Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Freilegung von Seitenflächen (31) eines Halbleiterkörpers (2) angegeben, bei dem der Halbleiterkörper (2) aufweisend eine sich lateral erstreckende erste Hauptfläche (201) bereitgestellt wird. Eine Mehrzahl von vertikalen Seitenflächen (31) wird ausgebildet, indem Material des Halbleiterkörpers (2) teilweise abgetragen wird und die erste Hauptfläche (201) dadurch bereichsweise entfernt wird, wobei die Seitenflächen (31) jeweils mit der verbleibenden ersten Hauptfläche (201) einen Winkel (α) zwischen einschließlich 110° und 160° bilden. Eine Schutzschicht (4) wird auf den Halbleiterkörper (2) aufgebracht, sodass die Schutzschicht (4) in Draufsicht die verbleibende erste Hauptfläche (201) und die schräg ausgebildeten Seitenflächen (31) vollständig bedeckt. Anschließend wird die Schutzschicht (4) bereichsweise entfernt, wobei die Schutzschicht (4) während eines gemeinsamen Verfahrensschritts aufgrund der Neigung in Bereichen auf den schräg ausgebildeten Seitenflächen (31) entfernt wird und in Bereichen auf der verbleibenden ersten Hauptfläche (201) zumindest teilweise erhalten bleibt.
Abstract:
The invention relates to an optoelectronic semiconductor chip (10), which comprises a semiconductor body (1) made of semiconductor material, a p-contact layer (21a) and an n-contact layer (2). The semiconductor body (1) comprises an active layer (1a) provided for generating radiation. The semiconductor body has a p-side (1c) and an n-side (1b), between which the active layer (1a) is arranged. The p-contact layer (21a) is provided for electrical contacting of the p-side (1c). The n-contact layer (2) is provided for electrical contacting of the n-side (1b). The n-contact layer (2) contains a TCO layer (2a) and a mirror layer (2b), wherein the TCO layer (2a) is arranged between the n-side (1b) of the semiconductor body (1) and the mirror layer (2b).
Abstract:
The invention relates to a radiation-emitting component, comprising a carrier, a semiconductor chip arranged on said carrier, the semiconductor chip having an active layer for generating electromagnetic radiation and a radiation exit surface, a first and a second contact structure for electrically contacting the semiconductor chip, a first and a second contact layer, the semiconductor chip being electrically connected to the first contact structure via the first contact layer and to the second contact structure via the second contact layer, and a passivation layer arranged on the semiconductor chip. Said passivation layer comprises an organic polymer of the general formula (I) wherein the groups R1 to R16 independently represent H, CH3, F, Cl or Br, and n has a value of from 10 to 500.000.
Abstract:
A method for producing a light-emitting semiconductor component is specified, wherein a light-emitting semiconductor chip (2) is arranged on a mounting area (10) of a carrier (1), wherein the semiconductor chip (2) is electrically connected to electrical contact regions (11, 12) on the mounting area (10), and wherein an encapsulation layer (3) is applied to the semiconductor chip (2) by means of atomic layer deposition, wherein all surfaces of the semiconductor chip (2) which are free after mounting and electrical connection are covered with an encapsulation layer (3). Furthermore, a light-emitting semiconductor component is specified.
Abstract:
Es wird eine Halbleiterlaserdiode (100) angegeben, die eine durch ein Epitaxieverfahren hergestellte Halbleiterschichtenfolge (2) mit zumindest einer aktiven Schicht (3) aufweist, wobei auf zumindest einem Oberflächenbereich (20) der Halbleiterschichtenfolge (2) eine Gallium-haltige Passivierungsschicht (10) angeordnet ist.Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterlaserdiode (100) angegeben.
Abstract:
Es wird ein Laserdiodenchip (1) beschrieben, bei dem mindestens eine Laserfacette (9) eine Beschichtung (10) aufweist. Die Beschichtung (10) weist mindestens eine anorganische Schicht (14, 15, 16, 17, 18) und mindestens eine organische Schicht (20, 21, 22) auf.
Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Verkapselung eines optoelektronischen Bauelements angegeben, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist: – Bereitstellen einer Oberfläche (6), die verkapselt werden soll, – Erzeugen von reaktiven Sauerstoffgruppen (8) und/oder reaktiven Hydroxygruppen auf dieser Oberfläche (6), und – Aufbringen einer Passivierungsschicht (9) auf diese Oberfläche (6) mittels Atomlagenabscheidung. Ferner wird ein Leuchtdioden-Chip (1) bereitgestellt.
Abstract:
Verfahren zum Herstellen einer Komponente (208) eines optoelektronischen Bauelements (209), das Verfahren aufweisend Aufbringen einer Leuchtstoffschicht (202) auf einen Träger (201), wobei die Leuchtstoffschicht (202) Leuchtstoffpartikel (204) aufweist, wobei die Leuchtstoffpartikel (204) derart aufgebracht werden, dass zwischen den Leuchtstoffpartikeln (204) Hohlräume (203) gebildet werden; und Gasphasen-Abscheiden eines Matrixstoffes (205) auf der Leuchtstoffschicht (202), so dass zumindest ein Teil des Matrixstoffes (205) die Hohlräume (203) zumindest teilweise füllt.