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公开(公告)号:DE102014017098A1
公开(公告)日:2015-05-21
申请号:DE102014017098
申请日:2014-11-19
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: FORSTER MAGDALENA , GOLLER BERNHARD , MOTZ MARIO , SCHERR WOLFGANG , SCHMUT KATHARINA , SCHWEIZER PHILEMON , SORGER MICHAEL , WELLENZOHN GUENTHER
IPC: G11C5/14
Abstract: Es wird ein Speichersystem mit eigener Stromversorgung offenbart. Das System weist eine unbeständige Stromversorgungskomponente, eine Batteriekomponente, eine Schalterkomponente und eine flüchtige Speicherkomponente auf. Die unbeständige Stromversorgungskomponente ist so konfiguriert, dass sie eine zeitvariante Stromversorgung vorsieht. Die Batteriekomponente ist so konfiguriert, dass sie eine beständige Stromversorgung erzeugt. Die Schalterkomponente ist so konfiguriert, dass sie aus der zeitvarianten Stromversorgung und der beständigen Stromversorgung eine Dauerstromversorgung erzeugt. Die flüchtige Speicherkomponente ist so konfiguriert, dass sie Daten unter Verwendung der Dauerstromversorgung hält.
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公开(公告)号:DE102013111292A1
公开(公告)日:2014-04-17
申请号:DE102013111292
申请日:2013-10-14
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: FORSTER MAGDALENA , GOLLER BERNHARD , HIRSCHLER JOACHIM , SCHMUT KATHARINA , SCHWEIZER PHILEMON , SORGER MICHAEL , STERNAD MICHAEL , WALTER THOMAS
Abstract: Eine Batterieelektrode (300) gemäß diversen Ausführungsformen kann Folgendes umfassen: ein Substrat (310), das eine Oberfläche (312a, 312b, 314a) umfasst, die so konfiguriert ist, dass sie einem ionenführenden Elektrolyten (308) gegenüberliegt; und eine erste das Diffusionsvermögen ändernde Region (397) auf einem ersten Teil (310a) der Oberfläche (312a, 312b, 314a), wobei die erste das Diffusionsvermögen ändernde Region (397) so konfiguriert ist, dass die Diffusion von Ionen, die von dem Elektrolyten (308) geführt werden, in das Substrat (310) ändert, und wobei ein zweiter Teil (310b) des Substrats (310) frei von der ersten das Diffusionsvermögen ändernden Region (397) ist.
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公开(公告)号:GB2527921A
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:GB201508062
申请日:2015-05-12
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: BUCHER MANFRED , MAIER CHRISTIAN , MALE MATTHIAS , SCHWEIZER PHILEMON , STEINER THOMAS
IPC: H01L21/687 , H01L21/683
Abstract: A chuck system 10 for handling a wafer 12 that comprises a first and a second main surface, the chuck system 10 comprises a chuck 14 configured to hold the wafer 12 at the second main surface facing the chuck 14; a release device 16; and an actuator 17 configured to lift the release device 16 away from the chuck 14, where the release device 16 is configured such that the release device 16 mechanically engages with the wafer 14 at an edge portion of the second main surface of the wafer 18 when being lifted, thereby releasing the wafer 12 from the chuck 14. The release device 16 may be configured to mechanically engage with the wafer 12 at a number of discrete sections of the edge portion 18, the discrete sections may extend from the outer circumference of the wafer 12 to less than 1/50 of the size of the wafer.
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公开(公告)号:DE102015208699A1
公开(公告)日:2015-11-19
申请号:DE102015208699
申请日:2015-05-11
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: BUCHER MANFRED , MAIER CHRISTIAN , MALE MATHIAS , SCHWEIZER PHILEMON , STEINER THOMAS
IPC: H01L21/683 , C23C16/458 , H02N13/00
Abstract: Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung stellen ein Einspannsystem zur Handhabung eines Wafers bereit, der eine erste Hauptoberfläche und eine zweite Hauptoberfläche umfasst. Das Einspannsystem umfasst eine Einspannvorrichtung, die konfiguriert ist, den Wafer an der zweiten Hauptoberfläche zu halten, die zu der Einspannvorrichtung gerichtet ist. Das Einspannsystem umfasst ferner einen Aktor, der konfiguriert ist, die Freigabevorrichtung von dem der Einspannvorrichtung anzuheben. Die Freigabevorrichtung ist derart konfiguriert, dass die Freigabevorrichtung in den Wafer an einem Randabschnitt der zweiten Hauptoberfläche des Wafers mechanisch eingreift, wenn dieser angehoben wird, sodass der Wafer von der Einspannvorrichtung freigegeben wird.
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