플라즈마 처리장치
    51.
    发明授权
    플라즈마 처리장치 失效
    等离子体加工单元

    公开(公告)号:KR100776845B1

    公开(公告)日:2007-11-16

    申请号:KR1020017015454

    申请日:2000-06-01

    Abstract: 본 발명의 플라즈마 처리장치는, 처리용기와, 처리용기내에 배치된 제1전극을 갖추고 있다. 제1전극은 프로세스 가스를 처리용기내로 공급하기 위한 복수의 가스분산구멍과, 계측광용의 개구부를 갖추고 있다. 제1전극의 가스분산구멍 및 개구부에 대해 한쪽에 제2전극이 대향배치되어 있다. 전원장치가, 제1전극과 제2전극 사이에 전압을 인가하여 제1전극과 제2전극 사이에 플라즈마를 발생시킨다. 창부재의 광로가, 계측광용의 개구부의 다른쪽에 연접(連接)하고 있다. 상기 가스분산구멍은 매트릭스모양의 배열로 형성되고, 상기 개구부는 상기 가스분산구멍의 배열을 방해하는 일없이 상기 가스분산구멍과는 별개로 형성되어 있다. 본 발명에 의하면, 감시용 창으로서의 개구부 및 광로의 존재에 관계없이 처리용기내로 프로세스 가스를 균일하게 공급할 수 있고, 균일한 플라즈마 처리를 실시할 수 있다.

    플라즈마 처리 장치
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1020040035813A

    公开(公告)日:2004-04-29

    申请号:KR1020047003954

    申请日:2002-09-19

    CPC classification number: H01J37/32623 H01J37/32688

    Abstract: 자장 형성 기구(21)의 각 자석 세그먼트(22)가 도 3a에 도시하는 바와 같이 각 자석 세그먼트(22)의 자극이 진공 챔버(1)측을 향한 상태로부터, 도 3b, 도 3c에 도시하는 바와 같이, 인접하는 자석 세그먼트(22)가 동기하여 반대 방향, 따라서 하나 건너 하나씩의 자석 세그먼트(22)가 동일한 방향으로 회전하여, 진공 챔버(1)내에 형성되는 반도체 웨이퍼(W)의 주위의 멀티폴 자장의 상태를 제어할 수 있도록 구성되어 있다. 이것에 의해서, 플라즈마 처리 프로세스의 종류에 따라서 적절한 멀티폴 자장의 상태를 용이하게 제어, 설정할 수 있어, 양호한 처리를 용이하게 실행할 수 있다.

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