公开(公告)号：FR3079964A1

公开(公告)日：2019-10-11

申请号：FR1853043

申请日：2018-04-06

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS ,  ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BOIVIN PHILIPPE ,  FAGOT JEAN-JACQUES ,  PETITPREZ EMMANUEL ,  SOUCHIER EMELINE ,  WEBER OLIVIER

IPC: H01L21/77 ,  H01L21/8222 ,  H01L25/00

公开(公告)号：FR3079374A1

公开(公告)日：2019-09-27

申请号：FR1852413

申请日：2018-03-21

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： GAILHARD BRUNO

IPC: H03L7/08

Abstract: Procédé de gestion du fonctionnement d'une boucle à verrouillage de phase (BV), la boucle comprenant un oscillateur contrôlé en tension (16) par un signal de contrôle (SC) et un comparateur de phase (14) recevant un signal de référence (CKIN) et un signal de retour (CKFB) issu du signal de sortie (SS) de l'oscillateur (16), le procédé comprenant une détection d'une absence éventuelle de transitions sur le signal de retour (CKFB) pendant une première durée et en réponse à une telle absence, un forçage de la décroissance (DWN) de la tension dudit signal de contrôle (SC) au moins jusqu'à une réapparition de transitions sur ledit signal de retour (CKFB).

公开(公告)号：FR3078439A1

公开(公告)日：2019-08-30

申请号：FR1851676

申请日：2018-02-27

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： EL KHOURASSANI YASSINE ,  VALDENAIRE PATRICK ,  ARDICHVILI EMMANUEL

IPC: H01L23/52 ,  H01L23/522 ,  H01L23/528

Abstract: Un circuit d'interconnexion (ICN) comporte plusieurs interfaces d'entrée (IEi) et plusieurs interfaces de sortie (ISj). Plusieurs équipements sources (ESi) sont respectivement couplés auxdites interfaces d'entrée. Un équipement cible (EC) a plusieurs ports d'accès (PAO, PA1) respectivement couplés auxdites interfaces de sortie. Chaque équipement source est configuré pour délivrer des transactions (Tl-Tp) à l'équipement cible (EC). Des moyens de commande programmables (MCM) sont aptes, une fois programmés, à délivrer au circuit d'interconnexion,, en présence de chaque transaction émanant d'un équipement source, un mot de commande (MCi) désignant un port d'accès affecté à cet équipement source. Le circuit d'interconnexion (ICN) est alors configuré pour router ladite transaction depuis l'interface d'entrée correspondante vers l'interface de sortie couplée à ce port d'accès et délivrer ladite transaction audit port d'accès, le contenu de chaque transaction délivrée à un port d'accès étant identique au contenu de la transaction correspondante délivrée par l'équipement source quel que soit le port d'accès sélectionné.

公开(公告)号：FR3078423A1

公开(公告)日：2019-08-30

申请号：FR1851738

申请日：2018-02-27

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 ,  ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： MAILLET GWENAEL ,  LABYRE JEAN-LOUIS ,  BAS GILLES

IPC: G06K7/10 ,  H04B1/18 ,  H04B1/717

Abstract: L'invention concerne un circuit intégré comportant un premier module (6) de communication en champ proche, et un deuxième module (7, 92) de génération d'au moins un signal en modulation de largeur d'impulsions (PWM).

公开(公告)号：FR3077893A1

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：FR1851252

申请日：2018-02-14

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： DAVIDESCU DRAGOS ,  FERRAND OLIVIER

IPC: G06F12/14 ,  G06F21/60

Abstract: L'invention concerne un système de contrôle d'accès à une mémoire (14) comprenant : au moins un premier circuit d'accès direct à la mémoire (20) ; et au moins un second circuit (22), chaque second circuit étant associé à un premier circuit et étant programmé pour restreindre la zone de la mémoire accessible audit premier circuit.

公开(公告)号：FR3077678A1

公开(公告)日：2019-08-09

申请号：FR1851011

申请日：2018-02-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： SARAFIANOS ALEXANDRE ,  NICOLAS BRUNO ,  FRONTE DANIELE

IPC: H01L23/552 ,  G06F21/00

Abstract: Procédé de détection d'une atteinte à l'intégrité d'un substrat semi-conducteur (P) d'un circuit intégré (CI) protégé par un enrobage, le substrat comprenant une face avant (FV) et une face arrière (FR), cette atteinte étant susceptible d'être effectuée depuis la face arrière (FR) du substrat, le procédé comprenant une détection d'une ouverture de l'enrobage en regard de la face arrière du substrat.

公开(公告)号：FR3077425A1

公开(公告)日：2019-08-02

申请号：FR1850725

申请日：2018-01-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： MARZAKI ABDERREZAK

IPC: H01L23/18 ,  H01L23/64

Abstract: La cellule intégrée précaractérisée (STD1) comprend au moins une région semiconductrice (SRI) comportant un domaine fonctionnel incluant au moins un transistor (TRR), et un domaine dit de continuité (DC10, DC11) destiné à être attenant à au moins un autre domaine de continuité (DCi) d'au moins une autre cellule intégrée précaractérisée (STDi), la cellule comportant au moins un élément capacitif (TR10, TR11, TR0) logé dans le domaine de continuité (DC1) et/ou autour d'une région de substrat (RSub) du transistor (TRR).

公开(公告)号：FR3051086B1

公开(公告)日：2019-07-26

申请号：FR1654078

申请日：2016-05-04

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： NICOLAI JEAN ,  MARTINEZ ALBERT

IPC: H03K21/10

Abstract: L'invention concerne un circuit de comptage d'impulsions fournies par un circuit ayant au moins deux bornes (251, 231) de fourniture de signaux impulsionnels inversés, comportant : un premier compteur (91) des impulsions d'un premier signal impulsionnel fournissant un premier compte ; un deuxième compteur (93) des impulsions d'un deuxième signal impulsionnel fournissant un deuxième compte ; et un élément (95) de sélection de l'un des comptes.

公开(公告)号：FR3059145B1

公开(公告)日：2019-07-19

申请号：FR1661347

申请日：2016-11-22

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： RIVERO CHRISTIAN ,  FORNARA PASCAL ,  BOUTON GUILHEM ,  LISART MATHIEU

IPC: H01L21/04 ,  H05K1/02

Abstract: Circuit intégré, comprenant au-dessus d'un substrat semiconducteur (SB) une multitude de plots électriquement conducteurs situés respectivement entre des zones de composants du circuit intégré et un premier niveau de métallisation du circuit intégré et enrobés dans une région isolante (RIS2), ladite multitude de plots comportant des premiers plots (PLT1) en contact électrique avec des premières zones de composant correspondantes (Z1) et au moins un deuxième plot non en contact électrique avec une deuxième zone de composant correspondante (Z2), de façon à former au moins une discontinuité électrique.

公开(公告)号：FR3066050B1

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：FR1753917

申请日：2017-05-04

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： GAILHARD BRUNO

IPC: H02H3/24 ,  H02H3/247

Abstract: Procédé de contrôle du fonctionnement d'une unité de traitement intégrée (UT) alimentée par une tension d'alimentation (Vc)présente aux bornes d'un condensateur (C), dans lequel on définit une chute maximale admissible de tension (?v) aux bornes du condensateur (C), on génère un signal impulsionnel périodique (CKhold) dont la période (T) est inférieure ou égale à une période courante déterminée à partir de ladite chute maximale admissible de tension (?v) et d'une consommation courante de l'unité de traitement (UT), on compare ladite tension d'alimentation (Vc)à une tension seuil (Vseuil) au rythme des impulsions du signal impulsionnel périodique (H), et on délivre un signal de contrôle (RST) ayant une première valeur à l'unité de traitement lorsque la tension d'alimentation est supérieure ou égale à la tension seuil (Vseuil) et une deuxième valeur lorsque la tension d'alimentation est inférieure à la tension seuil (Vseuil) .