다이싱 다이본딩 필름
    2.
    发明公开
    다이싱 다이본딩 필름 无效
    定制电影胶片

    公开(公告)号:KR1020140139212A

    公开(公告)日:2014-12-05

    申请号:KR1020130059564

    申请日:2013-05-27

    CPC classification number: H01L21/6836 C09J7/20

    Abstract: 본 발명은,
    접착제층; 및 상기 접착제층에 접한 점착제층을 포함하며,
    상기 점착제층의 ASTM D2979-71에 따라 측정된 자외선 조사 전(A
    0 )과 자외선 조사 후(A
    1 )의 점착력의 비(A
    0 /A
    1 )가 11 이상이고,
    상기 점착제층의 자외선 조사 후 25 ℃에서의 저장탄성율이 0.5 x 10
    6 Pa 내지 5 x 10
    8 Pa 범위인, 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다.

    Abstract translation: 本发明包括粘合层; 以及接触粘合剂层的粘合剂层。 根据粘合剂层的ASTM D2979-71,在紫外线辐射(A0)至紫外线辐射后(A1)之前的粘附比(A0 / A1)为11以上。 在粘合剂层的紫外线辐射之后的25℃下的储能模量在0.5×10 -6 Pa至5×10 8 Pa的范围内。

    반도체 접착 필름용 조성물
    3.
    发明授权
    반도체 접착 필름용 조성물 有权
    用于半导体组装的接合膜组合物

    公开(公告)号:KR101340544B1

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:KR1020100131856

    申请日:2010-12-21

    Abstract: 본 발명은 아크릴계 수지, 에폭시계 수지, 방향족 아민계 경화제, 실란 커플링제 및 충진제를 특정 함량으로 포함시켜, 경화 속도를 늦춤으로써 경화 후에도 낮은 용융 점도와 높은 잔존 경화율을 유지하여 EMC 몰딩 과정에서도 보이드를 제거함으로써 높은 신뢰성을 확보하도록 하는 반도체 접착 필름용 조성물에 관한 것이다.

    반도체 접착 필름용 조성물
    7.
    发明公开
    반도체 접착 필름용 조성물 有权
    用于半导体组件的粘合膜组合物

    公开(公告)号:KR1020120070338A

    公开(公告)日:2012-06-29

    申请号:KR1020100131856

    申请日:2010-12-21

    Abstract: PURPOSE: A composition for semiconductor adhesive film is provided to maintain low melting point and the high residual cure index after a pre-cure process, thereby effectively removing void in epoxy molding compound molding. CONSTITUTION: A composition for semiconductor adhesive film comprises 50-85 weight% of acrylic resin, 5-40 weight% of epoxy-based resin, 2-15 weight% of aromatic amine based hardener, 5-40 weight% of filler, and 0.05-5 weight% of silane coupling agent. The composition for semiconductor adhesive film has a melting point which is measured at 175 deg. Celsius after 2 cycles of curing cycle which consists of 60 minutes at 125 deg. Celsius and 10 minutes at 150 deg. Is 2.0 x 10^6 poise or less. The acrylic resin has a glass transition temperature of (-15)-50 deg. Celsius.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于半导体粘合剂膜的组合物,用于在预固化过程之后保持低熔点和高残留固化指数,从而有效地除去环氧模塑料成型中的空隙。 构成:半导体粘合膜用组合物含有50〜85重量%的丙烯酸树脂,5-40重量%的环氧类树脂,2-15重量%芳族胺类固化剂,5-40重量%填料和0.05重量% -5重量%的硅烷偶联剂。 用于半导体粘合剂膜的组合物具有在175℃下测量的熔点。 2周期的固化循环后的摄氏度,其在125度下由60分钟组成。 摄氏150度,10分钟。 是2.0 x 10 ^ 6泊或更少。 丙烯酸树脂的玻璃化转变温度为(-15)-50℃。 摄氏度。

    경화형 폴리오르가노실록산 조성물, 봉지재, 및 광학기기
    9.
    发明公开
    경화형 폴리오르가노실록산 조성물, 봉지재, 및 광학기기 有权
    热固性聚硅氧烷组合物,包封和光学仪器

    公开(公告)号:KR1020160002241A

    公开(公告)日:2016-01-07

    申请号:KR1020140081295

    申请日:2014-06-30

    Abstract: 규소결합된알케닐기(Si-Vi)를가지는적어도 1 종의제1 실록산화합물, 및규소결합된수소(Si-H)를가지는적어도 1 종의제2 실록산화합물을포함하고, 상기제1 실록산화합물은하기화학식 1로표시되는실록산화합물을포함하는경화형폴리실록산조성물, 상기조성물을경화하여얻은봉지재, 및상기봉지재를포함하는광학기기를제공한다: [화학식 1] (RRRSiO)(RRSiO)(RSiO)(SiO-Y-SiO)(SiO)상기화학식 1에서, R 내지 R, Y, M1, D3, T1, T2, 및 Q1에대한정의는명세서에서정의한것과같다.

    Abstract translation: 提供一种可固化聚硅氧烷组合物,通过固化该组合物获得的密封剂和包含该密封剂的光学仪器。 本发明的可固化聚硅氧烷组合物包括:至少一种具有与硅键合的烯基的第一硅氧烷化合物(Si-Vi); 和至少一种具有与硅(Si-H)结合的氢的第二硅氧烷化合物。 第一硅氧烷化合物包括由化学式1表示的硅氧烷化合物:(R 1,R 3,R 8 R 9 AlSiO 2/2)_D 3(R 12 SiO 3/2)_T 3(SiO 3/2-Y ^ 3-SiO_3 / 2)_T2(SiO_4 / 2)_Q1。 在化学式1中,R 1至R 12,Y 3,M 1,D 3,T 1,T 2和Q 1与本说明书中所定义相同。

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