Abstract:
본 발명은 반송자 선택형 태양전지에 관한 것이고, 또한 이러한 반송자 선택형 태양전지의 제조 방법에 관한 것이다. 이종접합 태양전지 제작에서 고효율화로 가면 갈수록 물질 간의 일함수 차이에 의한 특성이 하락한다는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명에서는 MoOx 물질을 적용하여 이종접합 태양전지를 제작하여 낮은 광 흡수와 높은 일함수로 인한 계면 특성 향상으로 인한 태양전지 에너지 변환 효율 향상 효과를 제공하고자 한다.
Abstract:
본 발명은 전하 선택 접합형(Carrier Selective Contact) 태양전지의 제작 공정 중, 터널링 특성을 갖는 아주 얇은 실리콘 산화막 성장 시 공정 조건의 최적화를 통해 산화막의 박막 내 전하의 극성(Positive, Negative)을 제어할 수 있고, 이를 이용하여 전자 선택 접합층(Electron Selective Contact Layer, ESCL) 및 정공 선택 접합층(Hole Selective Contact Layer, HSCL)에서의 전하 수집율을 증가시켜 전하선택접합형 태양전지의 출력특성을 향상시킬 수 있는 기술이다.
Abstract:
본 발명은 패턴화된 태양전지용 유리기판을 제조하는 방법 및 패턴화된 태양전지용 유리기판을 이용한 태양전지 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴화된 태양전지용 유리기판을 제조하는 방법은, 유리 기판을 준비하는 단계; 상기 유리 기판 상에 마스크층을 증착하는 단계; 상기 마스크층 상에 포토레지스트를 코팅하는 단계; 상기 포토레지스트 상에 패턴이 형성된 마스크를 위치시키고 포토리소그래피 공정을 통해 패터닝하는 단계; 패터닝된 포토레지스트를 마스크로 이용하여 상기 마스크층을 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 포토레지스트를 제거하고, 상기 패터닝된 마스크층을 이용하여 유리 기판의 표면 부분을 식각하여 상기 유리 기판의 표면에 요철을 형성하는 단계; 및 상기 마스크층을 제거하는 단계를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A method for forming a selective emitter layer using an etchant protecting layer is provided to prevent the selective emitter layer from being damaged by performing a wet-etching process. CONSTITUTION: A first conductive substrate is prepared (S10). A second conductive emitter layer is formed on the upper surface of the first conductive substrate (S20). An etchant protecting layer is patterned and deposited on the second conductive emitter layer (S30). The second conductive emitter layer is selectively wet-etched (S40). The etchant protecting layer is removed from the surface of the first conductive substrate (S50). [Reference numerals] (S10) Step where a first conductive substrate is prepared; (S20) Step where a second conductive emitter layer is formed on the upper surface of the first conductive substrate using an impurity with an opposite type of the first conductive substrate through an ion injection & diffusion process; (S30) Step where an etchant protecting layer is patterned and deposited on the second conductive emitter layer; (S40) Step where the second conductive emitter layer is selectively wet-etched with a wet etchant; (S50) Step where the etchant protecting layer is removed; (S60) Step where an anti-reflection layer is formed on the surface of the substrate; (S70) Step where electrodes are formed on the highly-doped emitter layer and the back of the substrate