Abstract:
본 발명은 밀리미터파 대역 제어회로용 고격리도 스위치 소자에 관한 것으로, 온-상태의 삽입 손실이 악화되지 않으면서도 오프-상태의 격리도가 향상되도록 셀 구조를 최적화함으로써, 스위칭 특성을 이용하는 위상 변위기나 디지털 감쇄기 등 밀리미터파 대역의 제어회로 설계 및 제작에 유용한 고격리도 스위치 소자를 구현할 수 있다. 또한, 본 발명의 스위치 소자를 이용하여 스위치 MMIC를 설계할 경우, 격리도 향상을 위해 다단계 션트 전계효과 트랜지스터를 사용하지 않아도 되고, 이를 위한 별도의 λ/4 트랜스포머 전송선로, 인덕터 또는 캐패시터를 스위치 소자 부근에 사용하지 않아도 되므로, 칩 사이즈를 줄일 수 있으며, 이에 따라 스위치 회로 제조 공정의 수율과 직접도의 향상을 통해 제조 비용을 절감할 수 있다. 스위치 셀(switch cell), 삽입 손실(Insertion loss), 격리도(Isolation), 접지 비아홀(ground via hole) 스위치, 저손실 스위치, 고격리도 스위치
Abstract:
A high isolation switch device for a millimeter-band control circuit is provided to embody a high isolation switch device useful for designing and fabricating a millimeter-band control circuit like a phase shifter or a digital attenuator using a switching characteristic by improving off-state isolation without deteriorating on-state insertion loss by a plurality of ground via holes. A high isolation switch device includes a unit cell in which a transistor is vertically connected to input/output transmission lines(10,11). The unit cell is constructed in a manner that a plurality of ground via holes(22a,22b,22c,22d) are symmetrically disposed on and under the input/output transmission lines. The on-state impedance of the transistor decreases as the number of the ground via holes increases so that the insertion loss of an on-state is reduced and the isolation of an off-state is increased.
Abstract:
A method for fabricating a pseudomorphic high electron mobility transistor is provided to reduce capacitance between a gate and a source and between a gate and a drain by leaving a passivation layer only in a partial region under the head of a gate electrode. Source and drain electrodes(12a,12b) are formed on a substrate(11) having an epitaxial growth layer. A passivation layer is formed on the resultant structure. After a first photoresist layer is formed on the passivation layer, the first photoresist layer and the passivation layer are patterned to expose the upper portion of the substrate by using a mask pattern. After the first photoresist layer on the passivation layer is removed, a second photoresist layer having a fine pattern narrower than the pattern of the passivation layer is formed on the resultant structure. After the remaining passivation layer is etched, the second photoresist layer is removed. After a third photoresist layer of a multilayered structure is formed on the resultant structure, the third photoresist layer is patterned to form a gate electrode(20) of a T shape. The upper portion of the substrate is etched by using the passivation layer etched by the fine pattern to form a recess in the upper surface of the substrate. After metal for a gate electrode is deposited on the resultant structure, the third photoresist layer and the metal for the gate electrode are removed to form a gate electrode of a T shape connected to the substrate by the recess.
Abstract:
A signal transmission line for a millimeter wave band is provided to offset a parasitic component generated unnecessarily by complexly adding a compensation capacitance and a compensation inductance in parallel or in series. A signal transmission line for a millimeter wave band includes a dielectric substrate(100), an input line(200), a couple of transmission lines(300a,300b), a couple of parallel transmission lines(400a,400b), and a couple of wires(500a,500b). The input line is formed on the dielectric substrate. The couple of series transmission lines are divided at an end of the input line, and are separated from an end of the input line. The couple of series transmission lines are formed on the dielectric substrate to be electronically connected with the end of the input signal in series. The couple of parallel transmission lines are formed on the dielectric substrate of both sides of the couple of series transmission lines, and the input line. Both ends of the couple of parallel transmission lines are separated from an end of the couple of series transmission lines and the input line, and are electronically connected to each of the transmission lines in parallel. Both ends of a couple of wires are connected to the other end of a couple of parallel transmission lines, and a connection pad of the MMIC(Microwave Monolithic Integrated Circuit).
Abstract:
본 발명은 전기도금법에 의한 골드 범프 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명은 기판 상에 위치하며 골드로 이루어진 씨드 금속층과, 씨드 금속층 상부에 위치하는 도금 범프층, 및 도금 범프층 상부에 위치하며 저융점 금속에 기초하여 형성된 돔 형태의 골드-리치 공정 합금을 포함하는 골드 범프 구조를 제공하며, 전기도금된 골드 범프의 표면에 주석을 도금하거나 진공증착한 후 환류 열처리에 의하여 돔 형태의 골드-리치 골드-주석 공정 합금을 형성하는 골드 범프 제조 방법을 제공한다. 본 발명에 의하면, 원형 웨이퍼 또는 유리 기판에서 위치에 따른 도금 범퍼의 두께 차이를 대폭 줄일 수 있어 패키징 공정의 균일도를 향상시킬 수 있다. 골드 범프, gold bump, 칩-온-글라스, Chip-On-Glass, 공정합금, eutectic alloy, 환류 열처리, reflow heating
Abstract:
본 발명은 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반절연 기판 상에 완충층, 제1 실리콘 도핑층, 제1 전도층, 상기 제1 실리콘 도핑층과 다른 도핑 농도를 가지는 제2 실리콘 도핑층 및 제2 전도층이 순차적으로 적층된 에피 기판과, 상기 제1 실리콘 도핑층의 소정 깊이까지 침투되도록 상기 제2 전도층의 양측 상에 형성되어 오믹 접촉을 형성하는 소오스 전극 및 드레인 전극과, 상기 소오스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 제2 전도층 상에 형성되어 상기 제2 전도층과 콘택을 형성하는 게이트 전극을 포함함으로써, 격리도의 증가와 스위칭 속도를 증가시킬 수 있으며, 게이트 턴-온 전압의 증가, 항복전압의 증가 및 수평전도성분의 감소로 인하여 스위치 소자에 인가되는 최대 전압 한계값을 증가시켜 스위치 장치의 전력수송능력의 개선에 따른 고전력 저왜곡 특성 및 격리도의 증가를 기대할 수 있는 효과가 있다. 화합물 반도체 소자, 삽입손실, 격리도, 고전력 스위치, 저왜곡 스위치, 저손실 스위치, 고속스위치
Abstract:
믹서 회로를 제공한다. 본 발명의 믹서 회로는 소스 단자를 접지하는 전계 효과 트랜지스터와, 상기 전계 효과 트랜지스터의 소스 단자에 접속되고, LO 신호를 상기 전계 효과 트랜지스터에 전달하는 LO 정합 회로와, 상기 전계 효과 트랜지스터의 소스 단자에 접속되고, LO 신호를 입력 받아 LO 정합 회로를 통하여 LO 주파수 대역의 신호를 상기 전계 효과 트랜지스터에 공급하는 신호 결합기 회로를 포함한다. 그리고, 본 발명의 믹서 회로는 상기 전계 효과 트랜지스터의 게이트 단자에 연결되고, IF 신호를 입력 받아 IF신호를 상기 전계 효과 트랜지스터에 전달하는 IF 정합 회로와, 상기 전계 효과 트랜지스터의 게이트 단자에 연결되어 바이어스를 가할 수 있는 게이트 바이어스 회로와, 상기 전계 효과 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되어 바이어스를 가할 수 있는 드레인 바이어스 회로와, 상기 전계 효과 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되어, RF 신호를 RF 출력 단자로 전달하는 RF 정합 회로를 구비한다. 본 발명의 믹서 회로는 LO 신호의 삽입 손실을 감소시키고 DC 차단과 동시에 저주파수 대역의 불요신호의 영향을 차단할 수 있고, LO 신호의 누설에 기인한 신호 변형 특성을 개선할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: An ultrahigh frequency power amplifier is provided to improve a characteristic of undesired gain and a characteristic of input reflection loss in a low frequency band by using a sub-feedback circuit, an RC parallel circuit, and a shunt resistor. CONSTITUTION: An ultrahigh frequency power amplifier includes a first and a second driving amplifier, a first and a second matching circuit, and a power amplifier. The first and the second driving amplifiers(220,222) include a power element, a gate and a drain bias circuit of the power element, an RC parallel circuit connected between the gate of the power element and an input port, a shunt resistor connected between the gate of the power element and the ground, and a sub-feedback circuit connected in parallel to the power element. The first and the second intermediate matching circuits(208,210) are connected to the first and the second driving amplifiers. The power amplifier(224) includes a power distributor, plural power elements, plural gate and drain bias circuits of the power elements, RC parallel circuits connected between the gates of the power elements and the intermediate matching circuits, and a shut resistor connected the gates of the power elements and the ground.
Abstract:
PURPOSE: A method for fabricating a semiconductor integrated device is provided to integrate a digital integrated circuit(IC), an analog IC and a radio frequency(RF) IC, by embodying an AlGaAs/GaAs heterojunction bipolar transistor(HBT) semiconductor integrated device for ultrahigh frequency telecommunication. CONSTITUTION: A base region is formed in a predetermined region of a semiconductor substrate(31). The first insulation layer is formed in a defined base region and on the entire substrate. An emitter region is formed in the first insulation layer in the base region. An emitter electrode is formed in the emitter region. A base electrode is formed on the base region. A collector region is formed in the first insulation layer to fabricate a collector electrode. A predetermined region of the emitter electrode and collector electrode is exposed to form the first metal interconnection. The second insulation layer planarized by the first metal interconnection process is formed. A contact hole is formed in the second insulation layer and a metal interconnection is deposited. The metal interconnection is lifted off to form the second metal interconnection connected to the first metal interconnection.