, mittels einer automatischen Pulverträgerzuführung (9, 10), wobei der Pulverträger (4) während seiner Bereitstellung auf einem Tragrahmen (3) angeordnet ist, und wobei der Tragrahmen (3) Justagepins (31) aufweist, von denen jeder in eine korrespondierende Justageöffnung (41) des Pulverträgers (4) eingreift;Aufnehmen des ersten Fügepartners (1) mittels eines Setzwerkzeugs (70) eines Bestückungsautomaten;Anpressen des ersten Fügepartners (1) an die auf dem Pulverträger (4) befindliche Pulverschicht (5), so dass ein Pulverschichtabschnitt (51) an dem ersten Fügepartner (1) haftet, mittels des Setzwerkzeugs (70);Abheben des ersten Fügepartners (1) von dem Pulverträger (4) zusammen mit dem an dem ersten Fügepartner (1) haftenden Pulverschichtabschnitt (51) mittels des Setzwerkzeugs (70);Aufsetzen des ersten Fügepartners (1) auf den zweiten Fügepartner (2) mittels des Setzwerkzeugs (70) derart, dass sich der Pulverschichtabschnitt (51) zwischen dem ersten Fügepartner (1) und dem zweiten Fügepartner (2) befindet und sich durchgehend vom ersten Fügepartner (1) bis zum zweiten Fügepartner (2) erstreckt; undHerstellen einer Sinterverbindung zwischen dem ersten Fügepartner (1) und dem zweiten Fügepartner (2), indem der erste Fügepartner (1) und der zweite Fügepartner (2) gegeneinander gepresst werden, so dass der Pulverschichtabschnitt (51) sowohl den ersten Fügepartner (1) als auch den zweiten Fügepartner (2) kontaktiert, wobei der Pulverschichtabschnitt (51) während des Gegeneinanderpressens gesintert wird.

    HALBLEITERMODUL UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINES HALBLEITERMODULS

    公开(公告)号:DE102014114104A1

    公开(公告)日:2016-03-31

    申请号:DE102014114104

    申请日:2014-09-29

    Abstract: Ein Aspekt der Erfindung betrifft ein Halbleitermodul (100) mit einer Temperaturüberwachungseinrichtung (6). Diese weist eine erste Temperatur (T1) und dabei eine erste geometrische Form auf. Sie ist die derart ausgebildet dass sie, wenn sie auf eine zweite Temperatur (T2) erwärmt wird, die höher ist als die erste Temperatur (T1), bei der zweiten Temperatur (T2) eine von der ersten geometrischen Form verschiedene zweite geometrische Form annimmt, und wenn sie nach dem Erwärmen auf die zweite Temperatur (T2) auf eine dritte Temperatur (T3) abgekühlt wird, die geringer ist als die zweite Temperatur (T2), eine von der ersten geometrischen Form verschiedene dritte geometrische Form annimmt.

    Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung und Bestückungsautomat

    公开(公告)号:DE102015108512A1

    公开(公告)日:2016-12-01

    申请号:DE102015108512

    申请日:2015-05-29

    Abstract: Ein erster Aspekt betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung zwischen einem ersten Fügepartner (1) und einem zweiten Fügepartner (2). Bei dem Verfahren wird mittels einer automatischen Pulverträgerzuführung (9, 10) ein Pulverträger (4) bereitgestellt, auf den eine ein Metallpulver enthaltende Pulverschicht (5) aufgebracht ist. Der erste Fügepartner (1) wird an die auf dem Pulverträger (4) befindliche Pulverschicht (5) gepresst, so dass ein Pulverschichtabschnitt (51) an dem ersten Fügepartner (1) haftet. Der erste Fügepartner (1) wird zusammen mit dem an dem ersten Fügepartner (1) haftenden Pulverschichtabschnitt (51) von dem Pulverträger (4) abgehoben, und der an dem ersten Fügepartner (1) haftende Pulverschichtabschnitt (51) wird zwischen dem ersten Fügepartner (1) und dem zweiten Fügepartner (2) angeordnet. Zwischen dem ersten Fügepartner (1) und dem zweiten Fügepartner (2) wird eine Sinterverbindung hergestellt, indem der erste Fügepartner (1) und der zweiten Fügepartner (2) gegeneinander gepresst werden, so dass der Pulverschichtabschnitt (51) sowohl den ersten Fügepartner (1) als auch den zweiten Fügepartner (2) kontaktiert. Während des Gegeneinanderpressens wird der Pulverschichtabschnitt (51) gesintert.

    VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER STOFFSCHLÜSSIGEN VERBINDUNG ZWISCHEN EINEM HALBLEITERCHIP UND EINER METALLSCHICHT

    公开(公告)号:DE102014117020A1

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:DE102014117020

    申请日:2014-11-20

    Abstract: Ein Aspekt betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung zwischen einem Halbleiterchip (1) und einer Metallschicht (21). Hierzu werden ein Halbleiterchip (1) bereitgestellt, eine Metallschicht (2), die einen Chipmontageabschnitt (21c) aufweist, sowie ein ein Metallpulver enthaltendes Verbindungsmittel (3). Das Metallpulver wird in einem Sinterprozess gesintert. Hierbei sind während einer vorgegebenen Sinterdauer ununterbrochen die Vorgaben erfüllt, dass das Verbindungsmittel (3) zwischen dem Halbleiterchip (1) und der Metallschicht (21) angeordnet ist und sich durchgehend von dem Halbleiterchip (1) bis zu der Metallisierungsschicht (21) erstreckt, dass der Halbleiterchip (1) und die Metallschicht (21) in einem Anpressdruckbereich gegeneinander gepresst werden, der oberhalb eines Mindestanpressdrucks liegt, dass das Verbindungsmittel (3) in einem Temperaturbereich gehalten wird, der oberhalb einer Mindesttemperatur liegt, und dass ein Schallsignal (SUS) in das Verbindungsmittel (3) eingekoppelt wird.

    Vorgesinterte Halbleiterchip-Struktur

    公开(公告)号:DE102013216633A1

    公开(公告)日:2014-03-06

    申请号:DE102013216633

    申请日:2013-08-22

    Abstract: Eine gesinterte Verbindung wird durch Pressen eines Halbleiter-Chips gegen ein Substrat gebildet, während sich ein getrocknetes Sintermaterial zwischen dem Substrat und dem Halbleiter-Chip befindet, wobei das getrocknete Sintermaterial Sinterteilchen und ein Lösungsmittel enthält. Das Substrat wird auf eine Temperatur unterhalb einer Sintertemperatur des getrockneten Sintermaterials erwärmt, während der Halbleiter-Chip gegen das Substrat gedrückt wird, um lokale Sinterverbindungen zwischen benachbarten Sinterteilchen zu bilden. Die lokalen Sinterverbindungen bilden zusammen eine stabile Verbindung, die den Halbleiter-Chip vor dem Sintern an dem Substrat befestigt. Dann wird eine gesinterte Verbindung zwischen dem Halbleiter-Chip und dem Substrat aus dem getrockneten Sintermaterial gebildet, nachdem die stabile Verbindung gebildet wurde.

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