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公开(公告)号:DE102015104700A1
公开(公告)日:2016-09-29
申请号:DE102015104700
申请日:2015-03-27
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: HIRAI ASAKO , MEYER TOBIAS , DRECHSEL PHILIPP , STAUSS PETER , NIRSCHL ANNA , GOMEZ-IGLESIAS ALVARO , NIEBLING TOBIAS , GALLER BASTIAN
Abstract: In einer Ausführungsform umfasst der optoelektronische Halbleiterchip (1) eine aktive Zone mit einer Multi-Quantentopfstruktur (3), die mehrere Quantentopfschichten (31) und Barriereschichten (32) beinhaltet, die entlang einer Wachstumsrichtung (G) abwechselnd aufeinanderfolgen und die sich jeweils durchgehend über die gesamte Multi-Quantentopfstruktur (3) erstrecken. In einem Querschnitt parallel zur Wachstumsrichtung (G) gesehen weist die Multi-Quantentopfstruktur (3) zumindest einen Emissionsbereich (41) und mehrere Transportbereiche (42) auf, die in einer Richtung senkrecht zur Wachstumsrichtung (G) abwechselnd aufeinanderfolgen. Die Quantentopfschichten (31) und/oder die Barriereschichten (32) in den Transportbereichen (42) sind dünner gestaltet und/oder weisen eine andere Materialzusammensetzung auf als in den Emissionsbereichen (41).
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公开(公告)号:DE112016001422A8
公开(公告)日:2018-04-12
申请号:DE112016001422
申请日:2016-03-29
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: HIRAI ASAKO , MEYER TOBIAS , DRECHSEL PHILIPP , STRAUSS PETER , NIRSCHL ANNA , GOMEZ-IGLESIAS ALVARO , NIEBLING TOBIAS , GALLER BASTIAN
IPC: H01L33/06
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公开(公告)号:DE102011112706A1
公开(公告)日:2013-03-07
申请号:DE102011112706
申请日:2011-09-07
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: KATZ SIMEON , GALLER BASTIAN , STRASBURG MARTIN , SABATHIL MATTHIAS , DRECHSEL PHILIPP , BERGBAUER WERNER , MANDL MARTIN
IPC: H01L33/04
Abstract: Es wird ein optoelektronisches Bauelement (11) angegeben, bei dem die aktive Schicht (10) eine Vielzahl von lateral voneinander beabstandeten Strukturelementen (6) aufweist. Die Strukturelemente (6) weisen jeweils eine Quantententopfstruktur (5) auf, die mindestens eine Barriereschicht (2) aus Inx1Aly1Ga1-x1-y1N mit 0 ≤ x1 ≤ 1, 0 ≤ y1 ≤ 1 und x1 + y1 ≤ 1, und mindestens eine Quantentopfschicht (1) aus Inx2Aly2Ga1-x2-y2N mit 0 ≤ x2 ≤ 1, 0 ≤ y2 ≤ 1 und x2 + y2 ≤ 1 umfasst.
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公开(公告)号:DE112016001422A5
公开(公告)日:2018-01-04
申请号:DE112016001422
申请日:2016-03-29
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: HIRAI ASAKO , MEYER TOBIAS , DRECHSEL PHILIPP , STAUSS PETER , NIRSCHL ANNA , GOMEZ-IGLESIAS ALVARO , NIEBLING TOBIAS , GALLER BASTIAN
IPC: H01L33/06
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公开(公告)号:DE102015109761A1
公开(公告)日:2016-12-22
申请号:DE102015109761
申请日:2015-06-18
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: LEHNHARDT THOMAS , BERGBAUER WERNER , OFF JÜRGEN , GALLER BASTIAN , GOTSCHKE TOBIAS
Abstract: Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Nitrid-Halbleiterbauelements (100) angegeben, umfassend die Schritte: – Bereitstellen eines Aufwachssubstrats (1) mit einer Aufwachsoberfläche (10), die durch eine ebene Fläche (11) mit einer Vielzahl dreidimensional ausgeformter Oberflächenstrukturen (12) auf der ebenen Fläche (11) gebildet wird, – Aufwachsen einer Nitrid-basierten Halbleiterschichtenfolge (30) auf der Aufwachsoberfläche (10), wobei das Aufwachsen selektiv auf einer Anwachsfläche (13) des Aufwachssubstrats beginnt, und wobei die Anwachsfläche (13) kleiner als 45 % der Aufwachsoberfläche (10) ist. Weiterhin wird ein mit dem Verfahren herstellbares Nitrid-Hableiterbauelement (100) beschrieben.
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公开(公告)号:DE102017105397A1
公开(公告)日:2018-09-20
申请号:DE102017105397
申请日:2017-03-14
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GALLER BASTIAN , OFF JÜRGEN
Abstract: Das Verfahren ist zur Herstellung von Leuchtdioden eingerichtet und umfasst die folgenden Schritte in der angegebenen Reihenfolge:A) Wachsen einer n-leitenden n-Schicht (22),B) Wachsen einer aktiven Zone (23) zur Erzeugung ultravioletter Strahlung,C) Wachsen einer p-leitenden p-Schicht (24),D) Erzeugen einer p-leitenden Halbleiterkontaktschicht (25) mit einer variierenden Dicke und mit einer Vielzahl von Dickenmaxima (4) direkt an der p-Schicht (24), undE) Anbringen einer ohmsch-leitenden Elektrodenschicht (3) direkt auf der Halbleiterkontaktschicht (25),wobei- die n-Schicht (22) und die aktive Zone (23) je auf AlGaN und die p-Schicht (24) auf AlGaN oder InGaN basieren und die Halbleiterkontaktschicht (25) eine GaN-Schicht ist, und- die Dickenmaxima (4) in Draufsicht gesehen eine Flächenkonzentration von mindestens 10cmaufweisen.
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公开(公告)号:DE102012217681A1
公开(公告)日:2014-03-27
申请号:DE102012217681
申请日:2012-09-27
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GALLER BASTIAN , ZEISEL ROLAND , BINDER MICHAEL
Abstract: Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Bauteil (101), umfassend: – eine Halbleiterschichtenfolge (103) mit einer Mehrfach-Quantentopf-Struktur (105, 301), – wobei die Mehrfach-Quantentopf-Struktur (105, 301) einen ersten Quantentopf (107, 303) mit einer ersten Bandlückenenergie und – einen zweiten Quantentopf (109, 305) mit einer zweiten Bandlückenenergie aufweist, die größer ist als die erste Bandlückenenergie – wobei der erste Quantentopf (107, 303) und der zweite Quantentopf (109, 305) benachbart zu einander gebildet sind, – wobei eine Differenz zwischen der ersten und der zweiten Bandlückenenergie derart gewählt ist, dass mittels einer Anregung des ersten Quantentopfes (107, 303) gebildete Ladungsträger (319, 321) eine Energie aus einem Verlustprozeß, insbesondere einem Augerprozeß, nutzen können, um in den zweiten Quantentopf (109, 305) zu gelangen, um in dem zweiten Quantentopf (109, 305) strahlend zu rekombinieren. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Betreiben des optoelektronischen Bauteils (101).
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公开(公告)号:WO2016156312A1
公开(公告)日:2016-10-06
申请号:PCT/EP2016056794
申请日:2016-03-29
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: HIRAI ASAKO , MEYER TOBIAS , DRECHSEL PHILIPP , STAUSS PETER , NIRSCHL ANNA , GOMEZ-IGLESIAS ALVARO , NIEBLING TOBIAS , GALLER BASTIAN
IPC: H01L33/06
CPC classification number: H01L33/06
Abstract: In one embodiment the optoelectronic semiconductor chip (1) comprises an active zone with a multiple quantum well structure (3) containing a number of quantum well layers (31) and barrier layers (32) disposed sequentially in an alternating manner in a growth direction (G), each layer extending continuously over the entire multiple quantum well structure (3). When viewed in cross-section parallel to the growth direction (G), the multiple quantum well structure (3) has at least one emission region (41) and a number of transport regions (42) disposed sequentially in an alternating manner in a direction perpendicular to the growth region (G). The quantum well layers (31) and/or the barrier layers (32) in the transport regions (42) are thinner than and/or have a different material composition from those in the emission regions (41).
Abstract translation: 在光电子半导体芯片的实施例(1)包括一个具有多量子阱结构(3),其包括沿着生长方向(G)设置在多个量子阱层(31)和阻挡层(32)的有源区彼此跟随交替和其中的每一个连续延伸超过 整个多量子阱结构(3)延伸。 看到的截面中,以生长方向(G)平行,所述多量子阱结构(3)的至少一个发射区(41)和多个输送区域(42),其交替地跟随在一个方向上相互垂直于生长方向(G)的。 在传送区域(42)的量子阱层(31)和/或所述阻挡层(32)被制造得更薄和/或具有不同的材料组成比在发射区(41)。
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公开(公告)号:DE112018001344A5
公开(公告)日:2019-11-28
申请号:DE112018001344
申请日:2018-03-13
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: GALLER BASTIAN , OFF JÜRGEN
IPC: H01L33/22
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10.
公开(公告)号:DE102017113531A1
公开(公告)日:2018-12-20
申请号:DE102017113531
申请日:2017-06-20
Applicant: OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
Inventor: TONKIKH ALEXANDER , GALLER BASTIAN
IPC: H01L33/06
Abstract: Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (100) beschrieben, mit einer Halbleiterschichtenfolge (20), die auf einem Phosphid-Verbindungshalbleitermaterial basiert, wobei- die Halbleiterschichtenfolge (20) einen p-Typ Halbleiterbereich (4), einen n-Typ Halbleiterbereich (8) und eine zwischen dem p-Typ Halbleiterbereich (4) und dem n-Typ Halbleiterbereich (8) angeordnete aktive Schicht (6) enthält,- die aktive Schicht (6) als Mehrfach-Quantentopfstruktur (6A, 6B) ausgebildet ist und abwechselnde Quantentopfschichten (6A) und Barriereschichten (6B) aufweist,- an einer dem p-Typ Halbleiterbereich (4) zugewandten Seite der aktiven Schicht (6) und an einer dem n-Typ Halbleiterbereich (8) zugewandten Seite der aktiven Schicht (6) jeweils eine Ladungsträgerbarriereschicht (5, 7) angeordnet ist, die eine größere elektronische Bandlücke aufweist als die Quantentopfschichten (6A) und die Barriereschichten (6B), und- die Ladungsträgerbarriereschichten (5, 7) eine Dicke von mindestens 5 nm aufweisen.
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