离子注入器中离子束形成的方法和装置

    公开(公告)号:CN1101593C

    公开(公告)日:2003-02-12

    申请号:CN96122647.1

    申请日:1996-10-18

    CPC classification number: H01J37/3171 H01J37/05 H01J2237/14

    Abstract: 低能量离子注入器(10)有发射离子(14)的离子源(12),和注入室(17)。质量分析磁铁(122)配置在沿源和注入室之间的束通道上。磁铁包括多个磁极靴(110,112),并有面向内的极面(114,116),至小确定离子偏转区(12)的一部分。电流传导线圈(122,123)在极靴附近的偏转区建立二极磁场(BO)。附加的线圈(130,131,132,133,134,135,136,137)在偏转区建立四极磁场(Q1,Q2,Q3,Q4)。控制器(100)电连接到磁铁的线圈,控制电流通过电流传导线圈,在极靴附近的偏转区产生磁场。

    使用电荷剥离机制的离子注入系统中金属污染控制的装置和方法

    公开(公告)号:CN115053321B

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202180012915.2

    申请日:2021-02-08

    Abstract: 一种用于将高电荷态离子注入到工件中同时减轻痕量金属污染的方法包括从离子源中的所需物质产生处于第一电荷状态的所需离子,以及在第一离子束中产生污染物质的痕量金属离子。所需离子和痕量金属离子的荷质比相等。从离子源中提取所需离子和痕量金属离子。从所需离子中剥离至少一个电子以限定处于第二电荷状态的所需离子和痕量金属离子的第二离子束。仅来自第二离子束的所需离子选择性地仅穿过电荷选择器以限定处于第二电荷状态的所需离子的最终离子束并且没有痕量金属离子,并且将第二电荷状态的所需离子注入到工件中。

    用于物体的粒子光学检查的粒子束系统和方法

    公开(公告)号:CN113936983B

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202111084339.0

    申请日:2016-02-03

    Abstract: 本发明涉及一种粒子束系统。该粒子束系统具有多粒子束发生器,其被配置成产生多条部分粒子束,部分粒子束在空间上间隔开,至少包括第一部分粒子束和第二部分粒子束。该粒子束系统具有透镜,其被配置成用于使入射的部分粒子束聚焦在第一平面中,使得该第一平面中该第一部分粒子束撞击的第一区域与该第二部分粒子束撞击的第二区是分开的。该粒子束系统包括具有多个检测区的检测器系统和投射系统,该投射系统被配置成将交互产物投射到检测器系统上。投射系统和多个检测区相匹配,使得源自该第一平面的第一区的交互产物被投射到第一检测区上,而源自第一平面的第二区的交互产物被投射到与第一检测区不同的第二检测区上。该检测器系统包括过滤器装置。

    用于多个带电粒子束的装置

    公开(公告)号:CN113272934B

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN201980086549.8

    申请日:2019-11-26

    Inventor: 任岩

    Abstract: 公开了在多束装置中观察样本的系统和方法。多束装置可以包括:电子源,被配置为生成初级电子束;预限流孔阵列,包括多个孔并且被配置为从初级电子束形成多个束波,多个束波中的每个小束具有相关联的束电流;聚束器透镜,被配置为准直多个束波中的每个束波;束限制单元,被配置为修改多个束波中的每个束波的相关联的束电流;以及扇区磁体单元,被配置为定向多个束波中的每个束波以在物镜内或至少在物镜附近形成交叉,该物镜被配置为将多个束波中的每个束波聚焦到样本的表面上并且在其上形成多个探测点。

    用于高能量损失下的电子能量损失光谱的技术

    公开(公告)号:CN118800636A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410440504.9

    申请日:2024-04-12

    Applicant: FEI 公司

    Abstract: 描述了用于相对大的能量损失下的能量损失光谱的系统、设备、方法和技术。带电粒子显微镜系统可以包括光束镜筒区段。该光束镜筒区段可以包括针对第一能量校准的一个或多个带电粒子光学元件以及针对第二能量校准的一个或多个带电粒子光学元件。带电粒子显微镜系统可以包括检测器区段。该检测器区段可以设置在光束镜筒区段下游的位置处。检测器区段可以包括静电或磁棱镜以及针对第二能量校准的一个或多个带电粒子光学元件。第一能量和第二能量可以是不同的。

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