半导体封装件
    1.
    发明公开
    半导体封装件 审中-公开

    公开(公告)号:CN117637718A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202310908447.8

    申请日:2023-07-24

    Inventor: 李仁 金兑泳

    Abstract: 一种半导体封装件包括:基底衬底;第一半导体芯片,其安装在基底衬底上;以及第二半导体芯片,其安装在第一半导体芯片上。第一半导体芯片包括在第一方向上具有第一间距间隔并且在第二方向上具有第二间距间隔的第一导电连接结构,并且第二半导体芯片包括在第一方向上具有第一间距间隔并且在第二方向上具有第二间距间隔的第二导电连接结构。第一导电连接结构包括第一电力连接结构、第一接地连接结构和第一虚设结构。第一接地连接结构或第一虚设结构位于第一电力连接结构中的在第一方向上相邻的两个第一电力连接结构之间以及在第二方向上相邻的两个第一电力连接结构之间。

    半导体封装件
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105633063B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN201510813432.9

    申请日:2015-11-23

    Inventor: 李仁

    Abstract: 提供了半导体封装件及其制造方法。半导体封装件包括:第一半导体芯片,具有第一电路图案;第二半导体芯片,设置在第一半导体芯片上且设置有第二电路图案;以及第一连接结构和第二连接结构,贯穿第一半导体芯片和第二半导体芯片。第一连接结构电连接到第一电路图案,并且可以与第二电路图案电分离。第二连接结构与第一电路图案电分离,并且可以电连接到第二电路图案。

    包括阶梯式堆叠的芯片的半导体封装件

    公开(公告)号:CN104795386A

    公开(公告)日:2015-07-22

    申请号:CN201510023464.9

    申请日:2015-01-16

    Inventor: 朴彻 金吉洙 李仁

    Abstract: 本发明提供了一种包括阶梯式堆叠的芯片的半导体封装件,该半导体封装件包括:封装衬底;并排安装在封装衬底上的第一芯片堆叠件和第二芯片堆叠件,其中,第一芯片堆叠件和第二芯片堆叠件各自包括堆叠在封装衬底上的多个半导体芯片,其中,所述多个半导体芯片中的每一个包括设置在其对应的边缘区上的多个接合焊盘,其中,所述多个接合焊盘中的至少一些是功能性接合焊盘,并且其中,功能性接合焊盘占据的区实质上小于整个所述对应的边缘区。

    半导体封装件
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105633063A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201510813432.9

    申请日:2015-11-23

    Inventor: 李仁

    Abstract: 提供了半导体封装件及其制造方法。半导体封装件包括:第一半导体芯片,具有第一电路图案;第二半导体芯片,设置在第一半导体芯片上且设置有第二电路图案;以及第一连接结构和第二连接结构,贯穿第一半导体芯片和第二半导体芯片。第一连接结构电连接到第一电路图案,并且可以与第二电路图案电分离。第二连接结构与第一电路图案电分离,并且可以电连接到第二电路图案。

    包括阶梯式堆叠的芯片的半导体封装件

    公开(公告)号:CN104795386B

    公开(公告)日:2019-08-16

    申请号:CN201510023464.9

    申请日:2015-01-16

    Inventor: 朴彻 金吉洙 李仁

    Abstract: 本发明提供了一种包括阶梯式堆叠的芯片的半导体封装件,该半导体封装件包括:封装衬底;并排安装在封装衬底上的第一芯片堆叠件和第二芯片堆叠件,其中,第一芯片堆叠件和第二芯片堆叠件各自包括堆叠在封装衬底上的多个半导体芯片,其中,所述多个半导体芯片中的每一个包括设置在其对应的边缘区上的多个接合焊盘,其中,所述多个接合焊盘中的至少一些是功能性接合焊盘,并且其中,功能性接合焊盘占据的区实质上小于整个所述对应的边缘区。

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