半导体装置
    41.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116722034A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202310189575.1

    申请日:2023-03-02

    Abstract: 半导体装置(1)具备衬底(10)、第1导电型的漂移层(12)、多个栅极电极(26)以及多个第2导电型的重复区域(40)。设穿过栅极电极(26)的排列方向上的栅极电极(26)的中心并且在衬底(10)的厚度方向上延伸的中心线为单元中心线(Oc),在栅极电极(26)的排列方向上,设相邻的单元中心线(Oc)彼此之间的距离为单元间距(Pc),设穿过栅极电极(26)的排列方向上的重复区域(40)的中心并且在衬底(10)的厚度方向上延伸的中心线为重复中心线(Or),在栅极电极(26)的排列方向上,设相邻的重复中心线(Or)彼此之间的距离为重复间距(Pr),单元间距(Pc)与重复间距(Pr)不同。

    场效应晶体管及其制造方法
    42.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115706166A

    公开(公告)日:2023-02-17

    申请号:CN202210925476.0

    申请日:2022-08-03

    Abstract: 场效应晶体管包括半导体衬底和设置在所述半导体衬底的顶表面处的多个沟槽。所述沟槽在所述半导体衬底的顶表面处沿第一方向延伸,并且设置为在垂直于所述第一方向的方向上间隔开。连接区设置在主体区下方。在所述半导体衬底的俯视图中,所述连接区在与所述第一方向相交的第二方向上延伸,并且在垂直于所述第二方向的方向上间隔开。场弛豫区设置在所述连接区和所述沟槽下方。在所述半导体衬底的俯视图中,所述场弛豫区在与所述第一方向和所述第二方向相交的第三方向上延伸,并且在垂直于所述第三方向的方向上间隔开。

    半导体装置及其制造方法
    43.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107004700B

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN201580067401.1

    申请日:2015-07-22

    Abstract: 半导体装置(1)具备形成有半导体元件的半导体基板(2)和形成于半导体基板(2)之上的绝缘膜(30)。半导体基板(2)具备第一部分(10)和厚度比第一部分(10)薄的第二部分(20)。第二部分(20)的上表面(21)位于比第一部分(10)的上表面(11)靠下方处。在位于第一部分(10)与第二部分(20)相邻的位置的第二部分(20)的上表面(21)形成有在半导体基板(2)的厚度方向上延伸的凹部(50)。绝缘膜(30)从第一部分(10)延伸到第二部分(20),并填充凹部(50)。

    绝缘栅型半导体器件
    46.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106133913B

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201580015955.7

    申请日:2015-02-05

    Abstract: 提供一种能够容易地耗尽外围区的绝缘栅型半导体器件。所述绝缘栅型半导体器件包括:在半导体衬底的正面中形成的第一至第四外围沟槽;绝缘层,其位于所述外围沟槽中;第五半导体区,其具有第二导电类型,并且在暴露于所述外围沟槽的底面的范围内形成;以及连接区,其将暴露于所述第二外围沟槽的底面的所述第五半导体区连接到暴露于所述第三外围沟槽的底面的所述第五半导体区。所述第二与第三外围沟槽之间的间隔比所述第一与第二外围沟槽之间的间隔以及所述第三与第四外围沟槽之间的间隔中的每一者宽。

    半导体装置
    47.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105849910B

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201480071339.9

    申请日:2014-08-04

    Abstract: 本发明提供一种通过使耗尽层在外周区内更高速地伸展,从而能够实现更高的耐压的技术。半导体装置具有形成有绝缘栅型开关元件的元件区和外周区。在外周区内的半导体基板的表面上,形成有第一沟槽和以与第一沟槽隔开间隔的方式配置的第二沟槽。在第一沟槽和第二沟槽内形成有绝缘膜。形成有以从第一沟槽的底面跨及第二沟槽的底面的方式延伸的第二导电型的第四区域。在第四区域的下侧形成有从第三区域连续的第一导电型的第五区域。

    开关元件
    49.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107919383A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201710887817.9

    申请日:2017-09-27

    Abstract: 本发明提供一种开关元件,抑制在连接区域产生的电场。开关元件具备:半导体基板;沟槽,设于半导体基板的上表面;栅极绝缘层,覆盖沟槽的内表面;以及栅电极,配置于沟槽内,并且通过栅极绝缘层而与半导体基板绝缘。半导体基板具备:第一导电型的第一半导体区域,与栅极绝缘层接触;第二导电型的体区域,在第一半导体区域的下侧与栅极绝缘层接触;第一导电型的第二半导体区域,在体区域的下侧与栅极绝缘层接触;第二导电型的底部区域,在沟槽的底面与栅极绝缘层接触;以及第二导电型的连接区域,在沟槽的侧面与栅极绝缘层接触,并且将体区域与底部区域连接。连接区域的厚度比底部区域的厚度厚。

    半导体装置
    50.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104465719B

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201410487147.8

    申请日:2014-09-22

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置(10),其包括半导体基板(11),所述半导体基板具有元件区域(12)以及终端区域(14)。元件区域包括:第一体区域(36a,38),其具有第一导电类型;第一漂移区(32),其具有第二导电类型;以及第一浮动区域(34),其具有第一导电类型。终端区域包括场限环区域(41)、第二漂移区(32b)以及第二浮动区域(37)。场限环区域具有第一导电类型并围绕元件区域。第二漂移区具有所述第二导电类型,并与场限环区域相接触且围绕场限环区域。所述第二浮动区域具有第一导电类型并被第二漂移区围绕。所述第二浮动区域围绕元件区域。至少一个所述第二浮动区域相对于最接近所述元件区域的一个场限环区域而被置于元件区域侧。

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