-
公开(公告)号:DE102014114109A1
公开(公告)日:2016-03-31
申请号:DE102014114109
申请日:2014-09-29
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: PERZLMAIER KORBINIAN , OFF JÜRGEN , GOTSCHKE TOBIAS
Abstract: Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Halbleiterchips (10) angegeben, mit den folgenden Schritten: – Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (1), das eine Aufwachsfläche (1a) aufweist, die mit Saphir gebildet ist, – Aufbringen eines Maskenmaterials (2) auf die Aufwachsfläche (1a) des Aufwachssubstrats (1), – Strukturieren des Maskenmaterials (2) zu einer mehrfach zusammenhängenden Maskenschicht (21) durch Einbringen von Öffnungen (22) in das Maskenmaterial (2), wobei am Boden (23) zumindest mancher der Öffnungen (22) die Aufwachsfläche (1a) freigelegt wird, – Aufbringen einer Halbleiterschichtenfolge (3) in die Öffnungen (22) und auf die Maskenschicht (21), – Vereinzeln zumindest der Halbleiterschichtenfolge (3) zu einer Vielzahl von Halbleiterchips (10), wobei jeder Halbleiterchip (10) laterale Abmessungen (L) aufweist und die lateralen Abmessungen (L) groß sind gegen einen mittleren Abstand (A) der Öffnungen (22) zur nächstliegenden Öffnung.
-
公开(公告)号:DE112014000439A5
公开(公告)日:2015-10-15
申请号:DE112014000439
申请日:2014-01-08
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: MEYER TOBIAS , PETER MATTHIAS , WEBER MICHAELA , GOTSCHKE TOBIAS , OFF JÜRGEN
-
公开(公告)号:DE102016200957A1
公开(公告)日:2017-07-27
申请号:DE102016200957
申请日:2016-01-25
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GOTSCHKE TOBIAS , ROSSBACH GEORG
IPC: H01L33/20
Abstract: Es wird ein Substrat (1) mit einer Abscheideseite (10) und einer der Abscheideseite gegenüberliegenden Rückseite (11) angegeben, wobei an der Abscheideseite erste Strukturelemente und zweite Strukturelemente angeordnet sind und die ersten Strukturelemente und die zweiten Strukturelemente bereichsweise übereinander angeordnet sind. Weiterhin wird ein Halbleiterbauelement (8) mit einem solchen Substrat angegeben.
-
公开(公告)号:DE102015109677A1
公开(公告)日:2016-12-22
申请号:DE102015109677
申请日:2015-06-17
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GOTSCHKE TOBIAS , BERGBAUER WERNER , OFF JÜRGEN , LEHNHARDT THOMAS , FREY ALEXANDER
IPC: H01L33/12
Abstract: In mindestens einer Ausführungsform ist das Verfahren zur Herstellung von Halbleiterchips, insbesondere von Leuchtdiodenchips, eingerichtet und umfasst die Schritte: – Erzeugen einer Modulation an einer Wachstumsseite (20) eines Wachstumssubstrats (2), und – nachfolgend Wachsen einer Halbleiterschichtenfolge (4) auf dem Wachstumssubstrat (2), wobei durch die Modulation die Halbleiterschichtenfolge (4), in Draufsicht gesehen, abwechselnd stellenweise druckverspannt und stellenweise zugverspannt gewachsen wird, sodass während des Wachsens eine Durchbiegung (B) des Wachstumssubstrats (2) reduziert wird, im Vergleich zu einem Wachsen ohne der Modulation.
-
公开(公告)号:DE112014002167A5
公开(公告)日:2016-01-07
申请号:DE112014002167
申请日:2014-04-17
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: PETER MATTHIAS , MEYER TOBIAS , OFF JÜRGEN , WALTER ALEXANDER , GOTSCHKE TOBIAS , LEIRER CHRISTIAN
-
公开(公告)号:DE112015004445A5
公开(公告)日:2017-07-20
申请号:DE112015004445
申请日:2015-09-01
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: OFF JÜRGEN , GOTSCHKE TOBIAS , PERZLMAIER KORBINIAN
IPC: H01L33/00
-
7.
公开(公告)号:DE102015109761A1
公开(公告)日:2016-12-22
申请号:DE102015109761
申请日:2015-06-18
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: LEHNHARDT THOMAS , BERGBAUER WERNER , OFF JÜRGEN , GALLER BASTIAN , GOTSCHKE TOBIAS
Abstract: Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Nitrid-Halbleiterbauelements (100) angegeben, umfassend die Schritte: – Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (1) mit einer Aufwachsoberfläche (10), die durch eine ebene Fläche (11) mit einer Vielzahl dreidimensional ausgeformter Oberflächenstrukturen (12) auf der ebenen Fläche (11) gebildet wird, – Aufwachsen einer Nitrid-basierten Halbleiterschichtenfolge (30) auf der Aufwachsoberfläche (10), wobei das Aufwachsen selektiv auf einer Anwachsfläche (13) des Aufwachssubstrats beginnt, und wobei die Anwachsfläche (13) kleiner als 45 % der Aufwachsoberfläche (10) ist. Weiterhin wird ein mit dem Verfahren herstellbares Nitrid-Hableiterbauelement (100) beschrieben.
-
公开(公告)号:DE102013200509A1
公开(公告)日:2014-07-17
申请号:DE102013200509
申请日:2013-01-15
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: MEYER TOBIAS , PETER MATTHIAS , WEBER MICHAELA , GOTSCHKE TOBIAS , OFF JÜRGEN
Abstract: Die Erfindung betrifft einen optoelektronischen Halbleiterchip, aufweisend eine Halbleiterschichtenfolge (130) mit einer aktiven Zone (135) zum Erzeugen einer Lichtstrahlung und eine Konversionsstruktur (120, 125). Die Konversionsstruktur (120, 125) weist Konversionsbereiche (121, 126, 221) zum Konvertieren der erzeugten Lichtstrahlung auf, zwischen denen nichtkonvertierende Bereiche (122, 127, 222) angeordnet sind. Die Erfindung betrifft des Weiteren ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Halbleiterchips.
-
公开(公告)号:DE102016200953A1
公开(公告)日:2017-07-27
申请号:DE102016200953
申请日:2016-01-25
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GOTSCHKE TOBIAS , BERGBAUER WERNER , LEHNHARDT THOMAS , ZINI LORENZO , DRECHSEL PHILIPP
IPC: H01L33/20
Abstract: Es wird ein Substrat (1) mit einer Abscheideseite (10) und einer der Abscheide gegenüberliegenden Rückseite (11) angegeben, wobei an der Abscheideseite eine Mehrzahl von Strukturelementen (2) angeordnet ist und eine Anordnung der Strukturelemente eine Mehrzahl von Häufungsbereichen (4) mit jeweils zumindest zwei Strukturelementen aufweist.
-
公开(公告)号:DE102013104192A1
公开(公告)日:2014-10-30
申请号:DE102013104192
申请日:2013-04-25
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: MEYER TOBIAS , PETER MATTHIAS , OFF JÜRGEN , WALTER ALEXANDER , GOTSCHKE TOBIAS , LEIRER CHRISTIAN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein optoelektronisches Halbleiterbauelement mit einer Schichtenfolge mit einer p-dotierten Schicht, mit einer n-dotierten Schicht und mit einer zwischen der n-dotierten Schicht und der p-dotierten Schicht angeordneten aktiven Zone zum Erzeugen einer elektromagnetischen Strahlung, wobei die n-dotierte Schicht wenigstens GaN aufweist, wobei in der n-dotierten Schicht eine Zwischenschicht angeordnet ist, wobei die Zwischenschicht AlxGa1-xN aufweist, wobei 0
-
-
-
-
-
-
-
-
-