电子器件装置的制造方法

    公开(公告)号:CN106463418A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201580030681.9

    申请日:2015-06-04

    Abstract: 本发明提供一种能够更加合适地发挥密封用树脂片的导热性的电子器件装置的制造方法。本发明是如下的电子器件装置的制造方法,即,具备:工序A,准备在支承体上固定有电子器件的层叠体;工序B,准备含有二次凝聚体的密封用树脂片,所述二次凝聚体是使导热率随方向而不同的具有热各向异性的氮化硼的晶体以具有各向同性的方式凝聚而得;工序C,将密封用树脂片配置于层叠体的电子器件上;工序D,将电子器件嵌入密封用树脂片中;以及工序E,在工序D之后,在维持沿使层叠体与密封用树脂片靠近的方向加压的状态的同时,加热密封用树脂片而使之第一次热固化。

    中空型电子器件密封用片、和中空型电子器件封装件的制造方法

    公开(公告)号:CN105938817A

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201610118460.3

    申请日:2016-03-02

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种中空型电子器件密封用片,其能抑制向电子器件与被粘物之间的中空部进入的树脂的量在每个封装件中不均。本发明的解决手段在于,一种中空型电子器件密封用片,通过下述步骤的顺序测定的进入量X1为0μm以上且50μm以下、且由进入量Y1减去进入量X1后的值为50μm以下。在将模拟芯片埋入中空型电子器件密封用片的样品的步骤后,测定构成样品的树脂向模拟芯片与玻璃基板之间的中空部的进入量X1的步骤、使样品热固化而得到密封体样品的步骤和测定树脂向密封体样品中的中空部的进入量Y1的步骤。

    中空型电子器件密封用片

    公开(公告)号:CN105826278A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201610040558.1

    申请日:2016-01-21

    Abstract: 提供一种中空型电子器件密封用片,其可得到能够将中空型电子器件适宜地埋入热固化性密封用片并抑制了热固化性密封用片的上表面的凹凸的中空型电子器件封装件。一种中空型电子器件密封用片,其具有隔片和热固化性密封用片,隔片的厚度(mm)与25℃时的拉伸弹性模量(N/mm2)之积为200N/mm以上,热固化性密封用片在50℃~100℃范围内的最低熔融粘度为100kPa·s以上。

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