광 스위칭 소자 및 그의 제조 방법
    13.
    发明公开
    광 스위칭 소자 및 그의 제조 방법 审中-实审
    光开关器件及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020150015965A

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:KR1020130092073

    申请日:2013-08-02

    Inventor: 조중래 유영섭

    CPC classification number: G02F1/19 G02F1/025

    Abstract: 본 발명은 광 스위칭 소자 및 그의 제조 방법에 관한 것이다. 상기 광 스위칭 소자는, 트렌치를 포함하는 기판; 상기 트렌치 내부에 채워진 절연성 물질을 포함하는 하부 클래딩; 상기 하부 클래딩 상에 형성된 광 도파로; 상기 광 도파로 일부 영역 내에 상기 광 도파로의 두께와 동일한 두께로 매립된 상전이 패턴; 상기 상전이 패턴의 양 측면에 각각 형성되어 상기 상전이 패턴과 전기적으로 연결되는 제1 및 제2 슬랩들; 및 상기 기판 및 상기 하부 클래딩 상에 상기 광 도파로, 상기 상전이 패턴, 및 상기 제1 및 제2 슬랩들을 덮도록 형성된 상부 클래딩을 포함할 수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种光开关装置及其制造方法。 光开关元件包括:衬底,包括沟槽; 下部包层,其包括填充在沟槽内部的绝缘材料; 形成在下包层上的光波导; 在所述光波导的厚度处嵌入在所述光波导的一部分上的相变图案; 第一和第二板,分别形成在相转变图案的两个侧表面上以电连接到相变图案; 以及形成在基板和下包层上以覆盖光波导,相变图案以及第一和第二板的上包层。

    저항 디램 소자 및 그 동작 방법
    15.
    发明授权
    저항 디램 소자 및 그 동작 방법 有权
    电阻DRAM动力随机存取存储器件及其操作方法

    公开(公告)号:KR101100422B1

    公开(公告)日:2011-12-30

    申请号:KR1020050007622

    申请日:2005-01-27

    Abstract: 저항 디램(RDRAM) 소자 및 그 동작 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 저항 디램 소자는, 문턱 전압 이상에 저항 변화에 따른 스위칭 특성을 보이는 스토리지 노드용 스위칭 저항체와, 스위칭 저항체로 연결되는 파워를 제어하는 제어 소자를 포함한다. 상기 스위칭 저항체는 인가되는 전압에 따라 흐르는 전류가 히스테레시스 루프를 형성하는 요소이고, TiAlO
    x 로 형성된다. 본 발명에 따른 저항 디램 소자를 이용하면, 2 디지트 이상의 신뢰성 있는 스토리지 기능을 확보하면서도, 집적도를 높일 수 있다.

    비휘발성 메모리 소자
    16.
    发明公开
    비휘발성 메모리 소자 无效
    非易失性存储器件

    公开(公告)号:KR1020110054088A

    公开(公告)日:2011-05-25

    申请号:KR1020090110594

    申请日:2009-11-17

    Inventor: 김덕기 조중래

    Abstract: PURPOSE: A nonvolatile memory device is provided to implement high integration by increasing the number of laminated horizontal electrodes. CONSTITUTION: A plurality of horizontal electrodes(10) are laminated as a plurality of layers. A plurality of vertical electrodes(20) is arranged to have an intersection with the plurality of horizontal electrodes. One data layer is interposed on the intersection and has a metal-insulation property. An anti-fuse layer(40) is serially connected to one data layer. The threshold voltage of one data layer is smaller than the breakdown voltage of the anti-fuse layer.

    Abstract translation: 目的:提供一种非易失性存储器件,通过增加层压水平电极的数量来实现高集成度。 构成:多个水平电极(10)被层叠成多个层。 多个垂直电极(20)布置成与多个水平电极交叉。 一个数据层插在交叉点上并具有金属绝缘性能。 反熔丝层(40)串联连接到一个数据层。 一个数据层的阈值电压小于反熔丝层的击穿电压。

    전기적 퓨즈 소자 및 그의 동작방법
    17.
    发明公开
    전기적 퓨즈 소자 및 그의 동작방법 无效
    电熔丝器件及其操作方法

    公开(公告)号:KR1020100006059A

    公开(公告)日:2010-01-18

    申请号:KR1020080066222

    申请日:2008-07-08

    CPC classification number: H01L23/5252 G11C17/18 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: PURPOSE: An electric fuse device and an operation method thereof are provided to improve programming pre/post resistance ratio and have simple structure and small size. CONSTITUTION: An electric fuse device comprises a fuse(100) and a drive component(200). The drive component is connected to the fuse and comprises a resistance change layer whose resistance is changed according to applied voltage. The resistance change layer has a metal-insulator transition property. The drive component comprises two electrodes and the resistance change layer between the two electrodes.

    Abstract translation: 目的:提供一种电熔丝装置及其操作方法,以提高编程前/后电阻比,结构简单,体积小。 构成:电熔丝装置包括保险丝(100)和驱动部件(200)。 驱动部件连接到保险丝,并且包括其电阻根据施加的电压而改变的电阻变化层。 电阻变化层具有金属 - 绝缘体转移特性。 驱动部件包括两个电极和两个电极之间的电阻变化层。

    메모리 소자의 캐패시터 및 그 제조 방법
    19.
    发明公开
    메모리 소자의 캐패시터 및 그 제조 방법 失效
    存储器件的电容器及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020050105695A

    公开(公告)日:2005-11-08

    申请号:KR1020040030928

    申请日:2004-05-03

    Abstract: 본 발명은 메모리 소자의 캐패시터 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 트랜지스터 구조체를 포함하는 메모리 소자의 캐패시터에 있어서, 상기 트랜지스터 구조체의 불순물 영역 상에 형성되며, 금속 전극 및 금속 산화물 전극을 포함하는 하부 전극; 상기 하부 전극을 둘러싸며 형성된 강유전체층; 및 상기 강유전체층 상에 형성된 상부 전극;을 포함하는 메모리 소자의 캐패시터 및 그 제조 방법을 제공한다. 따라서, 피로 특성이 좋으며, 고집적 반도체 메모리 소자의 구현이 가능하다.

    메탈 실리사이드층 형성방법 및 그 방법을 이용한 반도체 소자의 제조방법
    20.
    发明公开
    메탈 실리사이드층 형성방법 및 그 방법을 이용한 반도체 소자의 제조방법 审中-实审
    制造金属硅酸盐层的方法及使用其制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:KR1020160101517A

    公开(公告)日:2016-08-25

    申请号:KR1020150024237

    申请日:2015-02-17

    Inventor: 조중래

    Abstract: 본발명의기술적사상은콘택저항을최소화할수 있는메탈실리사이드층형성방법및 그방법을이용한반도체소자의제조방법을제공한다. 그메탈실리사이드층형성방법은반도체기판의표면부분에도펀트(dopant)를구비한도핑층을형성하는단계; 상기도핑층상에메탈및 실리콘을증착하여메탈-실리콘복합층을형성하는단계; 및상기메탈-실리콘복합층을실리사이드화(silicidation) 하여메탈실리사이드층을형성하는단계;를포함한다.

    Abstract translation: 本发明的技术思想提供了一种制造金属硅化物层以最小化接触电阻的方法,以及一种使用该方法制造半导体器件的方法。 制造金属硅化物层的方法包括在半导体衬底的表面部分形成具有掺杂剂的掺杂层的步骤; 通过在掺杂层上沉积金属和硅来形成金属 - 硅复合层的步骤; 以及通过在金属 - 硅复合层上进行硅化而形成金属硅化物层的步骤。

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