고전자 이동도 트랜지스터 전력 소자 및 그 제조 방법
    91.
    发明授权
    고전자 이동도 트랜지스터 전력 소자 및 그 제조 방법 失效
    고전자이동도트랜지스터전력소자및그제조방

    公开(公告)号:KR100438895B1

    公开(公告)日:2004-07-02

    申请号:KR1020010086533

    申请日:2001-12-28

    CPC classification number: H01L29/7785

    Abstract: A pseudomorphic high electron mobility transistor (PHEMT) power device formed on a double planar doped epitaxial substrate and capable of operating with a single voltage source and a method for manufacturing the PHEMT power device are provided. The PHEMT power device includes: an epitaxial substrate including a GaAs buffer layer, an AlGaAs/GaAs superlattice layer, an updoped AlGaAs layer, a first doped silicon layer, a first spacer, an InGaAs electron transit layer, a second spacer, a second doped silicon layer having a different doping concentration from the first doped silicon layer, a lightly doped AlGaAs layer, and an undoped GaAs cap layer stacked sequentially on a semi-insulating GaAs substrate, a source electrode and a drain electrode formed on and in ohmic contact with the undoped GaAs cap layer; and a gate electrode formed on the lightly doped AlGaAs layer to extend through the undoped GaAs cap layer.

    Abstract translation: 提供一种形成在双平面掺杂外延衬底上并且能够利用单个电压源来操作的伪晶高电子迁移率晶体管(PHEMT)功率器件以及用于制造PHEMT功率器件的方法。 该PHEMT功率器件包括:外延衬底,包括GaAs缓冲层,AlGaAs / GaAs超晶格层,上掺杂AlGaAs层,第一掺杂硅层,第一间隔物,InGaAs电子传输层,第二间隔物,第二掺杂 硅层,其具有与第一掺杂硅层不同的掺杂浓度,轻掺杂AlGaAs层和未掺杂GaAs帽层,其依次堆叠在半绝缘GaAs衬底上,源电极和漏电极形成在第一掺杂硅层上并与其欧姆接触 未掺杂的GaAs帽盖层; 以及形成在轻掺杂AlGaAs层上以延伸穿过未掺杂的GaAs帽层的栅电极。

    패치 안테나
    93.
    发明授权

    公开(公告)号:KR102211392B1

    公开(公告)日:2021-02-04

    申请号:KR1020160016412

    申请日:2016-02-12

    Abstract: 본발명은패치안테나에관한것으로, 본발명의일 실시예에따른패치안테나는, 복수의유전체층들이적층된다층기판; 상기다층기판의중심영역의외부에서, 상기복수의유전체층들사이에개재된적어도하나의금속패턴층; 상기다층기판의상부면상에배치되고, 상기중심영역내에위치하는안테나패치; 상기다층기판의하부면에배치된접지층; 상기복수의유전체층들을관통하여상기금속패턴층과상기접지층을전기적으로연결하고, 상기중심영역을에워싸는복수의연결비아패턴들; 상기다층기판의상부면상에배치되고상기중심영역외부에위치하는제1 전송선로부와, 상기다층기판의상부면상에배치되고상기중심영역내에위치하는제2 전송선로부를포함하는전송선로; 및상기다층기판의중심영역내에서상기제2 전송선로부의아래에위치하는임피던스변환기를포함할수 있다.

    질화물계 화합물 전력반도체 장치 및 그 제조 방법

    公开(公告)号:KR101928814B1

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:KR1020120047360

    申请日:2012-05-04

    Abstract: 본 발명은 GaN(질화갈륨)계 화합물 전력반도체 장치 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 질화 갈륨계 화합물 전력반도체 장치는 웨이퍼 상에서 성장하여 형성된 질화 갈륨계 화합물 소자; 상기 질화 갈륨계 화합물 소자에 소스, 드레인 및 게이트를 포함하는 접촉 패드; 상기 질화 갈륨계 화합물 소자가 플립칩 본딩되는 모듈 기판; 상기 모듈 기판상에 형성되는 본딩 패드; 및 상기 접촉 패드와 상기 본딩 패드가 플립칩 본딩될 수 있도록 상기 모듈 기판의 상기 본딩 패드에 형성되는 범프를 포함하고, 범프를 기판에 전면공정(wafer level)으로 형성함으로써 공정비용이 저렴하며, 기판의 서브 소스 접촉 패드 및 서브 드레인 접촉 패드가 엑티브 영역에 형성되므로 AlGaN HEMT소자에서 발생한 열을 빠르게 방출하고, 기판에 비아홀을 형성하고 전도성 금속으로 비아 홀을 충전함으로써 AlGaN HEMT소자에서 발생한 열을 효율적으로 방출한다는 효과가 있다.

    전계효과형 화합물반도체소자의 제조방법

    公开(公告)号:KR101903509B1

    公开(公告)日:2018-10-05

    申请号:KR1020120075571

    申请日:2012-07-11

    Abstract: 본발명은소자의누설전류를감소시키고소자의항복전압이개선된고성능의전계효과형화합물반도체소자의제조방법에관한것으로, 상기전계효과형화합물반도체소자의제조방법은기판상에, 활성층과, 오믹층을적층하고, 상기오믹층상에제1 산화막층을형성하는단계와, 상기제1 산화막층, 상기오믹층및 상기활성층의소정영역에수직으로메사영역을형성하는단계; 상기메사영역에질화막을증착하여질화막층을형성한후, 상기메사영역을평탄화하는단계; 상기제1 산화막층상에오믹전극을형성하는단계와, 상기오믹전극이형성된반도체기판상에제2 산화막층을형성한후, 미세게이트레지스트패턴을형성하고, 제1산화막층, 질화막층및 제2 산화막층의 3층절연층을건식식각하여언더컷(under-cut) 형상의프로파일을갖는미세게이트패턴을형성하는단계와, 상기미세게이트패턴이형성된반도체기판상에공중합체레지스트를도포하여감마형게이트전극의헤드패턴을형성하여게이트리세스영역을형성하는단계및 상기게이트리세스영역이형성된반도체기판상에내열성금속을증착하여감마형게이트전극을형성하는단계를포함한다.

    반도체 소자의 테스트 소켓
    98.
    发明公开
    반도체 소자의 테스트 소켓 审中-实审
    测试半导体器件的插座

    公开(公告)号:KR1020170115634A

    公开(公告)日:2017-10-18

    申请号:KR1020160042711

    申请日:2016-04-07

    Abstract: 반도체소자의테스트소켓은하부베이스, 및상기하부베이스의중앙부에서돌출된상부베이스를포함하는베이스; 반도체소자가인입되는개구홀, 및상기반도체소자의리드선들에접촉되는콘택패드들을구비하고, 상기상부베이스상에배치되는회로기판; 상기개구홀하부의상기상부베이스에삽입되며, 상기개구홀에인입된상기반도체소자에열을가하는히터블록; 상기히터블록및 상기상부베이스사이에배치되는내열성코팅막; 상기상부베이스의형상에대응하는요부를구비하는커버; 및상기커버의요부에안착되고, 상기회로기판에마주하는콘택시트를포함한다.

    Abstract translation: 一种半导体器件的测试插座包括:基座,包括下基座和从下基座的中央部分突出的上基座; 开口孔,半导体元件通过该开口孔被拉动,并且接触垫接触半导体元件的引线,电路板设置在上基座上; 加热器块插入开口孔下方的上部基座中,并将热量施加到被吸入开口孔中的半导体元件; 设置在加热器块和上底座之间的耐热涂膜; 具有与上底座的形状对应的凹部的罩; 还有一个接触片放在盖子的凹槽上并面向电路板。

    질화물계 트랜지스터의 제조 방법
    99.
    发明公开
    질화물계 트랜지스터의 제조 방법 审中-实审
    制造氮化物基晶体管的方法

    公开(公告)号:KR1020170097808A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:KR1020160019012

    申请日:2016-02-18

    Abstract: 질화물계트랜지스터의제조방법은기판상에소스전극, 드레인전극, 게이트전극및 전극패드를형성하는단계; 상기소스전극및 상기드레인전극중 하나와상기전극패드를노출시키는제1 개구부들을구비하는제1 포토레지스트패턴을형성하는단계; 상기제1 개구부에의해노출된전극, 상기전극패드, 및상기제1 포토레지스트패턴상에시드금속층을형성하는단계; 상기제1 개구부에의해노출된전극및 상기전극패드사이의상기시드금속층을노출시키는제2 개구부를구비하는제2 포토레지스트패턴을형성하는단계; 노출된상기시드금속층상에도금법을이용하여배선을형성하는단계; 및용매를이용하여상기제1 포토레지스트패턴및 상기제2 포토레지스트패턴을제거하며, 상기제1 및제2 포토레지스트패턴사이의시드금속층을제거하는단계를포함한다. 여기서, 상기제1 개구부는상부로갈수록폭이증가하는형상을가질수 있다.

    Abstract translation: 一种制造氮化物基晶体管的方法包括:在衬底上形成源电极,漏电极,栅电极和电极焊盘; 形成具有源电极和漏电极中的一个的第一光致抗蚀剂图案以及暴露电极焊盘的第一开口; 在所述电极,所述电极焊盘和由所述第一开口暴露的所述第一光刻胶图案上形成电极金属层; 形成具有通过所述第一开口暴露的电极的第二光致抗蚀剂图案和暴露所述电极焊盘之间的所述种子金属层的第二开口; 使用电镀方法在暴露的种子金属层上形成布线; 并且使用溶剂去除第一光致抗蚀剂图案和第二光致抗蚀剂图案,并且去除第一和第二光致抗蚀剂图案之间的种子金属层。 这里,第一开口可以具有朝着顶部增加宽度的形状。

    고전자 이동도 트랜지스터 및 그 제조방법
    100.
    发明公开
    고전자 이동도 트랜지스터 및 그 제조방법 审中-实审
    高电子迁移率晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020170095455A

    公开(公告)日:2017-08-23

    申请号:KR1020160016435

    申请日:2016-02-12

    Abstract: 본발명의실시예에따른고전자이동도트랜지스터는서로마주보는제1면과제2 면을포함하고, 상기제1 면과상기제2 면을관통하는비아홀을구비한기판과, 상기기판의제1 면상에제공된활성층과, 상기활성층상에위치하고상기활성층의일부를노출하는게이트리쎄스영역을포함한캡층과, 상기캡층상에위치하며상기캡층및 상기활성층중 어느하나의층에오믹접촉한소스전극과, 상기캡층상에서상기소스전극으로부터이격되며상기캡층에오믹접촉한드레인전극과, 상기소스전극과상기드레인전극상에위치하고상기게이트리쎄스영역에대응되는개구부를구비하여상기게이트리쎄스영역을노출시키는절연층과, 상기절연층상에서상기소스전극과상기드레인전극사이에위치한제1 전계전극과, 상기절연층상에서상기제1 전계전극과전기적으로연결된게이트전극및 상기기판의제2 면상에제공되며상기비아홀을통해상기활성층과접촉되는제2 전계전극을포함한다.

    Abstract translation: 根据本发明的晶体管包括彼此面对的第一表面分配第二表面的一个实施例的高电子迁移率,通孔具有贯穿该第一表面和第二表面的衬底,所述第一的所述衬底 和设置在所述表面上,其中,所述活性位于所述层上的覆盖层,包括一栅极栗sseseu区域以暴露所述有源层的一部分和定位在所述层上的帽和帽层中的任何一个层的欧姆接触的源电极与所述有源层和在有源层 从源电极在所述帽层并定位在欧姆接触漏电极,源电极和与具有暴露栅极栗sseseu区域对应于栅极栗sseseu面积的开口的帽层的漏电极,间隔开 绝缘层,第一场电极位于所述绝缘层上的源电极和在所述绝缘层和所述第一栅电极连接到所述第一场电极及电漏电极与所述设备之间 议程设置和第二侧面包括第二场电极,其与通过通孔的有源层接触。

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