Abstract:
본 발명은 수직으로 적층되는 층수가 늘어나더라도 층 선택을 위한 SSL 수의 증가를 최소화하여 불필요한 면적 소모를 없앨 수 있는 LSM(Layer Selection by Multi-level operation)이 가능한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이 및 그 동작방법에 관한 것이다.
Abstract:
PURPOSE: A NAND flash memory array having a 3D star structure and an operation method thereof are provided to easily increase the degree of integration in a memory device by arranging unit building structures at regular intervals in an x-axis direction or a y-axis direction. CONSTITUTION: A cell formation part (300) includes cell gates. The cell gates have yz planes. A string selection part (200) consists of string selection transistors and string selection bars. A contact part (100) consists of an active line connection part and a bit line contact part. The bit line contact part is connected to one end of the active line connection part.
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing a semiconductor device and a related device are provided to prevent the exposure of a substrate by forming a deep junction in a substrate. CONSTITUTION: A device isolation layer (13) is formed on a substrate. An active area (12) is defined in the device isolation layer. A gate dielectric layer (15) is formed on the active region. A gate electrode (17) is formed on the gate dielectric layer. The active region includes P-type or N type impurities.
Abstract:
PURPOSE: A field effect transistor having a back-gate and a method for forming the same are provided to effetely restrain an off-state leakage current and to secure a semiconductor device having excellent electrical properties. CONSTITUTION: A back-bias region(37) is formed on a substrate(11). A filling isolation layer(15) covers the substrate and the back-bias region. A body is partly overlapped with the back-bias region. A drain(47) is contacted with the body. A gate electrode(25) covers the upper and the lateral surface of the body.
Abstract:
본 발명은 박막 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 습식 식각시 발생되는 언더컷 현상을 적극 이용하여 게이트 전극의 에지 부분을 라운딩된 형태로 제작함으로써, 험프(hump)의 발생을 방지하고 동시에 온전류(on current)를 향상시킬 수 있는 에지 부분이 라운딩된 게이트를 갖는 박막 트랜지스터의 제조방법에 관한 것이다.
Abstract:
본 발명은 단전자 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 채널 영역과 일함수 차이가 나는 물질을 측벽 스페이서 게이트로 형성하여, 이러한 일함수 차이로 채널에 터널링 장벽이 형성되는 성질을 이용한 단전자 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것이다.
Abstract:
PURPOSE: A driving method of an active type display device is provided to recover threshold voltage of a thin film transistor by applying negative bias voltage to a drain electrode of a switching transistor. CONSTITUTION: A switching transistor is connected to a pixel. Negative bias voltage is applied to the switching transistor. The negative bias voltage is applied before charging each pixel. Threshold voltage of the switching transistor is recovered. The negative bias voltage is applied to a drain electrode of the switching transistor.
Abstract:
본 발명은 확장된 채널을 갖는 단전자 트랜지스터 및 그 공정방법에 관한 것으로, 리세스된 실리콘 핀에 채널이 형성되도록 함으로써, 채널길이를 길게 확장하여 누설전류로 작용하는 MOSFET 전류를 획기적으로 줄일 수 있고, 열산화공정 및 측벽공정에 의하여 양자점에 영향을 미치는 컨트롤 게이트의 커패시턴스 값이 최소가 되도록 함으로써, 동작온도를 높일 수 있는 효과가 있다. 리세스, 채널, 양자점, 단전자, 트랜지스터, SET