Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method to enable the tip of a probe element to be oriented without changing the position of a probe card. SOLUTION: A probe card assembly 500 comprises a probe card 502 and a space converter 506. The space converter 506 is equipped with the probe element 524. An interposer 504 is interposed in between the space converter 506 and the probe card 502. The space converter 506 and the interposer 504 are stacked up. The orientation of the space converter 506 is adjusted by an actuator. Thus, the probe elements 524 can be arranged so as to optimize probing of the wafer 508 as a whole. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
Abstract:
Eine Vorrichtung (100) zur Ausrichtung von Kontaktanschlüssen (210) eines elektrischen Bauteils (200) für die Montage auf einer Platine (20) einer elektrischen Schaltung (1) umfasst ein Trägerelement (110) mit mehreren Löchern (111) sowie mehrere Biegeelemente (120, 120a, 120b). Ein jeweiliges Ende (122) der Biegeelemente ragt in ein jeweiliges der Löcher (111) des Trägerelements hinein. Beim Einschieben eines jeweiligen der Kontaktanschlüsse (210) des elektrischen Bauteils (200) in das jeweilige Loch (111) wird das jeweilige Ende (122) der Biegeelemente (120, 120a, 120b) innerhalb des Lochs (111) verbogen und klemmt dadurch den jeweiligen Kontaktanschluss (210) des elektrischen Bauteils (200), so dass das elektrische Bauteil (200) an dem Trägerelement (110) fixiert ist.
Abstract:
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Leiterplattenanordnung mit einer Leiterplatte mit zumindest einem Footprint zum Befestigen eines Steckverbinders, wobei der Footprint drei oder mehr Ankoppelpunkte zum Ankoppeln von elektrischen Kontakten des Steckverbinders aufweist, und mit einem an dem Footprint befestigten Steckverbinder, aufweisend, dass der Steckverbinder genau zwei Signalleiter zum Übertragen eines differentiellen Signals aufweist, wobei der erste Signalleiter einen an einen ersten Ankoppelpunkt gekoppelten ersten elektrischen Kontakt und der zweite Signalleiter einen an einen zweiten Ankoppelpunkt gekoppelten zweiten elektrischen Kontakt aufweist, wobei der zweite Ankoppelpunkt nicht ein dem ersten Ankoppelpunkt nächst benachbarter Ankoppelpunkt des Footprints ist.
Abstract:
The invention relates to an active electrical component (1), in particular a switching element such as a relay (2) or a contactor. An object of the invention is to provide an active electrical component (1) which can be readily fitted in a reliable manner to a counter-element and which is suitable in particular for high currents. According to the invention, this is achieved with an active electrical component (1), in particular a switching element such as a relay (2) or a contactor having at least one contact (6) which is accessible from the outer side for connection in an insertion direction (S) to a counter-contact of a counter- element and having at least one force transmission structure (9) which extends to the contact (6) in a continuous manner from a side (10) of the component (1) opposite the contact (6).
Abstract:
The present invention relates to a printed circuit board arrangement (400) and a method for forming an electrical connection at a printed circuit board. The printed circuit board arrangement comprises a printed circuit board (410) having a first side (411), a second side (412) and an electrical connection (413) electrically connecting a first conductive layer and a second conductive layer (417) of the printed circuit board. The electrical connection (413) comprises a passage (416) extending from an opening in one of the sides of the printed circuit board through the printed circuit board between the first and second layers. Electrically conducting material (414) is formed on the walls (415) of the passage. The electrically conducting material forms a first path electrically connecting the first conductive layer (417) with the second conductive layer (417). At least one first ball 420 is enclosed by the passage. The at least one firstball is electrically conducting and has a diameter which is equal to or smaller than the length and diameter of the passage, wherein the at least one first ball (420) form part of a second electrical path between the first and second conductive layers of the printed circuit board, said second electrical path having a lower resistance than the first path.
Abstract:
An improved passive electronic stacked component is described. The component has a stack of individual electronic capacitors and a first lead attached to a first side of the stack. A second lead is attached to a second side of the stack. A foot is attached to the first lead and extends inward towards the second lead. A stability pin is attached to one of the foot or the first lead.
Abstract:
Die Erfindung betrifft einen elektrischen Schalter (1) mit einem Gehäuse (3), mit einem im Gehäuse (3) befindlichen Kontaktsystem und mit einem aus dem Gehäuse (3) ragenden Betätigungsorgan (6) zur schaltenden Einwirkung auf das Kontaktsystem. Aus dem Gehäuse (3) ragen elektrische Anschlüsse (7) für das Kontaktsystem, wobei der Anschluss (7) an einem Durchbruch (10) in einer Leiterplatte (2) von der einen Seite (8) zur anderen Seite (9) der Leiterplatte (2) durchsteckbar ist. Insbesondere ist dadurch der Anschluss (7) als Lötanschluss an der anderen Seite (9) der Leiterplatte (2) mit einem Lötauge verlötbar. Der Anschluss (7) weist eine Rastnase (12) auf. Die Rastnase (12) greift bei der Montage des Schalters (1) an der Leiterplatte (2) am Durchbruch (10) der Leiterplatte (2) verrastend ein, und zwar insbesondere derart dass eine Kante der Rastnase (12) am Rand des Durchbruchs (10) auf der anderen Seite (9) der Leiterplatte (2) anliegt.
Abstract:
A probe card is provided for contacting an electronic component with raised contact elements. In particular, the present invention is useful for contacting a semiconductor wafer with resilient contact elements, such as springs. A probe card is designed to have terminals to mate with the contact elements on the wafer. In a preferred embodiment, the terminals are posts. In a preferred embodiment the terminals include a contact material suitable for repeated contacts. In one particularly preferred embodiment, a space transformer is prepared with contact posts on one side and terminals on the opposing side. An interposer with spring contacts connects a contact on the opposing side of the space transformer to a corresponding terminal on a probe card, which terminal is in turn connected to a terminal which is connectable to a test device such as a conventional tester.