양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조 방법
    11.
    发明授权
    양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조 방법 失效
    具有量子点结构的半导体器件的制造方法

    公开(公告)号:KR100599357B1

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:KR1020050002987

    申请日:2005-01-12

    Abstract: 본 발명은 양점점 구조를 가지는 반도체 소자 제조시, 낮은 양자점 성장온도에 의해서 생성된 결함을 유전층을 형성한 후 열처리를 실시하여 감소시키기 위한 양자점 구조를 가지는 반도체 소자를 제조하기 위한 발명에 관한 것으로써, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판상에 버퍼층을 형성하는 단계; c) 상기 버퍼층 상에 양자점을 형성하는 단계; d) 상기 양자점 상에 제 1 덮개층을 형성하는 단계; e) 상기 제 1 덮개층 상에 SiO
    2 유전막을 형성하는 단계; 및 f) 열처리를 실시하는 단계를 포함하는 양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조 방법을 제공함으로써 광특성을 향상시킬 수 있다.
    양자점, 유전막, 열처리, 결함, 감쇠시간(decay time)

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于制造具有量子点结构的半导体器件的发明,该半导体器件通过在形成介电层之后进行热处理而在具有双边结构的半导体器件中形成由低量子点生长温度产生的缺陷, a)制备基底; b)在衬底上形成缓冲层; c)在缓冲层上形成量子点; d)在量子点上形成第一覆盖层; e)形成第一层SiO

    다양한 크기의 양자점으로 이루어진 활성층을 이용하는고휘도 발광소자 및 그 제조 방법
    12.
    发明公开
    다양한 크기의 양자점으로 이루어진 활성층을 이용하는고휘도 발광소자 및 그 제조 방법 有权
    使用形成有各种尺寸的量子的活性层的超级亮度二极管及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020060037033A

    公开(公告)日:2006-05-03

    申请号:KR1020040086139

    申请日:2004-10-27

    CPC classification number: B82Y10/00 H01L33/0045

    Abstract: 파장대역폭이 넓고 광출력이 큰 고휘도 발광소자 및 그 제조 방법을 제공한다. 이를 위해, 기판, 상기 기판 상에 형성되어 방출되는 광을 구속하는 제 1 클래딩층 및 제2 클래딩층, 상기 제1 클래딩층 및 제2 클래딩층 사이에 형성되어 사전설정된 적어도 두 파장의 광을 방출하는 CQD 양자점 구조의 활성층을 포함하는 고휘도 발광소자 및 그 제조 방법을 제공한다.
    고휘도 발광소자, 파장 대역폭, 광출력, CQD (Chirped Quantum Dots), 활성층

    비대칭 SCH 구조를 갖는 반도체 레이저 다이오드 및 그제조 방법
    13.
    发明公开
    비대칭 SCH 구조를 갖는 반도체 레이저 다이오드 및 그제조 방법 失效
    具有不对称SCH结构的半导体激光二极管及其制造方法,其中将InGaAs层插入第一N型SCH层

    公开(公告)号:KR1020040083753A

    公开(公告)日:2004-10-06

    申请号:KR1020030018348

    申请日:2003-03-25

    Abstract: PURPOSE: A semiconductor laser diode having an asymmetric SCH(Separate-Confinement Hetero) structure and a fabricating method thereof are provided to improve a thermal characteristic and an optical characteristic by reducing internal loss due to inserting a p-InP layer. CONSTITUTION: An n-type cladding layer(220) is formed on a substrate. An n-type second SCH layer(218) is formed on the n-type cladding layer. The first n-type SCH layer(210) is formed on the second SCH layer. An active layer(212) is formed on the first n-type SCH layer. The first p-type SCH layer(208) is formed on the active layer. The first insertion layer(206) is formed on the p-type first SCH layer. A p-type second SCH layer(204) is formed on the first insertion layer. A p-type cladding layer(202) is formed on the p-type second SCH layer.

    Abstract translation: 目的:提供具有不对称SCH(分离限制异质)结构的半导体激光二极管及其制造方法,通过减少由于插入p-InP层引起的内部损耗来改善热特性和光学特性。 构成:在基板上形成n型包覆层(220)。 在n型包覆层上形成n型第二SCH层(218)。 第一n型SCH层(210)形成在第二SCH层上。 在第一n型SCH层上形成有源层(212)。 第一p型SCH层(208)形成在有源层上。 第一插入层(206)形成在p型第一SCH层上。 在第一插入层上形成p型第二SCH层(204)。 p型覆层(202)形成在p型第二SCH层上。

    인간혈장아포지단백질B-100에대한신규한단일클론항체및이를생산하는하이브리도마세포주
    14.
    发明公开
    인간혈장아포지단백질B-100에대한신규한단일클론항체및이를생산하는하이브리도마세포주 失效
    人类血浆磷脂酰胆碱和生产他们的杂交菌株的新型单克隆抗体

    公开(公告)号:KR1020000002227A

    公开(公告)日:2000-01-15

    申请号:KR1019980022839

    申请日:1998-06-18

    Inventor: 곽주원 이정일

    CPC classification number: C07K16/18 C12N5/163

    Abstract: PURPOSE: The monoclonal antibody mAbB55 and HmAbB128 which are produced by hybridoma strains H-mAbB55 and mAbB128 showing a superior binding specificity to human apolipoprotein B and can be used for diagnosing blood circulatory organ disease. CONSTITUTION: The human apolipoprotein B-100 antibodies are injected into a mouse for immunization of the pancreas and coalesced with myeloma cell for producing hybridoma strains. The binding specificity to apolipoprotein B-100 of monoclonal antibodies, which are produced by hybridoma strains, is analyzed by Western Blatting Method and enzyme immunoassay. The potency of monoclonal antibodies and the concentration of apolipoprotein B-100, which is bound to monoclonal antibodies, are measured by enzyme immune-assay.

    Abstract translation: 目的:由杂交瘤菌株H-mAbB55和mAbB128产生的单克隆抗体mAbB55和HmAbB128显示出对人载脂蛋白B的优异结合特异性,可用于诊断血液循环器官疾病。 构成:将人载脂蛋白B-100抗体注射到小鼠中用于胰腺免疫并与骨髓瘤细胞聚结以产生杂交瘤菌株。 通过杂交瘤菌株产生的单克隆抗体载脂蛋白B-100的结合特异性通过Western Blatting Method和酶免疫测定法进行分析。 通过酶免疫测定法测量单克隆抗体的效力和与单克隆抗体结合的载脂蛋白B-100的浓度。

    자발 형성 반-양자구조물의 제조 방법
    15.
    发明公开
    자발 형성 반-양자구조물의 제조 방법 失效
    由自组装方法制造的抗量结构的制造方法

    公开(公告)号:KR1020100091773A

    公开(公告)日:2010-08-19

    申请号:KR1020090011125

    申请日:2009-02-11

    Abstract: PURPOSE: The manufacturing method of the self assembling half - quantum structure water diversifies the temperature of substrate and injection amount of non-metal. In that way the size of the half - quantum structure water and form and density can be controlled easily. CONSTITUTION: The half - quantum structure water having the band gap bigger in the top of the substrate than the band gap of substrate is formed. Metal and the non-metal comprising the compound semiconductor having the band gap biging than the band gap of substrate are respectively selected. The metal selected in pressure less than 1×10-9torr is injected into substrate and the metal droplet is formed.

    Abstract translation: 目的:自组装半量子结构水的制造方法使基体的温度和非金属的注入量多样化。 以这种方式,可以容易地控制半量子结构水的尺寸和形状和密度。 构成:形成具有衬底顶部带隙大于衬底带隙的半量子结构水。 分别选择包含具有比基板的带隙大的带隙的化合物半导体的金属和非金属。 将压力小于1×10-9torr的金属注入衬底中,形成金属液滴。

    성장 시간 정지를 이용한 저밀도 화합물 반도체 양자점제작방법
    16.
    发明授权
    성장 시간 정지를 이용한 저밀도 화합물 반도체 양자점제작방법 失效
    用生长时间停止法制造低密度化合物半导体量子点

    公开(公告)号:KR100721479B1

    公开(公告)日:2007-05-23

    申请号:KR1020060000244

    申请日:2006-01-02

    Abstract: 본 발명은 양자점 구조를 가지는 반도체 장치 제작시, 저밀도 양자점 구조를 가지는 반도체 장치를 제작하기 위한 발명에 관한 것으로서, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판상에 버퍼층을 형성하는 단계; c) 화합물 반도체의 구성 원소들을 원소별로 증착하고, 소정의 시간 동안 증착을 멈추고 대기하는 단계; d) 원하는 두께의 양자점 구조가 생성될 때까지 소정의 회수만큼 상기 단계 c)를 반복하는 단계; 및 e) 상기 양자점 상에 덮개층을 형성하는 단계를 포함하는 양자점 구조를 가지는 화합물 반도체 장치의 제작 방법을 제공함으로써 저밀도 양자점을 갖는 반도체 장치를 구현할 수 있다.
    저밀도 양자점, 화합물 반도체, InAs, MBE, 단일 광자 광원

    Abstract translation: 本发明涉及在制造具有量子点结构的半导体器件中用于制造具有低密度量子点结构的半导体器件的发明,其包括以下步骤:a)准备衬底; b)在衬底上形成缓冲层; c)按元素沉积化合物半导体元件的组成元素,停止并等待沉积预定时间; d)重复步骤c)预定次数直至产生所需厚度的量子点结构; e)在量子点上形成盖层,通过提供一种制造具有量子点结构的化合物半导体器件的方法,可以实现具有低密度量子点的半导体器件。

    수소화 처리를 이용한 양자점 구조를 가지는 광 소자의제조 방법
    17.
    发明授权
    수소화 처리를 이용한 양자점 구조를 가지는 광 소자의제조 방법 失效
    使用氢等离子体处理制造具有量子结构的光电器件的方法

    公开(公告)号:KR100644970B1

    公开(公告)日:2006-11-14

    申请号:KR1020050003016

    申请日:2005-01-12

    Abstract: 본 발명은 양자점 성장시 생성되는 결함을 수소화 처리를 통하여 줄여서, 반도체 소자의 광특성 뿐만 아니라 전기적 특성을 향상시킬 수 있는, 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 광 소자 제조 방법은, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판 상에 제 1 도전층을 형성하는 단계; c) 상기 제 1 도전층 상에 버퍼층을 형성하는 단계; e) 상기 버퍼층 상에 양자점을 형성하는 단계; f) 상기 양자점을 덮는 덮개층을 형성하는 단계; g) 상기 덮개층 상에 제 2 도전층을 형성하는 단계; 및 h) 수소화 처리를 실시하는 단계를 포함한다.
    양자점, InAs, InGaAs, GaAs, 수소화 처리, 결함

    양자점 상하에 비대칭 반도체층을 구비하는 광소자 및 그제조 방법
    18.
    发明公开
    양자점 상하에 비대칭 반도체층을 구비하는 광소자 및 그제조 방법 失效
    具有在上和下的量子上形成的非对称半导体层的光学器件及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020060082495A

    公开(公告)日:2006-07-19

    申请号:KR1020050002871

    申请日:2005-01-12

    CPC classification number: H01S5/3408 H01L29/0688 H01S5/2228 H01S5/34333

    Abstract: 본 발명은 양자점의 상·하에 비대칭적 반도체층들을 형성하여 광통신에 이용되는 1.3 내지 1.5 ㎛ 대역의 장파장을 얻을 수 있는, 양자점 상하에 비대칭 반도체 양자우물층을 구비하는 광소자 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 반도체 기판과, 기판 위에 형성되는 제 1 양자우물층과, 제 1 양자우물층 위에 형성되는 다수의 양자점과, 다수의 양자점을 덮으며 상기 제 1 양자우물층과 비대칭을 이루는 제 2 양자우물층을 포함하는 광소자 및 그 제조 방법을 제공한다. 본 발명에 의하면, 양자점 상하에 비대칭 반도체층을 형성시킴으로써, 밴드갭 구조가 이상적인 0차원 양자점에 근접하게 된다. 또한 바람직한 구체적인 실시예로서, InAs 양자점 및 InGaAs 양자우물을 GaAs 기판에 성장시킨 경우, 본 발명은 InGaAs 양자우물층의 두께가 종래보다 얇게 되어 다층의 InAs 양자점을 성장시킬 수 있고, 이로 인해 광 이득이 증가되어 소자를 동작시키기 위한 전력을 감소시킬 수 있다. 또한 본 발명에 의하면, 광통신에 이용되는 1.3 ㎛ 대역 이상의 장파장을 GaAs 기판으로부터 얻을 수 있다.
    반도체 양자점, InGaAs, InAs, 장파장, 양자우물, 비대칭, 격자 부정합

    양자점 무질서화 기술에서 유전체 덮개층 조합에 의한InGaAs/GaAs 양자점 에너지 밴드갭 조정 방법
    19.
    发明授权
    양자점 무질서화 기술에서 유전체 덮개층 조합에 의한InGaAs/GaAs 양자점 에너지 밴드갭 조정 방법 失效
    通过介电吸收层在量子阱中的组合控制InGaAs / GaAs量子能量束带的方法

    公开(公告)号:KR100502884B1

    公开(公告)日:2005-07-25

    申请号:KR1020010088867

    申请日:2001-12-31

    Abstract: 본 발명은 InGaAs/GaAs 양자점 에너지 밴드갭을 조정하는 방법에 관한 것으로서, InGaAs/GaAs 양자점 기판을 성장하는 단계와, InGaAs/GaAs 양자점 기판에 2중 유전체 덮개층을 성장하는 단계와, 2중 유전체 덮개층이 성장된 InGaAs/GaAs 양자점 기판을 열처리하는 단계를 포함하는 InGaAs/GaAs 양자점 에너지 밴드갭 조정 방법을 제공한다. InGaAs/GaAs 양자점 기판에 유전체 덮개층으로 SiN
    x 와 SiO
    2 를 성장하고, 700℃에서 1 내지 4분간 열처리한 결과, InGaAs/GaAs 양자점 기판에 국부적으로 다른 에너지 밴드갭이 형성되었고 공정 조건에 의존하여 에너지 밴드갭의 이동량이 변화하는 것을 관찰하며, 이와 함께 반치폭 값의 감소 현상과 스펙트럼 강도의 증가 현상을 관찰한다.

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