상전이 메모리 소자 및 그 동작 방법
    201.
    发明授权
    상전이 메모리 소자 및 그 동작 방법 失效
    相变存储元件及其操作方法

    公开(公告)号:KR100571844B1

    公开(公告)日:2006-04-17

    申请号:KR1020040086539

    申请日:2004-10-28

    Abstract: 상전이 메모리 소자 및 그 동작 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 상전이 메모리 소자는 반도체 기판에 복수의 행들과 열들의 매트릭스로 배열된 복수의 단위셀들, 행으로 배열되고 일단에 각각 행 선택 트랜지스터를 구비하는 복수의 기록 비트라인들과 읽기 비트라인들 및 열로 배열되고 일단에 각각 열 선택 트랜지스터를 구비하는 복수의 기록 워드라인들과 읽기 워드라인들을 포함한다. 여기에서, 단위셀은 상전이 저항체 및 상전이 저항체를 가열시키기 위한 발열 저항체를 포함한다.

    Abstract translation: 公开了一种相变存储元件及其操作方法。 相变存储器件具有多个行和列排列的矩阵状的多个单元电池,排列在一行中读出位线和多条写入位线,每一个都包括根据本发明的行选择晶体管的半导体基板上的一个端部, 并且多个写入字线和读取字线排列成行,并且每个都在一端具有列选择晶体管。 这里,单元电池包括相变电阻器和用于加热相变电阻器的发热电阻器。

    3차원 반도체 캐패시터 및 그 제조 방법
    204.
    发明公开
    3차원 반도체 캐패시터 및 그 제조 방법 有权
    三维电容器及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020060017261A

    公开(公告)日:2006-02-23

    申请号:KR1020040065876

    申请日:2004-08-20

    CPC classification number: H01G9/00 H01L28/56 H01L28/65 H01L28/90

    Abstract: 본 발명은 5족 산화물 및 Ta 산화물을 포함하는 3차원 반도체 캐패시터 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 반도체 기판, 상기 반도체 기판에 도전성 불순물이 도핑되어 형성된 제 1불순물 영역 및 제 2불순물 영역, 상기 제 1불순물 영역 및 제 2불순물 영역 사이에 형성된 게이트 구조체 및 상기 제 2불순물 영역과 도전성 플러그를 통하여 전기적으로 연결된 3차원 반도체 캐패시터를 포함하는 반도체 메모리 장치의 제조 방법에 있어서, 상기 3차원 구조의 캐패시터는, 5족 산화물로 제 1유전체층을 적층시키고 건식 식각에 통하여 스페이서를 형성하는 단계; 하부 전극을 형성시키는 단계; 및 상기 하부 전극 상에 Ta
    2 O
    5 로 제 2유전체층을 형성시키는 단계;를 포함하는 3차원 반도체 캐패시터 제조 방법을 제공한다. 이를 통하여 Ta
    2 O
    5 의 저온 결정화를 유도하여 고온 산화에 따른 캐패시터의 성질 악화 현상을 크게 방지하는 효과가 있다.

    Abstract translation: 本文提供电容器和制造电容器的方法。 可以通过形成两个或更多个电介质层和下电极来形成电容器,其中在形成下电极之前形成两个或更多个电介质层中的至少一个。

    데이터 저장을 위한 고속 혼성 아날로그/디지털 PRML데이터 검출 및 클럭 복원 장치
    205.
    发明授权
    데이터 저장을 위한 고속 혼성 아날로그/디지털 PRML데이터 검출 및 클럭 복원 장치 失效
    高速混合模拟/数字PRML数据检测和时钟恢复装置fot数据存储

    公开(公告)号:KR100528878B1

    公开(公告)日:2005-11-16

    申请号:KR1020040010163

    申请日:2004-02-16

    Abstract: 고속 혼성 아날로그/디지털 PRML 데이터 검출 및 클럭복원장치에 관하여 개시한다. 본 발명에 따른 고속 혼성 아날로그/디지털 PRML 데이터 검출 및 클럭복원 장치는 입력 아날로그 RF 신호의 이득을 증폭하여 제공하는 가변이득 증폭기, 가변이득 증폭기에서 제공된 아날로그 RF 신호를 등화하여 출력하는 아날로그 등화기, 아날로그 등화기에서 등화되어 출력된 아날로그 RF 신호를 샘플링하여 디지털 RF 신호로 전환, 출력하는 A/D 컨버터, A/D 컨버터에서 출력된 디지털 RF 신호 중 DC 오프셋 성분을 제거하여 DC 오프셋 제거신호를 출력하는 DC 오프셋 제거부, DC 오프셋 제거신호로부터 원하는 채널특성 모델에서 요구되는 기준레벨 중 어느 하나의 값을 갖도록 DC 오프셋 제거신호의 판별레벨을 검출하고, 판별레벨과 DC 오프셋 제거신호의 실제 레벨간의 차인 레벨 오차값을 산출하는 레벨오차 탐지기, DC 오프셋 제거신호를 디코딩하여 데이� �를 복원하는 비터비 디코더, 및 소정 주파수 별로 레벨 오차값을 달리 저장하고, 레벨 오차값에 기초하여 각 주파수 성분 별로 소정 계수값을 산출하며, 산출된 소정 계수값을 D/A 컨버팅하여 가변이득 증폭기 및 아날로그 등화기에 제공하는 적응형 디지털 콘트롤러를 포함하는 것을 특징으로 한다.

    하프늄 산화막 형성용 전구체 및 상기 전구체를 이용한하프늄 산화막의 형성방법
    206.
    发明授权
    하프늄 산화막 형성용 전구체 및 상기 전구체를 이용한하프늄 산화막의 형성방법 失效
    用于形成氧化铪膜的前体和使用该前体形成氧化铪膜的方法

    公开(公告)号:KR100506098B1

    公开(公告)日:2005-08-03

    申请号:KR1020040085807

    申请日:2004-10-26

    Abstract: 본 발명은 하프늄 산화막 형성용 전구체 및 상기 전구체를 이용한 하프늄 산화막의 형성방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전기적 특성을 개선하면서 저온증착이 가능하고, 증착속도가 향상되며, 향상된 단차 피복성을 나타내는 하프늄 산화막 형성용 전구체, 상기 전구체를 이용한 하프늄 산화막의 형성방법 및 상기 형성방법에 따라 얻어진 하프늄 산화막을 채용한 커패시터와 트랜지스터 및 이들을 구비한 전자소자에 관한 것이다.

    확산 방지막을 갖는 반도체 커패시터의 제조방법
    208.
    发明公开
    확산 방지막을 갖는 반도체 커패시터의 제조방법 无效
    具有扩散预防层的半导体电容器的制造方法

    公开(公告)号:KR1020050029427A

    公开(公告)日:2005-03-28

    申请号:KR1020030065684

    申请日:2003-09-22

    Abstract: A method of fabricating a semiconductor capacitor having a diffusion barrier is provided to reduce leakage current by eliminating a La-silicate layer from an interface between a bottom electrode and a barrier layer. A bottom electrode(105) is formed on an upper surface of a semiconductor substrate(100). A diffusion barrier(118) is formed on the entire surface of the bottom electrode. A dielectric layer(119) is formed on the diffusion barrier. A thermal process is performed on the semiconductor substrate including the dielectric layer, the diffusion barrier, and the bottom electrode. A top electrode(130) is formed to cover the bottom electrode having the dielectric layer. The diffusion barrier is formed by stacking a barrier layer(113) and an insertion layer(116).

    Abstract translation: 提供一种制造具有扩散阻挡层的半导体电容器的方法,以通过从底部电极和阻挡层之间的界面消除La-硅酸盐层来减少漏电流。 底部电极(105)形成在半导体衬底(100)的上表面上。 在底部电极的整个表面上形成扩散阻挡层(118)。 介电层(119)形成在扩散阻挡层上。 在包括电介质层,扩散阻挡层和底部电极的半导体衬底上进行热处理。 形成顶部电极(130)以覆盖具有电介质层的底部电极。 通过层叠阻挡层(113)和插入层(116)形成扩散阻挡层。

    데이터 재생 장치 및 방법
    209.
    发明公开
    데이터 재생 장치 및 방법 无效
    用于数据复制的设备和方法

    公开(公告)号:KR1020050026320A

    公开(公告)日:2005-03-15

    申请号:KR1020030063360

    申请日:2003-09-09

    Abstract: A data reproducing apparatus and method are provided to determine a reference level for optimizing a performance of a Viterbi decoder and at the same time, to be robust to a noise like a tangential tilt. The apparatus comprises an equalizer(130), a channel identifier(170) and an adaptive processor(180). The equalizer(130) equalizes a specified frequency of an input signal. The channel identifier(170) detects a reference level of a Viterbi decoder based on the input signal of the equalizer(130). The adaptive processor(180) determines a filtering coefficient of the equalizer(130) based on the detected reference level and the IO signal of the equalizer(180).

    Abstract translation: 提供了一种数据再现装置和方法,用于确定用于优化维特比解码器的性能的参考电平,并且同时对诸如切向倾斜的噪声是鲁棒的。 该装置包括均衡器(130),信道标识符(170)和自适应处理器(180)。 均衡器(130)对输入信号的指定频率进行均衡。 信道标识符(170)基于均衡器(130)的输入信号来检测维特比解码器的参考电平。 自适应处理器(180)基于检测到的参考电平和均衡器(180)的IO信号来确定均衡器(130)的滤波系数。

    캐패시터 구조체 형성 방법
    210.
    发明授权
    캐패시터 구조체 형성 방법 有权
    캐패시터구조체형성방법

    公开(公告)号:KR100468852B1

    公开(公告)日:2005-01-29

    申请号:KR1020020042763

    申请日:2002-07-20

    Abstract: Provided is a method for depositing a dielectric layer (13) on a substrate (11). Oxidation barrier layers (10) for preventing the oxidation and diffusion of a lower electrode are inserted into the interfaces between the substrate (11) and a dielectric layer (13) and between the dielectric layers (13, 15, 17). Accordingly, a capacitor having a low leakage current and a high capacitance is obtained. In addition, a dielectric constant is controlled by adjusting a lattice constant so that a multi-layer structure of high dielectric constant is formed on a large substrate.

    Abstract translation: 提供了一种用于在衬底(11)上沉积介电层(13)的方法。 用于防止下电极的氧化和扩散的氧化阻挡层(10)被插入到衬底(11)和介电层(13)之间以及介电层(13,15,17)之间的界面中。 相应地,获得具有低漏电流和高电容的电容器。 另外,通过调整晶格常数来控制介电常数,从而在大基板上形成高介电常数的多层结构。 <图像>

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