삼차원 입체 구조의 제조 방법
    1.
    发明授权
    삼차원 입체 구조의 제조 방법 失效
    制造三维体系结构的方法

    公开(公告)号:KR100888841B1

    公开(公告)日:2009-03-17

    申请号:KR1020087016587

    申请日:2005-08-29

    CPC classification number: G01R1/06716 G01R1/06727 Y10T29/49002

    Abstract: 프로브 침은, 일단이 고정된 한 쌍의 꼬불꼬불한 형상의 빔과, 한 쌍의 꼬불꼬불한 형상의 빔의 타단에 설치되어, 한 쌍의 꼬불꼬불한 형상의 빔을 접속하기 위한 접속부를 포함하고, 접속부의 빔의 반대측에는 피검사물에 접촉하는 콘택터가 설치되어 있다. 한 쌍의 꼬불꼬불한 형상의 빔은 절곡의 주기가 같고, 절곡의 위상의 어긋남은 180˚이다.

    Abstract translation: 用于制造具有光束的探针的方法和放置在光束的尖端上的接触器包括准备Si晶片20,在Si晶片20上形成晶种层21,并且在晶种层上形成所需光束形状的凹槽 接着,用金属镀层24a,24b填充凹槽以形成所需的光束形状。

    경사도 센서 및 경사 검출 방법
    3.
    发明公开
    경사도 센서 및 경사 검출 방법 失效
    加速度传感器和内插检测方法

    公开(公告)号:KR1020050098310A

    公开(公告)日:2005-10-11

    申请号:KR1020057014663

    申请日:2004-02-10

    Abstract: An acceleration sensor (10) for detecting the inclinational deviation of an article from its basic position has a sensor chip for detecting an inclinational deviation, the sensor chip including a detecting axis or two intersecting detecting axes. An axis perpendicular to the detecting surface of the sensor chip is provided so as to be parallel to a reference surface of the article in the basic position. The sensor chip obtains an output signal in accordance with an inclinational deviation of the reference surface.

    Abstract translation: 用于检测制品与其基本位置的倾斜偏差的加速度传感器(10)具有用于检测倾斜偏差的传感器芯片,所述传感器芯片包括检测轴或两个相交的检测轴。 垂直于传感器芯片的检测表面的轴被设置为平行于基本位置的物品的参考表面。 传感器芯片根据参考表面的倾斜偏差获得输出信号。

    반도체 장치의 제조 방법
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101386944B1

    公开(公告)日:2014-04-18

    申请号:KR1020127027452

    申请日:2011-04-04

    Abstract: 절연막으로서 폴리이미드막 등의 유기막을 이용해도, 불활성 가스의 플라즈마의 조사에 의한 클리닝에 기인하는 절연막의 절연성의 저하를 회복할 수 있어, 리크(leak) 전류의 발생을 억제한 양질의 반도체 장치를 제조할 수 있는 방법을 제공한다. 기판에 한쪽의 면으로부터 다른 한쪽의 면에 형성된 전극까지 관통하는 홀을 형성하는 홀 형성 공정과, 홀 내에 유기 절연막을 형성하는 유기 절연막 형성 공정과, 홀 내의 측벽부의 유기 절연막을 남기고, 홀 내의 저부의 유기 절연막의 적어도 일부를 제거하여 전극에 관통시키는 공정과, 전극의 노출면을 불활성 가스의 플라즈마에 의해 클리닝하는 클리닝 공정과, 홀 내에 도체 금속을 충전하는 공정과, 산소 플라즈마를 작용시켜 유기 절연막의 표면층의 적어도 일부를 제거하는 공정과, 기판을 비산화성 분위기에서 열처리하는 공정을 구비한 반도체 장치의 제조 방법.

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