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41.
公开(公告)号:WO2007084982A2
公开(公告)日:2007-07-26
申请号:PCT/US2007060767
申请日:2007-01-19
Applicant: IBM , COOLBAUGH DOUGLAS D , DOWNES KEITH E , LINDGREN PETER J , STAMPER ANTHONY K
Inventor: COOLBAUGH DOUGLAS D , DOWNES KEITH E , LINDGREN PETER J , STAMPER ANTHONY K
IPC: H01L21/8242 , H01L21/20 , H01L21/302 , H01L21/4763
CPC classification number: H01L23/481 , H01L21/76808 , H01L21/76813 , H01L21/76832 , H01L23/5223 , H01L28/60 , H01L2221/1036 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: A method and semiconductor device. In the method, at least one partial via (26) is etched in a stacked structure and a border (32) is formed about the at least one partial via (26). The method further includes performing thick wiring using selective etching while continuing via etching to at least one etch stop layer (22).
Abstract translation: 一种方法和半导体器件。 在该方法中,在堆叠结构中蚀刻至少一个部分通孔(26),并且围绕至少一个部分通孔(26)形成边界(32)。 该方法进一步包括使用选择性蚀刻执行厚布线,同时经由蚀刻继续至少一个蚀刻停止层(22)。
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42.
公开(公告)号:BR112012017627A2
公开(公告)日:2016-04-12
申请号:BR112012017627
申请日:2011-01-12
Applicant: IBM
Inventor: STAMPER ANTHONY K , SPROGIS EDMUND J , LINDGREN PETER J , HERRIN RUSSELL T
IPC: H01L21/768
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43.
公开(公告)号:DE112012004719T5
公开(公告)日:2014-08-07
申请号:DE112012004719
申请日:2012-08-14
Applicant: IBM
Inventor: HARAME DAVID L , STAMPER ANTHONY K
IPC: H03H9/54
Abstract: Es werden akustische Bulk-Wellen-Filter und/oder akustische Bulk-Resonatoren, die mit CMOS-Einheiten kombiniert sind, Verfahren zur Herstellung sowie eine Entwurfsstruktur bereitgestellt. Das Verfahren beinhaltet ein Bilden eines einkristallinen Trägers (18) aus einer Siliciumschicht (14) auf einem Isolator (12). Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Bereitstellen einer Beschichtung aus einem Isolatormaterial (22) über dem einkristallinen Träger. Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Bilden eines Durchkontakts (34a) durch das Isolatormaterial hindurch, wobei ein Wafer (10) freigelegt wird, der unter dem Isolator liegt. Das Isolatormaterial verbleibt über dem einkristallinen Träger. Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Bereitstellen eines Opfermaterials (36) in dem Durchkontakt und über dem Isolatormaterial. Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Bereitstellen einer Kappe (38) auf dem Opfermaterial. Das Verfahren beinhaltet des Weiteren ein Abführen des Opfermaterials und eines Anteils des Wafers unter dem einkristallinen Träger durch die Kappe hindurch, um einen oberen Hohlraum (42a) oberhalb des einkristallinen Trägers und einen unteren Hohlraum (42b) in dem Wafer unterhalb des einkristallinen Trägers zu bilden.
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公开(公告)号:GB2494360B
公开(公告)日:2013-09-18
申请号:GB201300091
申请日:2011-06-08
Applicant: IBM
Inventor: DUNBAR GEORGE A , HE ZHONG-XIANG , MURPHY WILLIAM J , STAMPER ANTHONY K , MALING JEFFREY C
IPC: B81C1/00
Abstract: A method of forming at least one Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) includes patterning a wiring layer to form at least one fixed plate and forming a sacrificial material on the wiring layer. The method further includes forming an insulator layer of one or more films over the at least one fixed plate and exposed portions of an underlying substrate to prevent formation of a reaction product between the wiring layer and a sacrificial material. The method further includes forming at least one MEMS beam that is moveable over the at least one fixed plate. The method further includes venting or stripping of the sacrificial material to form at least a first cavity.
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公开(公告)号:GB2499308A
公开(公告)日:2013-08-14
申请号:GB201300243
申请日:2013-01-08
Applicant: IBM
Inventor: JAFFE MARK DAVID , ADKISSON JAMES WILLIAM , STAMPER ANTHONY K , WOLF RANDY LEE , CANDRA PANGLIJEN , GAMBINO JEFFERY P , DUNBAR THOMAS J
Abstract: The fingers 22 of a movable electrode of an interdigital transducer (IDT) lie in a cavity above the piezoelectric layer 12 and are moved down to contact the layer 12, between the fingers 14 of a fixed electrode, by applying voltages to electrostatic actuator electrodes 16 or 24. Alternatively, the movable fingers 22 may be formed just above the layer 12 and the actuators used to move the fingers away from the layer 12 or to apply a downward pull-in contact force. The technique allows the switching into circuit of SAW filters without incurring the insertion loss caused by FET switches, or a reduction in Q factor. A SAW filter arrangement may be set to a desired frequency by activating or deactivating selected SAW filters.
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46.
公开(公告)号:DE112011102135T5
公开(公告)日:2013-05-02
申请号:DE112011102135
申请日:2011-06-08
Applicant: IBM
Inventor: DOAN THAI , DUNBAR GEORGE A , HE ZHONG-XIANG , HERRIN RUSSELL T , JAHNES CHRISTOPHER V , MALING JEFFREY C , DANG DINH , MURPHY WILLIAM J , TWOMBLY JOHN G , STAMPER ANTHONY K , WHITE ERIC J
Abstract: Es werden Strukturen mikroelektromechanischer Systeme (MEMS) mit planarem Hohlraum, Herstellungsverfahren und Design-Strukturen bereitgestellt. Das Verfahren weist das Bilden mindestens eines Hohlraums (60a, 60b) eines mikroelektromechanischen Systems (MEMS), welcher eine planare Fläche aufweist, unter Anwendung eines reversen Damaszener-Verfahrens auf.
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47.
公开(公告)号:DE112011102134T5
公开(公告)日:2013-04-04
申请号:DE112011102134
申请日:2011-06-08
Applicant: IBM
Inventor: HERRIN RUSSELL T , JAHNES CHRISTOPHER V , STAMPER ANTHONY K , WHITE ERIC J
Abstract: Ein Verfahren zum Bilden mindestens eines Hohlraums (60b) eines mikroelektromechanischen Systems (MEMS) weist das Bilden einer ersten Hohlraum-Opferschicht (18) über einer Verdrahtungsschicht (14) und einem Substrat (10) auf. Das Verfahren weist ferner das Bilden einer Isolatorschicht (40) über der ersten Hohlraum-Opferschicht auf. Das Verfahren weist ferner das Durchführen eines reversen Damaszener-Rückätzverfahrens auf der Isolatorschicht auf. Das Verfahren weist ferner das Planarisieren der Isolatorschicht und der ersten Hohlraum-Opferschicht auf. Das Verfahren weist ferner das Austreiben oder Ablösen der ersten Hohlraum-Opferschicht zu einer planaren Fläche für einen ersten Hohlraum (60b) des MEMS auf.
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公开(公告)号:GB2494824A
公开(公告)日:2013-03-20
申请号:GB201300040
申请日:2011-06-15
Applicant: IBM
Inventor: STAMPER ANTHONY K , JAHNES CHRISTOPHER VINCENT
Abstract: A method of forming a Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) includes forming a lower electrode on a first insulator layer within a cavity of the MEMS. The method further includes forming an upper electrode over another insulator material on top of the lower electrode which is at least partially in contact with the lower electrode. The forming of the lower electrode and the upper electrode includes adjusting a metal volume of the lower electrode and the upper electrode to modify beam bending.
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公开(公告)号:DE112010003412T5
公开(公告)日:2012-08-16
申请号:DE112010003412
申请日:2010-08-12
Applicant: IBM
Inventor: STAMPER ANTHONY K , ANDERSON FELIX P , MCDEVITT THOMAS L
IPC: B81C1/00
Abstract: Integrierte MEMS-Schalter, Entwicklungsstrukturen und Verfahren zum Herstellen solcher Schalter werden bereitgestellt. Zu dem Verfahren gehört das Bilden wenigstens eines Vorsprungs (32a) von Opfermaterial (36) auf einer Seite einer Schalteinheit (34), die von dem Opfermaterial umgeben ist. Das Verfahren enthält ferner das Entfernen des Opfermaterials durch wenigstens eine Öffnung (40), die auf delteinheit gebildet wird, und das Verschließen der wenigstens einen Öffnung mit einem Deckmaterial (42).
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公开(公告)号:CA2708207A1
公开(公告)日:2009-08-20
申请号:CA2708207
申请日:2009-02-11
Applicant: IBM
Inventor: LINDGREN PETER J , SPROGIS EDMUND J , STAMPER ANTHONY K , STEIN KENNETH J
IPC: H01L23/48
Abstract: A through substrate (10) via includes an annular conductor layer at a periphery of a through substrate (10) aperture, and a plug layer (24) surrounded by the annular conductor layer. A method for fabricating the through substrate (10) via includes forming a blind aperture within a substrate (10) and successively forming and subsequently planarizing within the blind aperture a conformal conductor layer (20) that does not fill the aperture and plug layer (24) that does fill the aperture. The backside of the substrate (10) may then be planarized to expose at least the planarized conformal conductor layer. (20)
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