Abstract:
The invention relates to a silicon/germanium bipolar transistor, wherein a first n doped emitter region (1) and a second subsequent p doped base region and a third subsequent n doped collector region are formed in a silicon substrate (7). A first space charge region (4) is formed between the emitter region (1) and the base region (2). A second space charge region (5) is formed between the base region (2) and a collector region (3). The base region (2) and the edge region of the bordering emitter region (1) is alloyed with germanium. The concentration of germanium increases in the emitter region (1) leading towards the base region (2). The concentration of germanium in a transition area in which the first space charge zone (4) is located increases to a lesser degree than in the emitter region (1) or even decreases. The concentration of germanium in the base region (2) increases to a greater degree than in the transition region.
Abstract:
Es werden ein Verfahren und ein System zum Bereitstellen eines Fusing nach der Kapselung von Halbleiterbauelementen bereitgestellt. Bei einer Ausführungsform wird ein Halbleiterbauelement bereitgestellt, das Folgendes umfasst: ein Substrat (202), das einen Fusebereich (206) aufweist, mindestens eine Fuse (208), die in dem Fusebereich (206) angeordnet ist, und mindestens eine Schicht (210), die über dem Substrat (202) angeordnet ist, wobei die mindestens eine Schicht (210) mindestens eine die mindestens eine Fuse (208) exponierende Öffnung (212) aufweist.
Abstract:
The integrated component has a number of conductor paths (13) and a capacitor (12) with a dielectric layer (5) between 2 electrode layers (14,15), which together are provided using the same sequence of metallisation layers (3,4,7-11) as that for the adjacent conductor path. The capacitor electrode layers may each be coupled to an underlying or overlying metal conductor path layer via a perpendicular connection (2,16), e.g. formed in an underlying intermediate dielectric layer (1).
Abstract:
The method involves producing highly doped connection zones (10a-10c) in a semiconductor substrate (1) and a semiconductor layer in component areas (A, C), respectively. Another semiconductor layer is produced on the former layer that is produced on the substrate. Doped substances are implanted in the areas for forming a cathode zone of a varactor, which extends in a vertical direction until to the connection zones, and for forming a collector zone of a high frequency transistor, which extends in the vertical direction until to one of the zones, respectively.
Abstract:
A method for producing a bipolar transistor is described, which comprises providing a layer sequence, which comprises a substrate, a first oxide layer and a SOI layer, generating a collector region in the substrate, generating a second oxide layer on the layer sequence, generating a base region in the first oxide layer, such that the base region is in contact with the SOI layer, generating an emitter region on the base region such that the emitter region is isolated from the SOI layer, and generating a collector contact, a base contact and an emitter contact. The present invention is based on the knowledge that the production of a bipolar transistor can be made significantly less expensive when the above layer sequence is used for its production, and thereby, the base region is generated in the BOX layer while the collector region is formed in the substrate. Thereby, otherwise required production process steps and particularly layer deposition steps, such as for a polysilicon or oxide layer, are saved.
Abstract:
A thin lower electrode layer (2) having an optimally protected capacitor dielectric (3) is produced and structured. A conventional metallization layer for strip conductors is placed thereon as an upper electrode (11) and structured. The capacitor dielectric can be deposited on a very even, preferably metallic surface (e.g. preferably TiN), sealed by a thin, preferably metallic layer (e.g. TiN) and protected so that it does not become thinned or damaged by other process steps.
Abstract:
Ausführungsbeispiele beziehen sich auf Maschinen (200), umfassend ein bewegliches Teil (210), eine Sendeempfängerschaltungsanordnung (220), die ausgebildet ist zum Senden eines Funksignals in Richtung des beweglichen Teils und zum Empfangen einer Reflexion des Funksignals von dem beweglichen Teil, eine Bewertungsschaltungsanordnung (230), die ausgebildet ist zum Bestimmen einer Position und/oder einer Geschwindigkeit des beweglichen Teils basierend auf zumindest dem empfangenen Funksignal. Eine Distanz zwischen einer Antenne (226) der Sendeempfängerschaltungsanordnung (220) und dem beweglichen Teil ist weniger als 5 cm.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Halbleitermodul zur Erzeugung und/oder zum Empfang elektromagnetischer Strahlung. Es weist eine erste Gehäusemoldmassenschicht (126) auf, sowie ein IC-Bauelement (102, 202) mit einem integrierten Schaltkreis, das in die erste Gehäusemoldmassenschicht (126, 204) eingebettet ist, eine Zwischenschicht (117, 206) mit einer Umverdrahtungsschicht (121, 208), die an dem IC-Bauelement (102, 202) angeschlossen ist und die dazu dient, das IC-Bauelement (102, 202) extern anzuschließen. Außerdem ist wenigstens eine integrierte Antennenstruktur (106, 108, 210) vorgesehen, die innerhalb der Zwischenschicht (117, 206) angeordnet und an dem IC-Bauelement (102, 202) angeschlossen ist. Weiterhin ist ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Halbleitermoduls vorgesehen.
Abstract:
The integrated component has a number of conductor paths (13) and a capacitor (12) with a dielectric layer (5) between 2 electrode layers (14,15), which together are provided using the same sequence of metallisation layers (3,4,7-11) as that for the adjacent conductor path. The capacitor electrode layers may each be coupled to an underlying or overlying metal conductor path layer via a perpendicular connection (2,16), e.g. formed in an underlying intermediate dielectric layer (1).