Abstract:
굴절율이 서로 다른 무기물질이 교대로 반복 적층된 칼라필터, 칼라필터 어레이 및 그의 제조방법 및 이미지 센서를 개시한다. 칼라필터는 기판; 및 소정 색을 위한 특정 파장의 광을 필터링하기 위한, 상기 기판상에 교대로 반복 적층되는, 서로 다른 굴절율을 갖는 제1무기막과 제2무기막을 포함한다. 상기 제1무기막과 제2무기막의 굴절율 차가 적어도 0.8이상이며, 2 내지 5회 반복 적층되며, 바람직하게는 3회 반복 적층된다. 상기 제1무기막과 제2무기막은 400 내지 700 nm 의 가시광선 영역에서 1.3 내지 6.0의 굴절율을 갖는으며, SiO2, SiON, SiN 및 Si 로부터 선택된다.
Abstract:
반도체 소자, 시모스 이미지 센서, 반도체 소자의 제조방법 및 시모스 이미지 센서의 제조방법을 제공한다. 상기 시모스 이미지 센서를 제조하기 위해 먼저, 기판 내에 포토다이오드 활성영역을 한정하는 트렌치를 형성한다. 상기 트렌치의 바닥 및 측벽 내에 불순물을 도우핑하여, 상기 트렌치의 바닥 및 측벽을 감싸는 채널 스톱 불순물영역을 형성한다. 상기 불순물이 도우핑된 트렌치 내에 절연막을 갭-필하여 트렌치 소자분리영역을 형성한다. 상기 포토다이오드 활성영역의 기판 내에 포토다이오드를 형성한다. 이와 같이, 상기 트렌치의 바닥 및 측벽을 감싸는 채널 스톱 불순물영역을 형성함으로써, 상기 트렌치의 계면 결함으로 인한 암전류 및 잡음을 줄일 수 있다.
Abstract:
A color filter, a color filter array, a method for manufacturing the color filter, and an image sensor are provided to prevent different color beams from being mixed with one another by laminating plural inorganic films with different refractive indexes. A color filter(20) includes a substrate(10) and first and second inorganic films(21,25), which are repeatedly and alternatively laminated on the substrate. The first and the second inorganic films contain inorganic materials having a refractive index between 1.3 and 6.0 in a visible ray region between 400 and 700 nm. The first inorganic film is made of a material with a big refractive index, while the second inorganic film is made of a material with a small refractive index. A difference between the refractive indexes of the first and the second inorganic films is at least 0.8.
Abstract:
특정파장 및 가시광선 전영역에서 반사율이 현저하게 감소된 실리콘 산화질화막을 포함하는 반사방지막이 형성된 이미지 센서 및 그 제조방법에 대해 개시한다. 그 센서 및 제조방법은 빛이 입사되는 수광부 상에 플라즈마 CVD법에 의해 형성된 굴절율이 2.3 내지 3.0인 산화질화막을 포함하는 반사방지막을 구비한다. 반사율, 반사방지막, 산화질화막, 굴절율
Abstract:
In an image sensor and a method of manufacturing the same, a semiconductor layer includes a first surface, a second surface opposite to the first surface, and a photodiode in the first surface. An anti-reflection layer of crystallizability for hydrogen penetration is formed on the semiconductor layer of the first surface. A hydrogen containing region including hydrogens combined with the defect part of the surface of the semiconductor layer, is formed in the semiconductor layer of the first surface. Driving transistors and a line are formed in the semiconductor layer of the second surface. A color filter and a micro lens are formed on the anti-reflection layer. The image sensor reduces a dark current and improves a white point phenomenon.
Abstract:
PURPOSE: An image sensor and a method for forming the same are provided to prevent the interference phenomenon between pixels by arranging a separate substrate lens part between a micro lens and a photoelectric transformation part. CONSTITUTION: A substrate includes a first surface (1a), a second surface, and a plurality of pixels. A photoelectric transformation part is formed in the substrate. Multilayered lines (11) and interlayer dielectrics (9) are formed on the first surface. A substrate lens part protrudes from the second surface. A surface trap region (30a) is adjacent to the surface of the substrate lens part.
Abstract:
PURPOSE: An image sensor is provided to form a plurality of contact plugs in an activated area and gate with the same electric potential. CONSTITUTION: A light receiving device(PD1,PD2) is installed in a first side of a substrate. A transistor(Tx1,Tx2,Rx) is formed in a source area, a drain area, and between the source area and the drain area. A gate electrode of the transistor is arranged on a second side of the substrate. A wiring line is arranged on the top side of the second surface. A plurality of contact plugs(C1,C2) is arranged in one of the source area, the drain area, and the gate electrode. The plurality of contact plugs is all connected to the wiring line.
Abstract:
수광 효율이 향상된 이미지 센서가 제공된다. 이미지 센서는 행렬 형상으로 어레이된 복수의 광전 변환 소자, 열 방향으로 이웃하는 2개의 광전 변환 소자마다 하나씩 공유되는 플로팅 확산 영역, 광전 변환 소자와 일대일 대응되며, 광전 변환 소자 및 플로팅 확산 영역 사이에 연결되어 있는 전송 트랜지스터, 및 열 방향으로 이웃하며 서로 다른 플로팅 확산 영역과 연결되어 있는 2개의 전하 전송 트랜지스터의 게이트에 공통으로 연결되어 있는 전하 전송 라인을 포함한다. 이미지 센서, 플로팅 확산 영역, 전하 전송 트랜지스터