31.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE69723700D1

    公开(公告)日:2003-08-28

    申请号:DE69723700

    申请日:1997-11-03

    Abstract: The programming method comprises the steps of: a) determining (140) a current value (Veff) of the threshold voltage (Vth); b) acquiring (100) a target value (Vp) of the threshold voltage; c) calculating (150) a first number of gate voltage pulses necessary to take the threshold voltage from the current value to the target value; d) applying (160) a second number (N2) of consecutive voltage pulses to the gate terminal of the cell, said second number being correlated to the first number and having a uniformly increasing amplitude; e) then measuring (170) a current value (Veff) of the threshold voltage; and repeating steps c) to e) until a final threshold value is obtained.

    35.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:IT1305181B1

    公开(公告)日:2001-04-10

    申请号:ITTO980961

    申请日:1998-11-13

    Abstract: The device comprises a current mirror circuit having a first and a second node connected, respectively, to a constant current source and to a drain terminal of a memory cell to be programmed. A voltage generating circuit is connected to the first node to bias it at a constant reference voltage (VR); an operational amplifier has an inverting input connected to the first node, a non-inverting input connected to the second node, and an output connected to the control terminal of the memory cell. Thereby, the drain terminal of the memory cell is biased at the constant reference voltage, having a value sufficient for programming, and the operational amplifier and the memory cell form a negative feedback loop that supplies, on the control terminal of the memory cell, a ramp voltage (VPCX) that causes writing of the memory cell. The ramp voltage increases with the same speed as the threshold voltage and can thus be used to know when the desired threshold value is reached, and thus when programming must be stopped. The presence of a bias transistor between the second node and the memory cell enables use of the same circuit also during reading.

    Hall-Sensor und Messverfahren sowie entsprechende Vorrichtung

    公开(公告)号:DE102016109878B4

    公开(公告)日:2024-12-12

    申请号:DE102016109878

    申请日:2016-05-30

    Abstract: Hall-Sensor, aufweisend:- ein planares Hall-Messelement (10), das einem Magnetfeld (B) ausgesetzt werden kann und eine das Magnetfeld anzeigende Hall-Spannung erzeugt, wenn es von einem elektrischen Strom durchflossen wird,- ein erstes Paar von Vorspannungselektroden (B1, B2), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer ersten Richtung (D1) gegenüberliegen,- ein zweites Paar von Vorspannungselektroden (B3, B4), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer zweiten Richtung (D2) gegenüberliegen, wobei die zweite Richtung (D2) zu der ersten Richtung (D1) orthogonal ist,- ein erstes Paar von Messelektroden (S1, S3), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer dritten Richtung (D3) gegenüberliegen,- ein zweites Paar von Messelektroden (S2, S4), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer vierter Richtung (D4) gegenüberliegen, wobei die vierte Richtung (D4) zu der dritten Richtung (D3) orthogonal ist, wobei die dritte (D3) und die vierte (D4) Richtung in Bezug auf die erste (D1) und die zweite (D2) Richtung rotationsmäßig um 45° versetzt sind, so dass eine jeweilige Messeelektrode (S1, S2, S3, S4) zwischen einer Vorspannungselektrode des ersten Paares (B1, B2) und einer Vorspannungselektrode des zweiten Paares (B3, B4) angeordnet ist.

    Hall-Sensor und Messverfahren sowie entsprechende Vorrichtung

    公开(公告)号:DE102016109878A1

    公开(公告)日:2017-02-02

    申请号:DE102016109878

    申请日:2016-05-30

    Abstract: Ein Hall-Sensor weist Folgendes auf: – ein planares Hall-Messelement (10), das einem Magnetfeld (B) ausgesetzt werden kann und eine das Magnetfeld anzeigende Hall-Spannung erzeugt, wenn es von einem elektrischen Strom durchflossen wird, – ein erstes Paar von Vorspannungselektroden (B1, B2), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer ersten Richtung (D1) gegenüberliegen, – ein zweites Paar von Vorspannungselektroden (B3, B4), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer zweiten Richtung (D2) gegenüberliegen, wobei die zweite Richtung (D2) zu der ersten Richtung (D1) orthogonal ist, – ein erstes Paar von Messelektroden (S1, S3), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer dritten Richtung (D3) gegenüberliegen, – ein zweites Paar von Messelektroden (S2, S4), die einander über das Messelement (10) hinweg in einer vierter Richtung (D4) gegenüberliegen, wobei die vierte Richtung (D4) zu der dritten Richtung (D3) orthogonal ist. Die die dritte (D3) und die vierte (D4) Richtung sind in Bezug auf die erste (D1) und die zweite (D2) Richtung rotationsmäßig um 45° versetzt, so dass eine jeweilige Messeelektrode (S1, S2, S3, S4) zwischen einer Vorspannungselektrode des ersten Paares (B1, B2) und einer Vorspannungselektrode des zweiten Paares (B3, B4) angeordnet ist.

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