Abstract:
본원 발명은 아크릴 공중합체를 포함하는 다이싱 다이본딩 필름으로서, 상기 아크릴 공중합체 100 중량부에 대하여 히드록시기 함유 아크릴레이트 모노머 및 폴리에틸렌글리콜 (메타)아크릴레이트를 20 내지 40 중량부로 포함함으로써 링프레임과의 점착력이 우수한 비자외선형 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다. 또한 본원 발명은 경화 후 링프레임에 대한 점착력(x)이 2.5 N/25mm 이상이고, 상기 링프레임에 대한 점착력 및 접착층에 대한 점착력(y)의 비(y/x)가 1.3 이하인 점착층을 포함함으로써, 링프레임 탈리에 의한 공정 불량을 방지하고 높은 픽업 성공률을 나타내는 비자외선형 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다.
Abstract:
PURPOSE: A dicing die-bonding film is provided to differently produce peeling force of a surface contacting with a base film and a surface contacting with a wafer by adding specific metal oxide filler. CONSTITUTION: A dicing die-bonding film(10) has a first side(A) contacting to a base film and a second side(B) contacting to a semiconductor wafer. The dicing die-bonding film is formed into monolayer. Peel force of the first side is under 0.1 N/25mm. The peel force of the second side is over 0.2 N/25mm. A light hardening degree of the first side is 90% to 99%. A light hardening degree of the second side is 10% to 50%. The ratio of the first side and the second side is 1:5-30. The dicing die-bonding film includes a metal oxide particle selected by titanium dioxide, zinc oxide, or mixture thereof.
Abstract:
본 발명의 다이싱 다이본딩 필름은 기재필름에 접하는 제1면(A)과 반도체 웨이퍼에 접하는 제2면(B)을 가지며, 상기 제2면의 박리력은 제1면의 박리력보다 크고, 상기 제2면의 박리력은 0.2 N/25mm 이상인 것을 특징으로 한다. 상기 다이싱 다이본딩 필름은 기재필름 쪽에서는 박리가 잘 되고 웨이퍼 쪽에서는 다이싱 다이본딩 필름의 박리가 발생하지 않아 우수한 픽업 성능을 지니게 된다.
Abstract:
A back grinding protection film for protecting a semiconductor wafer is disclosed. The back grinding protection film for protecting a semiconductor wafer, as a back grinding protection film for protecting a semiconductor wafer where a buffer layer and an adhesive layer are stacked on a base material film, features that elastic modulus of indentation of the buffer layer at 25°C can be increased four to eighty times by ultraviolet irradiation.
Abstract:
The present invention relates to an adhesive film for protecting the surface of a semiconductor wafer including an adhesive layer containing a silane coupling agent, and more specifically, to an adhesive film for protecting the surface of a semiconductor wafer, wherein the increase rate of a void area is 10% or less 12 hours after the film is attached to the bump forming face of the semiconductor wafer.
Abstract:
The present invention relates to a wafer back grinding adhesive film comprising a buffer layer including a first acrylic copolymer; and an adhesion layer including a second acrylic copolymer, wherein the glass transition temperature difference between the first acrylic copolymer and the second acrylic copolymer is -10-10 °C.
Abstract:
본 발명은, 접착제층; 및 상기 접착제층에 접한 점착제층을 포함하며, 상기 점착제층의 ASTM D2979-71에 따라 측정된 자외선 조사 전(A 0 )과 자외선 조사 후(A 1 )의 점착력의 비(A 0 /A 1 )가 11 이상이고, 상기 점착제층의 자외선 조사 후 25 ℃에서의 저장탄성율이 0.5 x 10 6 Pa 내지 5 x 10 8 Pa 범위인, 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다.
Abstract:
본원 발명은 아크릴 공중합체를 포함하는 다이싱 다이본딩 필름으로서, 상기 아크릴 공중합체 100 중량부에 대하여 히드록시기 함유 아크릴레이트 모노머 및 폴리에틸렌글리콜 (메타)아크릴레이트를 20 내지 40 중량부로 포함함으로써 링프레임과의 점착력이 우수한 비자외선형 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다. 또한 본원 발명은 경화 후 링프레임에 대한 점착력(x)이 2.5 N/25mm 이상이고, 상기 링프레임에 대한 점착력 및 접착층에 대한 점착력(y)의 비(y/x)가 1.3 이하인 점착층을 포함함으로써, 링프레임 탈리에 의한 공정 불량을 방지하고 높은 픽업 성공률을 나타내는 비자외선형 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다.
Abstract:
The present invention relates to an adhesive film for protecting the surface of a semiconductor wafer to prevent damage to a wafer and a wafer bump formation surface and contamination during the grinding process of a bump non-formation surface of the surface of a semiconductor wafer. More specifically, the present invention relates an adhesive film for protecting the surface of a semiconductor wafer including a base film and an intermediate layer laminated on the base film. The intermediate layer includes an acrylic resin containing an alkyl (meth) acrylate monomer with two or more carbon atoms of an alkyl group. The elongation rate of the base film with laminated intermediate layer is 400 to 900%.