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公开(公告)号:CN119986043A
公开(公告)日:2025-05-13
申请号:CN202411959667.4
申请日:2024-12-30
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供一种MEMS加速度计测控与补偿电路,所述电路包括ARM芯片、载波发生模块、电荷放大器、前置放大器、A/D转换模块、解调滤波模块以及综合补偿模块;其中,利用ARM芯片控制载波发生模块,生成满足要求的数字合成正弦波;载波发生模块作用于MEMS加速度计上,加速度计敏感到的加速度信息被调制在载波发生模块中产生的正弦载波上,信号经过电荷放大器转换为电压信号,再经过前置放大变成强信号,该强信号被ARM芯片控制的A/D转换模块转换为数字信号,数字信号经过解调滤波模块后,经过综合补偿模块,得到最终的加速度输出。该方案可以根据不同的加速度计表头补偿各类误差,使得加速度计能够在一定的量程范围内稳定输出。
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公开(公告)号:CN119827798A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202411943489.6
申请日:2024-12-27
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01P21/00
Abstract: 本发明提供一种MEMS加速度计标度因数批量化测试装置及方法,装置包括离心机和多个测试工装,离心机具有离心机圆盘,多个测试工装沿离心机圆盘的周向均匀间隔设置在圆盘面上,其中,每两个对称测试工装为一组,测试工装包括:固定底板、测试电路转接工装、加速度计固定装置和测试电路板,固定底板固定设置在圆盘上,测试电路转接工装为两个,对称间隔固定在固定底板上,测试电路板固定设置在两个转接工装上,加速度计通过加速度计固定装置设置在测试电路板上并与测试电路板电气联结。本发明通过使用特定的批量测试工装和计算方法,同时完成多只加速度计的标度因数对称性测试。
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公开(公告)号:CN117949012A
公开(公告)日:2024-04-30
申请号:CN202311828547.6
申请日:2023-12-27
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
Abstract: 本发明提供一种基于ARM的MEMS器件标度因数补偿系统,该系统包括ARM芯片、A/D转换模块、标度因数补偿模块和标准信息输出模块,其中,所述ARM芯片控制所述A/D转换模块采集MEMS器件未补偿前输出的传感器信息,并将该传感器信息采集进入ARM芯片,所述A/D转换模块将传感器信息转换之后输出至所述标度因数补偿模块,所述标准信息输出模块输出加速度/角速率标准信息至所述标度因数补偿模块,所述标度因数补偿模块根据其输入进行标度因数补偿。该技术方案可以根据不同的MEMS器件类型修正其标度因数误差,使得在MEMS器件规定的工作温度范围内标度因数能够满足要求的误差范围。
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公开(公告)号:CN116448141A
公开(公告)日:2023-07-18
申请号:CN202211163273.9
申请日:2022-09-23
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供一种惯性仪表震荡元件多模态及Q值测试方法及系统,包括:输出白噪声至测试电路以激励震荡元件,并采集对应的输出信号;对输出信号进行FFT处理;当提取到谐振频率信息时,则输出频率为谐振频率的正弦信号至测试电路以激励使震荡元件使其发生谐振;在谐振状态达到稳定后撤掉正弦信号;采集撤掉正弦信号后输出的自由衰减信号;根据自由衰减信号获取Q值;切换测试通道,重复步骤,测试另一模态的Q值。该技术方案通过非扫频方法及自动化测试,先测谐振频率再测Q值,可有效减少测试时间,快速对表头性能进行初步评价和筛选。
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公开(公告)号:CN119997382A
公开(公告)日:2025-05-13
申请号:CN202411939218.3
申请日:2024-12-26
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: H05K3/22 , H05K5/06 , H05K5/02 , H05K7/14 , H05K5/03 , H05K1/18 , F16F15/08 , F16F15/02 , G01C21/16
Abstract: 本发明提供一种用于微惯性单元的耐高温抗过载灌封方法,该方法包括:步骤一、先用有机硅胶对电路组件中的陀螺芯片和加速度计芯片进行包裹涂覆;步骤二:将外壳固定在加热台上,再将环氧胶匀速注入外壳,核对灌封量和灌胶状态达到要求后,再将外壳从加热台上取下;步骤三:将外壳固定在振动仪上或者真空腔内,通过振动或者真空的形式对其进行脱泡处理;步骤四:将脱泡后的外壳放到高温固化箱中,待环氧胶完全凝固硬化后取出。本发明在保证精度不受损的前提下,提高了微惯性单元的抗过载能力。
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公开(公告)号:CN115865096B
公开(公告)日:2024-07-09
申请号:CN202211356551.2
申请日:2022-11-01
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: H03M3/00
Abstract: 本发明提供了一种分立式Sigma‑delta电路,该电路包括FPGA芯片、高速开关、载波发生模块以及依次连接的电荷转移模块、前置放大电路、A/D转换单元和解调滤波单元,FPGA芯片分别与高速开关、A/D转换单元和解调滤波单元连接,高速开关分别与载波发生模块、前置放大电路和电荷转移模块连接,载波发生模块与MEMS加速度计的输入端连接,电荷转移模块与MEMS加速度计的输出端连接。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中流片开发周期长、改造难度大并受模拟器件适配影响导致误差较大的技术问题。
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公开(公告)号:CN117686003A
公开(公告)日:2024-03-12
申请号:CN202311567308.X
申请日:2023-11-22
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供一种数字输出陀螺仪相频特性测试方法及系统,方法包括:利用角振动台产生基准角振动运动并同时输出相关的模拟基准角速度信号;将陀螺仪设置在角振动台上;将角振动台输出的模拟基准角速度信号转换为方波信号;根据所述方波信号下降沿记录角振动台基准信号零相位时间t11、t12……;在接收到陀螺仪输出的角速度信号时记录每一帧数据接收时间,并取接收到的角速度信号绝对值最小值对应时间为陀螺仪输出信号的零相位时间t31、t32……;基于所述基准信号零相位时间和陀螺仪输出信号的零相位时间解算相位延迟信号。本发明不会引入额外延时误差,且同步系统设计简单,同时保证了数字输出陀螺仪相频特性的精确测量。
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公开(公告)号:CN114322973B
公开(公告)日:2023-06-13
申请号:CN202210019844.5
申请日:2022-01-10
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5776 , G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种MEMS哥氏力陀螺ASIC最优控制参数获取方法,包括:生成初始配置TXT文件;将初始配置TXT文件中的内容写入测试单片机初始化配置函数Cntrl_Ini中;根据初始化配置函数Cntrl_Ini或OTP内部ASIC控制参数进行控制参数的初始化;进行陀螺性能测试试验;判断当前ASIC控制参数是否是最优控制参数,若否,则调整ASIC控制参数重新生成初始配置TXT文件,返回执行将初始配置TXT文件中的内容写入测试单片机初始化配置函数Cntrl_Ini中,直至当前ASIC控制参数为最优控制参数;若是,则将当前ASIC控制参数写入ASIC的OTP中,完成MEMS哥氏力陀螺ASIC最优控制参数的获取。本发明能够在不烧写OTP的前提下,反复尝试不同的陀螺控制参数以获取最优控制参数,实现了ASIC控制参数的灵活、多次配置。
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公开(公告)号:CN115523911A
公开(公告)日:2022-12-27
申请号:CN202211163447.1
申请日:2022-09-23
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01C19/5614 , G01C25/00
Abstract: 本发明提供一种用于石英音叉陀螺温度自适应补偿方法及系统。包括:获取零位全温测试数据和标度因数全温测试数;设计零位自适应温度补偿模型和标度因数自适应补偿模型;根据零位温度补偿模型使用自适应温度分段方法获取多个零位温度补偿参数;根据标度因数自适应补偿模型获取多个标度因数补偿参数;根据零位温度补偿参数将实时陀螺角速率信号经过零位补偿算法进行零位温度补偿,然后再根据标度因数补偿参数进行标度因数温度补偿并输出。与现有技术相比,本发明的技术方案能够解决现有技术中石英音叉陀螺温度补偿存在的补偿精度有限的技术问题。
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公开(公告)号:CN115389783A
公开(公告)日:2022-11-25
申请号:CN202210995699.4
申请日:2022-08-18
Applicant: 北京自动化控制设备研究所
IPC: G01P21/00
Abstract: 本发明提供了一种基于ARM的加速度计非线性补偿电路及补偿方法,该补偿电路包括ARM芯片、标准离心输出模块、载波发生模块以及依次连接的信号处理模块、A/D转换模块、解调滤波模块和非线性补偿模块,载波发生模块与加速度计的输入端连接,信号处理模块与加速度计的输出端连接,非线性补偿模块与标准离心输出模块连接,ARM芯片分别与载波发生模块、A/D转换模块以及非线性补偿模块连接,ARM芯片中包含多种补偿算法。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中补偿算法单一、补偿效果较差且无法实时在线补偿的技术问题。
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