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公开(公告)号：CN101652665A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200880010281.1
申请日：2008-03-12
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R1/06761 , G01R1/06727 , G01R1/07342 , G01R3/00 , Y10T29/49204
Abstract: 接触器(50)具备构成后端侧设置在基部(51)且顶端侧从基部(51)突出的梁部(53)的一部分的硅层(56b)、在硅层(56b)上形成并作为绝缘层的SiO 2 层(56a)、以及在SiO 2 层(56a)上形成的导电层(54)。
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公开(公告)号：CN100576832C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200480026393.8
申请日：2004-09-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 加藤隆志
IPC: H04L27/00
CPC classification number: H04L27/364
Abstract: 校正正交调制器的偏移误差。一种装置包括：第一校正信号输出单元(50)，它基于来自180°相位放大器(27)的本地信号(相位：0°)或来自180°相位放大器(23)的相移本地信号(相位：180°)而输出第一校正信号；第二校正信号输出单元(60)，它基于来自180°相位放大器(37)的正交本地信号(相位：90°)或来自180°相位放大器(33)的正交相移本地信号(相位：270°)而输出第二校正信号；以及校正信号输出单元(70)，它基于第一和第二校正信号而输出校正信号，其中通过加法器(46)将校正信号进一步与来自I信号混频器(42)和Q信号混频器(44)的输出相加，结果正交调制的偏移误差得以校正。
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公开(公告)号：CN101606216A
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200880004555.6
申请日：2008-02-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01B15/00 , H01J37/045 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/004 , H01J2237/24585
Abstract: 本发明提供一种具有测长功能的扫描型电子显微镜以及试样尺寸测定方法，能够减少由测定对象的图案形状引起的测长值的变动并提高测长精度。具有测长功能的扫描型电子显微镜具有：电子枪，其发射电子束；测定对象区域设定部，其设定形成在试样上的图案的测定区域；存储部，其记录所指定的测定区域；束闸部，其根据测定区域来控制电子束的照射；以及控制部，其从存储部提取所指定的测定区域，对于该测定区域以外的区域，由束闸部来阻断电子束，对于该测定区域，使通过了所述束闸部的电子束照射在试样上来取得该测定区域的图像，并进行图案的测长。也可以是，测定区域是一对测定区域，各测定区域的面积相等。
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公开(公告)号：CN101583840A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200680056314.7
申请日：2006-11-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/01 , G01R31/2893
Abstract: 用第二相机6b拍摄被测试TCP的测试焊点，获取该测试焊点的坐标数据，同时获取与探针卡板8的探针81的接触面的位置信息相关联地设于探针卡板8的特征部84的坐标数据，根据该特征部84的坐标数据推断出探针81的接触面的位置信息，并根据所获取的测试焊点的坐标数据和所推断的探针81的接触面的位置信息，求出测试焊点和探针81的接触面之间的位置偏移量，基于该位置偏移量通过探针卡板台7使探针卡板8移动，自动地进行探针81对于被测试TCP的测试焊点的位置对准。因此，能够极精确地进行TCP的测试焊点和探针卡板8的探针81之间的位置对准。
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公开(公告)号：CN101512373A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200780032504.X
申请日：2007-08-15
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R35/00
Abstract: 一种误差因子确定设备20包括：误差因子记录单元，记录信号发生系统100中的误差因子Eija，该信号发生系统100包括用于生成信号的信号发生单元12的信号发生单元12和用于输出信号的输出端子19a；反射系数推导单元24，基于当信号正从输出端子19a输出时信号的测量结果R1和R2及记录在误差因子记录单元中的误差因子Eija来推导输出端子19a的反射系数Xm；以及真/假确定单元，基于导出的反射系数Xm及反射系数的真值确定所记录的误差因子Eija为真还是为假。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101512356A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200680055826.1
申请日：2006-09-15
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893
Abstract: 测试托盘TST具备可收容IC器件的多个插入件82和可游动地保持该插入件82的框架构件81，各插入件82以与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向置放在框架构件82上，插入件82配置成沿与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向叠置在框架构件81上。
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公开(公告)号：CN100526896C
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200480043728.7
申请日：2004-07-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2887 , G01R31/2891 , Y10T29/49218 , Y10T29/53209 , Y10T29/53213
Abstract: 推压器(30)由推压器座(31)和可拆装地安装在推压器座(31)上的推压子(32)构成。具体的是，在推压子(32)的基部设置凸缘部(321)，在推压器座(31)设置平面视为コ字形的板(33)。然后，通过由板(33)支承推压子(32)的凸缘部(321)同时使推压子(32)相对推压器座(31)滑动，从而不需要工具就可以使推压子(32)相对于推压器(30)拆装。
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公开(公告)号：CN101495819A
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200780028515.0
申请日：2007-07-30
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 拉里·斯塔基 , 阿纳斯塔西奥·戈纳斯 , 罗伯特爱德华·阿尔代 , 大卫·余
IPC: F25B29/00
CPC classification number: H01L23/4735 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及一种通过在与设备(406)热接触的散热器(415)中循环流体来控制设备(406)温度的装置。所述装置包括用于输入具有第一温度的冷流体部分的可调节冷输入端(410)，以及用于输入具有高于第一温度的第二温度的热流体部分的可调节热输入端(420)。所述装置进一步包括与冷输入端(410)以及热输入端(420)相连的腔室(417)，冷流体部分与热流体部分在所述腔室中混合成混合流体冲击到散热器(415)上。所述混合流体具有直接影响散热器(415)温度的混合温度。所述冷输入端(410)以及热输入端(420)经过调节以动态地控制所述混合温度，从而使得所述散热器温度能够补偿设备(406)温度的改变并且维持设备(406)的设定点温度。
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公开(公告)号：CN100520987C
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200580016532.3
申请日：2005-05-23
IPC: H01B11/18
CPC classification number: H01B11/1847 , H01B11/1839
Abstract: 本发明提供一种高精度发泡同轴电缆，即使电缆附加有弯曲、扭转、滑动等机械应力，绝缘体、外部导体的形状变化也很小，可以维持外形、外径，能够减少特性阻抗值的变动。该高精度发泡同轴电缆(10)包括：绞合导电体而构成的内部导体(1)，在内部导体(1)的外周缠绕多孔带状体(21)而构成的绝缘体(2)，以及在绝缘体(2)的外周编织多条导电细线而构成的外部导体(3)；使绝缘体(2)的外形成形为正圆形，并且使绝缘体(2)的外径相对于刚进行了缠绕后的绝缘体(2)的外径以3～5%的缩减率成形，以及使外部导体(3)的外形成形为正圆形，并且使外部导体(3)的外径相对于刚进行了编织后的外部导体(3)的外径以2～4%的缩减率成形，使其特性阻抗值的精度为±1Ω。
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公开(公告)号：CN101313366A
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200780000215.1
申请日：2007-04-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G11C29/56 , G11C29/56004
Abstract: 本实施方式的试验装置对被试验存储器进行试验，所述被试验存储器将多个位作为页，具备可按多个页所构成的块来改写数据的块功能，所述试验装置包括：模式产生部(ALPG)，其生成页的地址信息，产生试验模式；波形整形部(FC)，其对试验模式进行整形，输出基于该试验模式的试验信号；比较部(LC)，其将从所述被试验存储器输出的结果信号与期待值进行比较；和不良块存储器(BBM)，其预先存储被试验存储器的不良块的信息，在由地址信息确定的页包含在不良块中的情况下输出不良信号，该不良信号用于使地址信息跳到该不良块的下一个试验对象块中含有的页的地址信息。
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