-
公开(公告)号:DE102015108216A1
公开(公告)日:2015-11-26
申请号:DE102015108216
申请日:2015-05-26
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KAHN MARKUS , SCHÖNHERR HELMUT , STEINBRENNER JÜRGEN
IPC: H01L21/302 , C23C16/42 , H01L21/31
Abstract: In verschiedenen Ausführungsformen ist ein Verfahren (400) zur Beschichtung eines Werkstücks vorgesehen. Das Verfahren (400) kann Trocknen eines Werkstücks (420) umfassen, wobei das Werkstück mit mindestens einer Oxidschicht als einer obersten Schicht beschichtet ist; wobei eine dielektrische Schicht über die oberste Schicht des getrockneten Werkstücks abgelagert wird (430); wobei das Werkstück während des Trocknungsprozesses und während des Ablagerungsprozesses fortwährend einem unter dem atmosphärischen Druck liegenden Druck ausgesetzt wird.
-
公开(公告)号:DE102014106339A1
公开(公告)日:2014-11-13
申请号:DE102014106339
申请日:2014-05-07
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: DENIFL GÜNTER , GRILLE THOMAS , HEDENIG URSULA , HIRSCHLER JOACHIM , KAHN MARKUS , KÜNLE MATTHIAS , MAURER DANIEL , MÖNNICH ROLAND , SCHÖNHERR HELMUT
Abstract: Kohlenstoffschichten mit reduziertem Wasserstoffgehalt können durch Auswahl entsprechender Verarbeitungsparameter mittels plasmaunterstützter chemischer Gasphasenabscheidung abgeschieden werden. Solche Kohlenstoffschichten können einer Hochtemperaturbearbeitung unterzogen werden, ohne eine übermäßige Schrumpfung zu zeigen.
-
公开(公告)号:DE102013111848A1
公开(公告)日:2014-04-30
申请号:DE102013111848
申请日:2013-10-28
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: BRUNNER CHRISTOPH , FISTER SILVANA , GIETLER HERBERT , HÖCKELE UWE , KAHN MARKUS , KRENN CHRISTIAN , MAIER HUBERT , MATOY KURT , SCHÖNHERR HELMUT , STEINBRENNER JÜRGEN , WELLENZOHN ELFRIEDE
IPC: H01L21/314 , H01L21/3105
Abstract: Es sind eine Passivierungsschicht und ein Verfahren (200) zum Herstellen einer Passivierungsschicht offenbart. Gemäß einer Ausführungsform umfasst das Verfahren zum Herstellen einer Passivierungsschicht das Aufbringen einer ersten siliziumbasierten dielektrischen Schicht auf ein Werkstück, wobei die erste siliziumbasierte dielektrische Schicht Stickstoff umfasst (204), und das in-situ Aufbringen einer zweiten siliziumbasierten dielektrischen Schicht auf die erste siliziumbasierte dielektrische Schicht, wobei die zweite dielektrische Schicht Sauerstoff umfasst (206).
-
-