具有污染物收集表面的离子植入器

    公开(公告)号:CN101305443B

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN200680041821.3

    申请日:2006-11-10

    Inventor: P·林 M·格拉夫

    CPC classification number: H01J37/3171 H01J2237/028 H01J2237/31705

    Abstract: 一种离子植入器(110),包含:离子源(112),用以产生沿射束路径运动的离子束;以及真空室或植入室(130),例如硅晶片这样的工件被放置在所述真空室或植入室内与所述离子束相交,通过离子束对工件的表面进行离子植入。衬垫具有内向表面,其限定抽空的内部区域的至少一部分,并且包含横越所述衬垫的表面而隔开的沟槽,从而在离子植入器的操作过程中捕获在所述内部区域里产生的污染物。

    用于增加光阻移除率之装置及等离子体灰化方法

    公开(公告)号:CN101053063B

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN200580037928.6

    申请日:2005-09-01

    Abstract: 一等离子体灰化方法,其用于自一包含碳、氢、或是碳氢结合物之基板移除光阻剂材料和后蚀刻残留物,其中该基板包含一低k介电层,该方法包括:以一实质上无氧无氮之气体混合物形成一等离子体;将该等离子体导引入一处理室,其中该处理室包含一和等离子体流体连通之阻隔平板组件;使该等离子体流经该阻隔平板组件,并自基板移除光阻剂材料、后蚀刻残留物、和挥发性副产物;通过将一氧气等离子体导入该处理室,以周期性地清洁该处理室;使一冷却气体流过该阻隔平板组件以冷却该阻隔平板组件。一设置成用以接收下游式等离子体之处理室,该处理室包含一上方阻隔平板,该上方阻隔平板包含:至少一和热传导支座,其与该处理室之一壁热连通;以及一和该上方阻隔平板间隔之下方阻隔平板。

    用于处理介电材料的设备和方法

    公开(公告)号:CN101208770B

    公开(公告)日:2010-10-27

    申请号:CN200580050233.1

    申请日:2005-06-22

    CPC classification number: H01L21/67115

    Abstract: 一种用于处理介电材料诸如低k值介电材料、电容材料、阻挡层及类似物的设备和方法,总体上包括辐射源模组、耦连到辐射源模组的处理腔、和与该处理腔及晶片装卸器成操作性相通的的传送腔模组。可以根据不同类型的介电材料的需要,控制每个模组的气氛环境。该辐射源模组包括反射器、紫外线辐射源、和能透射约150纳米到约300纳米波长的板,以限定密封内部区域,其中该密封内部区域与第一流体源成流体相通。

    用于离子束聚焦的系统和方法

    公开(公告)号:CN101080802B

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200580043440.4

    申请日:2005-10-12

    CPC classification number: H01J37/3171 H01J37/147

    Abstract: 提供了用于聚焦离子注入器(110)中的被扫描的离子束的系统与方法。一种束聚焦系统(140)被提供,其包含:第一与第二磁体,用以提供对应的磁场,其协同地提供具有时变的聚焦场中心的磁性聚焦场,该聚焦场中心通常对应于沿着扫描方向的被扫描的离子束的时变的束位置。提供了方法,包含:提供具有聚焦场中心的聚焦场于扫描平面内;以及动态调整该聚焦场,使得聚焦场中心通常符合于沿着扫描方向的被扫描的离子束的时变的束位置。

    用于离子束的静电平行透镜

    公开(公告)号:CN100583375C

    公开(公告)日:2010-01-20

    申请号:CN200480018009.X

    申请日:2004-06-18

    CPC classification number: H01J37/3171 H01J37/12

    Abstract: 一种用在离子束注入机上的透镜结构。该透镜结构包括沿离子运动方向间隔开的第一和第二电极。该透镜结构跨过离子束的宽度而在离子束路径的相对侧上延伸,以偏转进入该透镜结构的离子。该透镜结构包括用于减速离子的第一电极和用于加速离子的第二电极,以使进入透镜结构的离子以大约相同的离开轨道离开所述透镜结构,而与离子进入透镜结构时的轨道无关。在一种可选构造中,该透镜结构包括用于加速离子的第一电极和用于减速离子的第二电极。

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