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公开(公告)号:CN111964655B
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202010679375.0
申请日:2020-07-15
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5614 , G01C19/5621
Abstract: 本发明公开了一种石英音叉陀螺仪数字驱动电路,包括驱动检测电路(2)、驱动信号调理电路(3)、处理器电路(4)、驱动信号调理电路(5);所述驱动检测电路(2)用于将石英音叉传感器(1)由压电效应产生表征驱动叉指位移量的电荷信号转换为电压信号,输出驱动位移信号(11);所述驱动信号调理电路(3)用于将驱动位移信号(11)转换为电平与处理器(4)电平相匹配的驱动检测信号(12);所述处理器电路(4)实现驱动幅值的自动增益控制,产生与驱动位移信号(11)同频率的驱动控制信号(16);所述驱动信号调理电路(5)生成驱动石英音叉传感器的驱动信号(17)。本发明实现了驱动电路小体积、低功耗。
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公开(公告)号:CN114427854A
公开(公告)日:2022-05-03
申请号:CN202210019836.0
申请日:2022-01-10
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种微机电陀螺正交耦合误差抑制电路,包括:C/V转换电路、放大电路、可调移相电路、相敏解调电路、控制器以及反馈加力电路;C/V转换电路根据检测电容阵列产生的电流信号转换成电压信号;放大电路与C/V转换电路连接以放大电压信号;可调移相电路用于相位调整输出解调波;相敏解调电路分别与放大电路和可调移相电路连接以根据放大后的电压信号和解调波进行相敏解调;控制器与相敏解调电路连接以根据相敏解调后的电压信号输出控制信号;反馈加力电路与控制器连接以根据控制信号向微机电陀螺的检测电容阵列输出正交抑制电压。应用本发明的技术方案,能够解决现有技术中微机电陀螺的正交耦合误差大导致微机电陀螺的综合性能降低的技术问题。
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公开(公告)号:CN114322973A
公开(公告)日:2022-04-12
申请号:CN202210019844.5
申请日:2022-01-10
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5776 , G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种MEMS哥氏力陀螺ASIC最优控制参数获取方法,包括:生成初始配置TXT文件;将初始配置TXT文件中的内容写入测试单片机初始化配置函数Cntrl_Ini中;根据初始化配置函数Cntrl_Ini或OTP内部ASIC控制参数进行控制参数的初始化;进行陀螺性能测试试验;判断当前ASIC控制参数是否是最优控制参数,若否,则调整ASIC控制参数重新生成初始配置TXT文件,返回执行将初始配置TXT文件中的内容写入测试单片机初始化配置函数Cntrl_Ini中,直至当前ASIC控制参数为最优控制参数;若是,则将当前ASIC控制参数写入ASIC的OTP中,完成MEMS哥氏力陀螺ASIC最优控制参数的获取。本发明能够在不烧写OTP的前提下,反复尝试不同的陀螺控制参数以获取最优控制参数,实现了ASIC控制参数的灵活、多次配置。
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公开(公告)号:CN112964242A
公开(公告)日:2021-06-15
申请号:CN202110195663.3
申请日:2021-02-22
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5628
Abstract: 本发明提供了一种石英音叉陀螺表头机械耦合误差测试系统及测试方法,该误差测试系统包括石英音叉陀螺表头、安装支架、至少一个机械振动单元、信号采集单元和控制单元,石英音叉陀螺表头与机械振动单元均设置在安装支架上,机械振动单元用于产生机械振动并通过安装支架将机械振动传递给石英音叉陀螺表头,以使石英音叉陀螺表头产生振动并输出驱动模态响应信号和检测模态响应信号。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中机械耦合误差测试系统的测试设备昂贵、存在电信号干扰、测量精度低的技术问题。
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公开(公告)号:CN112697120A
公开(公告)日:2021-04-23
申请号:CN202011431601.X
申请日:2020-12-10
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5621
Abstract: 本发明提供了一种石英音叉陀螺仪开关解调电路,该电路包括:石英音叉传感器;驱动检测电路,驱动检测电路与石英音叉传感器连接,驱动检测电路用于根据电荷信号输出驱动检测信号;幅值控制电路;驱动信号电路;参考信号电路,参考信号电路与驱动检测电路连接,参考信号电路用于根据驱动检测信号生成解调参考信号;角速度检测电路;解调器,解调器分别与角速度检测电路和参考信号电路连接,解调器用于根据解调参考信号、角速度载波信号和角速度载波反相信号生成角速度解调信号;滤波电路。应用本发明的技术方案,能够解决现有技术中石英音叉陀螺仪开关解调电路输出的角速度信号存在额外误差且额外误差随环境温度发生变化的技术问题。
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公开(公告)号:CN110440777B
公开(公告)日:2021-04-02
申请号:CN201910634551.6
申请日:2019-07-15
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5607 , G01C19/5628
Abstract: 本发明提供了一种音叉敏感结构修调在线测试方法及角速率传感器,该方法包括:求取驱动模态的谐振频率;向驱动通道施加激励电压频率值为驱动模态的谐振频率的激励信号以及产生机械耦合解调参考信号幅值;获取机械耦合误差信号幅值以及实际的驱动模态谐振频率;求取激励电压为白噪声下的检测模态的谐振频率;获取实际的检测模态谐振频率;根据实际的驱动模态谐振频率和实际的检测模态谐振频率求取谐振频率差值;判断当前机械耦合误差信号幅值以及谐振频率差值是否满足要求,如果未满足,则进行修调,重复上述步骤,直至修调后的敏感结构满足测试要求。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中无法准确测量音叉敏感结构的耦合误差量的技术问题。
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公开(公告)号:CN110988400A
公开(公告)日:2020-04-10
申请号:CN201911267175.8
申请日:2019-12-11
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种MEMS加速度计组合标定方法及标定装置,该方法包括:设置一可旋转安装板;调整安装板处于水平状态;以MEMS加速度计组合的每个外侧面依次作为安装面将MEMS加速度计组合固定于安装板上,在MEMS加速度计组合通过任意一个外侧面固定于安装板之后采集MEMS加速度计组合的输出;安装板绕水平对称轴依次旋转m个不同角度,在安装板旋转至任意一个角度时重复步骤三,共获得n组MEMS加速度计组合的输出;根据n组MEMS加速度计组合的输出计算MEMS加速度计组合的误差参数,并根据MEMS加速度计组合的误差参数修正MEMS加速度计组合的参数以完成MEMS加速度计组合标定。应用本发明的技术方案,能够解决现有技术中无法在外场试验环节中进行MEMS加速度计组合标定的技术问题。
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公开(公告)号:CN110440798A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201910638589.0
申请日:2019-07-16
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供了一种高精度集成化微惯性测量单元及惯性导航系统,该微惯性测量单元包括:电路模组、柔性部件和安装骨架,电路模组包括综合信息处理电路模块、陀螺电路模块单元和加速度计电路模块单元,柔性部件用于电连接电路模组中的任意两个电路模块以实现电路模组的一体化,电路模组中的七个电路模块一一对应设置在七个安装台面上。应用本发明的技术方案,能够解决现有技术中因陀螺和加速度计的台体构造和互连部件较为复杂所导致的在同等精度条件下微惯性测量单元体积较大的技术问题。
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公开(公告)号:CN120065800A
公开(公告)日:2025-05-30
申请号:CN202411939394.7
申请日:2024-12-26
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供一种谐振式压力传感器数字测控电路,包括传感器芯体、第一芯片单元、第二芯片单元、第三芯片单元和第四芯片单元,其中:第一芯片单元包括自动增益控制模块AGC、锁相环控制模块PLL、SPI以及I2S,其中,AGC包括依次连接的幅值解算模块、控制器1和幅值控制开关S2,PLL包括依次连接的相位解算模块、控制器2、相位控制开关S1和DDS;传感器芯体分别与第二芯片单元和第三芯片单元连接,第一芯片单元运行嵌入式控制软件,实现对芯体的扫频控制和AGC锁相驱动控制,通过数字运算得到控制信号,第一芯片单元控制第三芯片单元生成模拟信号,作为传感器芯体的输入。该方案实现了谐振频率的锁定和输出。
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公开(公告)号:CN115865096B
公开(公告)日:2024-07-09
申请号:CN202211356551.2
申请日:2022-11-01
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: H03M3/00
Abstract: 本发明提供了一种分立式Sigma‑delta电路,该电路包括FPGA芯片、高速开关、载波发生模块以及依次连接的电荷转移模块、前置放大电路、A/D转换单元和解调滤波单元,FPGA芯片分别与高速开关、A/D转换单元和解调滤波单元连接,高速开关分别与载波发生模块、前置放大电路和电荷转移模块连接,载波发生模块与MEMS加速度计的输入端连接,电荷转移模块与MEMS加速度计的输出端连接。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中流片开发周期长、改造难度大并受模拟器件适配影响导致误差较大的技术问题。
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