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公开(公告)号:FR2915829A1
公开(公告)日:2008-11-07
申请号:FR0703153
申请日:2007-05-02
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , CONTE ANTONINO
Abstract: L'invention concerne un procédé d'écriture de données dans une mémoire non volatile (MA, XA) comportant des cellules mémoire devant être effacées avant d'être écrites. Le procédé comprend les étapes consistant à prévoir une zone mémoire principale non volatile (MA) comprenant des pages cibles, prévoir une zone mémoire auxiliaire non volatile (XA) comprenant des pages auxiliaires, prévoir une table de correspondance (VAM) pour associer à une adresse (RAD) de page cible invalide une adresse (XAD) de page auxiliaire valide, et, en réponse à une commande (CMD) d'écriture d'une donnée dans une page cible écrire la donnée ainsi que l'adresse de la page cible dans une première page auxiliaire effacée, invalider la page cible, et mettre à jour la table de correspondance.
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公开(公告)号:FR2915828A1
公开(公告)日:2008-11-07
申请号:FR0703152
申请日:2007-05-02
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , CONTE ANTONINO
Abstract: L'invention concerne un procédé d'écriture de données dans une mémoire non volatile. Le procédé comprend les étapes consistant à prévoir, dans la mémoire, une zone mémoire principale (MA) non volatile comprenant des pages cible, une zone mémoire auxiliaire (XA) non volatile comprenant des pages auxiliaires, et, dans la zone mémoire auxiliaire : un secteur courant (CUR) comprenant des pages auxiliaires effacées utilisables pour écrire des données, un secteur de sauvegarde (ERM) comprenant des pages auxiliaires contenant des données rattachées à des pages cible à effacer ou en cours d'effacement, un secteur de transfert (CTM) comprenant des pages auxiliaires contenant des données à transférer dans des pages cible effacées, et un secteur indisponible (UNA) comprenant des pages auxiliaires à effacer ou en cours d'effacement. Application notamment aux mémoires Flash.
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公开(公告)号:IT1397283B1
公开(公告)日:2013-01-04
申请号:ITTO20090937
申请日:2009-11-30
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: PAGANO SANTI NUNZIO ANTONINO , LA ROSA FRANCESCO , SIGNORELLO ALFREDO
IPC: G11C5/14
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公开(公告)号:FR3113326B1
公开(公告)日:2023-01-06
申请号:FR2008327
申请日:2020-08-06
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: CONTE ANTONINO , LA ROSA FRANCESCO
Abstract: Le circuit intégré pour le calcul convolutif (CNVL) comprend une matrice (ARR) de points mémoires non volatils (MPTij) comprenant chacun une cellule mémoire résistive à changement de phase (PCMij) couplée à une ligne de bit (BLj), et un transistor bipolaire de sélection (BJTij) couplé en série à la cellule et ayant une borne de base reliée à une ligne de mot (WLi), un circuit convertisseur d’entrée (INCVRT) configuré pour recevoir et convertir des valeurs d’entrée (A1-A4) en signaux de tension (V1-V4) et pour appliquer successivement les signaux de tension (V1-V4) sur des lignes de bit sélectionnées (BL1-BL4) sur des intervalles de temps respectifs (t1-t4), et un circuit convertisseur de sortie (OUTCVRT) configuré pour intégrer sur les intervalles de temps successifs (t1-t4) les courants de lecture (IWL) résultant des signaux de tension (V1-V4) qui polarisent les cellules mémoires résistives à changement de phase respectives (PCMij) et circulant dans des lignes de mots sélectionnées, et pour convertir les courants de lecture intégrés (IWL) en valeurs de sortie (Bi). Figure de l’abrégé : Fig 4
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公开(公告)号:FR3109239A1
公开(公告)日:2021-10-15
申请号:FR2003730
申请日:2020-04-14
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , CASTALDO ENRICO , GRANDE FRANCESCA , PAGANO SANTI NUNZIO ANTONINO , NASTASI GIUSEPPE , ITALIANO FRANCO
Abstract: Le circuit intégré de mémoire non-volatile (NVM) comprend des cellules mémoires logées dans un caisson semiconducteur (PW1) et comportant chacune un transistor d’état (TEsel, TEnsl) ayant une grille flottante (FG) et une grille de commande (CG), ainsi que des moyens d’effacement configurés, lors d’un cycle d’effacement, pour polariser le caisson semiconducteur (PW1) à une première tension d’effacement (VYP), et, par l’intermédiaire de commutateurs de grille de commande (CGSW), pour polariser des grilles de commande de cellules mémoires sélectionnées (TEsel) à une deuxième tension d’effacement (VNN). Les moyens d’effacement sont configurés pour augmenter le niveau de la première tension d’effacement (VYP) résultant d’une augmentation d’une valeur d’usure (AG) représentative du vieillissement des cellules mémoires, de sorte que le niveau de la première tension d’effacement (VYP) peut être supérieur à un niveau de claquage (HVmax) des commutateurs de grille de commande (CGSW). Figure de l’abrégé : figure 1
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公开(公告)号:IT201600121618A1
公开(公告)日:2018-05-30
申请号:IT201600121618
申请日:2016-11-30
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: GRANDE FRANCESCA , LA ROSA FRANCESCO , LO GIUDICE GIANBATTISTA , MATRANGA GIOVANNI
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公开(公告)号:FR3044818B1
公开(公告)日:2018-03-30
申请号:FR1561730
申请日:2015-12-02
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , ALIERI GINEUVE
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28.
公开(公告)号:ITUA20164741A1
公开(公告)日:2017-12-29
申请号:ITUA20164741
申请日:2016-06-29
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL , ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: CONTE ANTONINO , CASTALDO ENRICO , BIANCHI RAUL ANDRES , LA ROSA FRANCESCO
IPC: G04F10/10
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公开(公告)号:FR3109239B1
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:FR2003730
申请日:2020-04-14
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , CASTALDO ENRICO , GRANDE FRANCESCA , PAGANO SANTI NUNZIO ANTONINO , NASTASI GIUSEPPE , ITALIANO FRANCO
Abstract: Le circuit intégré de mémoire non-volatile (NVM) comprend des cellules mémoires logées dans un caisson semiconducteur (PW1) et comportant chacune un transistor d’état (TEsel, TEnsl) ayant une grille flottante (FG) et une grille de commande (CG), ainsi que des moyens d’effacement configurés, lors d’un cycle d’effacement, pour polariser le caisson semiconducteur (PW1) à une première tension d’effacement (VYP), et, par l’intermédiaire de commutateurs de grille de commande (CGSW), pour polariser des grilles de commande de cellules mémoires sélectionnées (TEsel) à une deuxième tension d’effacement (VNN). Les moyens d’effacement sont configurés pour augmenter le niveau de la première tension d’effacement (VYP) résultant d’une augmentation d’une valeur d’usure (AG) représentative du vieillissement des cellules mémoires, de sorte que le niveau de la première tension d’effacement (VYP) peut être supérieur à un niveau de claquage (HVmax) des commutateurs de grille de commande (CGSW). Figure de l’abrégé : figure 1
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公开(公告)号:FR3113327A1
公开(公告)日:2022-02-11
申请号:FR2008286
申请日:2020-08-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS SRL
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , CONTE ANTONINO
Abstract: Le procédé de calcul convolutif (CNVL) comprend le fait de programmer des transistors à grille flottante (FGT) appartenant à des cellules mémoire non volatile (NVM) pour les mettre à des tensions de seuil multiniveaux (MLTLVL) selon des facteurs de pondération (W11-Wnm) d’un opérateur matriciel convolutif (MTXOP). Le calcul comprend le fait d’exécuter une séquence de multiplication et accumulation (MACi) pendant une opération de lecture (SNS) de cellules mémoire (NVMij), le temps (T) écoulé pour que chaque cellule mémoire devienne conductrice en réponse à un signal de commande en rampe de tension (VRMP) fournissant la valeur de chaque produit de valeurs d’entrée (A1…An) par un facteur de pondération respectif (Wi1…Win), les valeurs des produits étant accumulées avec des valeurs de sortie correspondantes (Bi). Figure pour l’abrégé : Fig 3
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