Abstract:
공급 노즐로 처리액을 공급하기 위한 공급 유로에 설치된 차압식 유량계의 유량의 계측치가 참값에서 이탈된 것을 용이하게 검지할 수 있는 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치를 제공한다. 처리액을 공급하는 공급 유로에 설치된 차압식 유량계를 개재하여 접속된 공급 노즐에 의해 기판에 처리액을 공급하고, 공급된 처리액에 의해 기판을 처리하는 기판 처리 방법에 있어서, 기판으로 처리액을 공급하지 않을 때 공급 유로 내의 압력치를 차압식 유량계 내의 압력 계측부에 의해 계측하는 계측 공정(S15)과, 계측 공정(S15)을 행하여 계측한 압력치와 소정의 압력치를 비교함으로써 압력 계측부가 정상적으로 동작하고 있는지를 판정하는 판정 공정(S16)과, 판정 공정(S16)에서 압력 계측부가 정상적으로 동작하고 있다고 판정했을 때 기판으로 처리액을 공급하는 공급 공정(S11)을 가진다.
Abstract:
본 발명은, 제1 처리액 및 제2 처리액을 확실하게 분리하여 회수하고, 피처리 기판 상에 워터마크나 파티클 등의 결함이 생기는 것을 확실하게 방지하는 것을 과제로 한다. 액처리 장치(1)는, 기판 유지 기구(20)와, 제1 처리액 및 제2 처리액을 공급하는 처리액 공급 기구(30)와, 회전 컵(61)과, 회전 컵(61)의 제1 받이면(61a)에서 받은 제1 처리액 및 제2 처리액을 각각 배출하는 외측 배출부(15) 및 내측 배출부(16)와, 외측 배출부(15)를 개폐하는 배출부 개폐 기구(34)를 구비하고 있다. 회전 컵(61)의 제1 받이면(61a)의 하단(61b)은, 기판 유지 기구(20)에 의해서 유지된 피처리 기판(W)보다 아래쪽으로 연장되어 있다. 배출부 개폐 기구(34)가 상승한 경우, 제1 처리액은 외측 배출부(15)를 향해서 배출되고, 배출부 개폐 기구(34)가 하강한 경우, 제2 처리액은 내측 배출부(16)를 향해서 배출된다.
Abstract:
The purpose of the present invention is to move a processing liquid supply nozzle of a substrate processing apparatus having a first processing unit and a second processing unit which is formed on the first processing unit to a suitable position according to performed processing. The substrate processing apparatus (100) of the present invention comprises the processing liquid supply nozzle (40) which supplies a second processing liquid for second liquid processing to the lower part of a substrate (W) and a nozzle elevating tool (44) for elevating the processing liquid supply nozzle. The processing liquid supply nozzle is positioned on a descending position when first liquid processing is performed in the first processing unit (1) and the processing liquid supply nozzle is positioned on an ascending position higher than the descending position when the second liquid processing is performed in the second processing unit (2).
Abstract:
본 발명은 기판의 위쪽에서의 미스트 발생을 억제할 수 있는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 기판을 수평으로 유지하고, 기판과 함께 회전 가능한 기판 유지부(2)와, 기판 유지부(2)를 회전시키는 회전 기구와, 기판에 처리액을 공급하는 처리액 공급 기구와, 기판 유지부(2)의 외측에, 이 기판 유지부(2)에 유지된 기판을 둘러싸도록 설치되며, 기판 유지부(2)와 함께 회전하고, 회전하는 기판으로부터 떨어져 나간 처리액을 받는 벽부(32)를 갖는 회전컵(4)과, 회전컵(4)의 외측에, 이 회전컵(4) 및 기판 유지부(2)를 둘러싸도록 설치되며, 회전하는 기판으로부터 떨어져 나간 처리액을 수용하는 환상의 액 수용부(56)와, 이 환상의 액 수용부(56)보다도 내측에 설치된 내측 환상 공간(99b)을 구비한 배기 및 배액컵(201)과, 배기 및 배액컵(201)의 내측 환상 공간(99b)에 접속된 배기 기구(200)를 구비한다.
Abstract:
PURPOSE: A liquid processing apparatus including a speed controller, a method for controlling the liquid processing apparatus, and a computer readable storage medium are provided to prevent liquid from leaking into a liquid supplying unit. CONSTITUTION: A supplying unit supplies liquid to a substrate held by a substrate holding unit. A supply tube supplies the liquid to a liquid supplying unit(40). A supplying valve(52) is installed in a supplying tube and controls the supply of the liquid. A speed controller(52c) controls the switching speed of the supplying valve. A drain pipe(53) is branched from the supply tube. A first switching valve is installed in the drain pipe. [Reference numerals] (A1,A2,A3,A4) High pressure gas
Abstract:
PURPOSE: A substrate liquid processing apparatus and a substrate liquid processing method are provided to reduce the size of the substrate liquid processing apparatus by separating processing solutions from the atmosphere in a collecting cup to omit a gas-liquid separating device. CONSTITUTION: A substrate rotating device(23) rotates a griped substrate(2). A processing solution supply device(24) selectively supplies various kinds of processing solutions to the substrate. A collecting cup(56) collects the processing solutions supplied to the substrate. Liquid collecting units(61,62,63) are formed in the collecting cup to collect the processing solutions. Discharge parts(64,65,66) discharge the processing solutions collected from a solution collecting unit. Exhaust parts(70,71) are formed on the upper side of the discharge part.
Abstract:
PURPOSE: A substrate liquid processing apparatus, a substrate liquid processing method, and a storage medium having substrate liquid processing program stored therein are provided to prevent the electrostatic destruction by discharging the electric charges charged on a substrate through a chuck for maintaining the substrate. CONSTITUTION: A first processing liquid discharge unit discharges the processing liquid to the circuit-forming surface of a substrate(2). A second processing solution discharge unit(25) discharges the processing liquid to the opposite side of the circuit-forming surface of the substrate. A control unit(26) controls the substrate maintaining unit and the first and the second processing solution discharge unit.